MFS2633的FCCU功能如何使用？ 请问MFS2633的PIN.17 FCCU1与PIN.18 FCCU2是如何使用的？两个Pin脚的输入值会构成真值表，引发芯片的不同保护措施？ Re: MFS2633的FCCU功能如何使用？ 你好，里约！ MFS2633 上的 FCCU1（引脚 17）和 FCCU2（引脚 18）是用于接收来自连接的 MCU 的故障信号的数字输入。它们是 FS26 故障保护状态机的 MCU 监控接口的一部分。 它们直接连接到 MCU 的 FCCU 错误输出引脚（例如，S32K3xx MCU 的 FCCU_EOUT[0:1] 或 FSP 输出）。FS26 监控这些输入，当检测到故障情况时，会发出配置的功能安全输出（FS0B 和/或 RSTB）。 在 FS26 初始化阶段，通过 FS_I_SAFE_INPUTS 寄存器中的 FCCU_CFG[2:0] 位选择监视模式。 可用的模式有： 在最常见的汽车应用中——双稳态（配对）模式——这两个引脚作为互补对工作，而不是作为产生不同反应的独立输入。FS26 预期： 正常/安全状态：FCCU1 = 高电平 (1)，FCCU2 = 低电平 (0) 故障状态：FCCU1 = 低电平 (0) 或 FCCU2 = 高电平 (1) 任何偏离预期正常状态的情况都会触发预设的故障响应。默认故障极性为： FCCU1 = 0 or FCCU2 = 1 is a fault 。该极性可通过 FCCU12_FLT_POL 进行配置。 功能安全反应（其钳位）不会因 FCCU1/FCCU2 等级的具体组合而有所不同。对于检测到的任何故障，反应都是相同的，但可以使用 FCCU12_FS_REACTION 、 FCCU1_FS_REACTION 和 FCCU2_FS_REACTION 位对每个引脚进行独立配置。 检测到故障时，默认反应是将 RSTB 和 FS0B 都置低。如果您希望启用故障恢复策略（MCU 在不复位的情况下处理故障），则必须将响应更改为仅 FS0B。 BRs，托马斯

MCIMX8Qでシリアルコンソールが使えず、Linuxも起動できません!XP-CPU(Si B0) - UART上ではゴミ仕様のみ こんにちは、 MCIMX8QXP-CPU（シリコンリビジョンB0）ボードの起動に問題が発生しています。 ハードウェア： MCIMX8QXP-CPU (Si B0) MCIMX8-8X-BB ベースボード IMX-LVDS-HDMIアダプターをJ1に接続 キットに付属していたオリジナルの16GB SDカード また、公式Linux BSP(L6.18.20/MX8QXPC0イメージ)で新しくフラッシュした32GBのSDカードも試しました。 問題： シリアルコンソール（J11）には、115200 8N1 の位置に常にゴミ文字（□□□□）のみが表示されます。 複数のCOMポートを試しました 異なる端末ソフト(PuTTY、Docklight)を試しました 2台の異なるWindowsノートPCで試しました 最新のFTDI VCPドライバーをインストールしました オリジナルのSDカードと新たに書き込んだカードで同じ結果になった。 UUUはシリアルダウンロードモード（SW2 = 1000）ではボードを検出しません。uuu -lsusb を実行してもデバイスが表示されません。ダウンロードモードではデバイスマネージャーにボードが表示されません。 HDMI – まだディスプレイ出力はありません(J1のIMX-LVDS-HDMIを使用中)。 ブートスイッチが試した: SDブート: SW2 = ON ON OFF OFF シリアルダウンロード: SW2 = ON OFF OFF OFF eMMC: SW2 = OFF ON OFF OFF 私が既に行ったこと： Balena EtcherとRufusを使用して公式の.Sdcardイメージをフラッシュしました。 SDカードがJ12に正しく挿入されていることを確認しました。 中古のオリジナル電源 デバッグポート用の複数のUSBケーブルを確認しました どなたかアドバイスをいただけませんか: Si B0ボードのデバッグUARTに関して、既知の問題はありますか？ コンソール出力をきれいに表示させるための追加手順はありますか？ ボードの復旧／正常性を確認するための推奨方法は？    HW-Open-Source i.MX 8ファミリ | i.MX 8QuadMax (8QM) | 8QuadPlus

Plans for Mbed TLS 4.x / PSA Crypto driver support for SE05x in Plug & Trust Middleware? Hello, does NXP plan to integrate support for Mbed TLS 4.x in the Plug & Trust Middleware? SE050 Re: Plans for Mbed TLS 4.x / PSA Crypto driver support for SE05x in Plug & Trust Middleware? Hi @ph-yac , Mbed TLS 4.x is being considered for the Q1 2027 release. Have a great day, Kan ------------------------------------------------------------------------------- Note: - If this post answers your question, please click the "Mark Correct" button. Thank you! - We are following threads for 7 weeks after the last post, later replies are ignored Please open a new thread and refer to the closed one, if you have a related question at a later point in time. -------------------------------------------------------------------------------

U-Boot USB ID とメインラインにおける回帰/バグ こんにちは、 U-Bootのlf-6.18.20-2.0.0ブランチで「コミットa5c91319731f(「MLK-25803-2: Update VID/PID」)は、USBユーザー全員に回帰を導入します。 設定から値を取得するのではなく、USB製品IDを強制的に入力します。これは、0x0151以外の値を使用しているすべてのボードを破損させます。 この問題は、NXP製以外のボード（NXP製SoCを使用しているボード）でこのU-Bootブランチを使用した場合に発生します。 この値は設定ファイルから取得する必要があり、ハードコーディングしてはいけません。 次のパッチで問題が解決しますが、あなたの支店にも適用できますか? 「`」 diff --git a/arch/arm/mach-imx/spl.c b/arch/arm/mach-imx/spl.c インデックス 165cc82d9c72..46e26d138cf9 100644 --- a/arch/arm/mac-imx/spl.c +++ b/arch/arm/mach-imx/spl.c @@ -199,7 +199,7 @@ int g_dnl_bind_fixup(struct usb_device_descriptor *dev, const char *name) snprintf(serial_string, sizeof(serial_string), "%08x%08x", serialnr.high,シリアル番号.low); g_dnl_set_serialnumber(serial_string); #endif - put_unaligned(0x0151, &dev->idProduct); + put_unaligned(CONFIG_USB_GADGET_PRODUCT_NUM + 0xfff, &dev->idProduct); 0を返す。 } 「`」 Re: Regression/bug in U-Boot USB ID vs mainline 問題は、あなたが先ほど説明したNXP製品に関する具体的なニーズではありません。問題は、コードに数字をハードコーディングすることで、ユーザーがkconfigから設定できず、実質的に回帰を生み出せないことです。 その変更は、異なるニーズを持つ既存ユーザーを無視し、動作するユースケースを積極的に壊すことです。コードの中のgrepでgrep CONFIG_USB_GADGET_PRODUCT_NUMすれば、この問題が壊れている複数のユースケースがわかります。 回帰バグを引き起こさない、別の解決策が必要です。 Re: Regression/bug in U-Boot USB ID vs mainline こんにちは、 この変更は意図的なものであった。 VID 0x525とPID 0xa4a5すでにPLX Technology, Inc.として登録されています。 Linux-USBファイルバックアップストレージガジェット しかし、fastboot デバイスはマスストレージデバイスではありません。Windows 10 の最新アップデートは既に上記の vid/pid をキャッシュしています。 Freescale VID 0x1fc9を使用するように変更します。 PID 0x151、SPL SDP HIDダウンロード用 PID 0x152、Fastboot用 PID 0x153、カーネル高速起動用 uuuを1.4.182以上にアップデートする必要があります

MFS2633のFCCU機能の使い方は？ MFS2633のPIN.17 FCCU1とPIN.18 FCCU2はどのように使用されますか？これらの2つのピンの入力値はどのような真理値表を形成し、チップのさまざまな保護機能をトリガーしますか？ Re: MFS2633的FCCU功能如何使用？ こんにちはリオ、 MFS2633上のFCCU1(PIN 17)とFCCU2(PIN 18)は、接続されたMCUからの故障信号を受信するためのデジタル入力です。これらはFS26フェイルセーフステートマシンのMCU監視インターフェースの一部です。 これらはMCUのFCCUエラー出力ピン(例:S32K3xxのFCCU_EOUT[0:1]やFSP出力)に直接接続されます。FS26はこれらの入力を監視し、故障状態が検出されると、設定されたセーフティ出力(FS0Bおよび/またはRSTB)を主張します。 監視モードは、FS26の初期化フェーズ中に FS_I_SAFE_INPUTS レジスタの FCCU_CFG[2:0] ビットによって選択されます。 利用可能なモードは以下のとおりです。 最も一般的なオートモーティブ実装であるバイスタッフル(ペアモード)では、2つのピンは相補的なペアとして動作し、異なる反応を生み出す独立した入力としてはなりません。FS26は以下を期待しています。 正常／安全状態：FCCU1 = HIGH（1）、FCCU2 = LOW（0） 故障状態：FCCU1 = LOW (0) または FCCU2 = HIGH (1) 想定される正常状態からの逸脱はすべて、設定された障害反応を引き起こします。デフォルトの障害極性は、 FCCU1 = 0 or FCCU2 = 1 is a fault 。この極性は FCCU12_FLT_POL で設定可能です。 セーフティ反応(どの出力が主張されるか)は、FCCU1/FCCU2レベルの特定の組み合わせによって違いはありません。反応は検出された故障に対して同じですが、 FCCU12_FS_REACTION ビット、 FCCU1_FS_REACTION ビット、 FCCU2_FS_REACTION ビットを使ってピンごとに独立して設定できます。 デフォルトの動作は、障害が検出された場合、RSTBとFS0Bの両方をローレベルにすることです。故障回復戦略(MCUがリセットせずに故障を処理する方法)を有効にしたい場合は、リアクションをFS0Bのみに変更する必要があります。 BRs、トーマス

LAN96455F Ethernet Switch Integration with i.MX95 – Device Tree Guidance Hi NXP team, We're integrating a Microchip LAN96455F Ethernet switch (LAN9645x family) onto a custom i.MX95 19x19 LPDDR5 board (based on imx95-19x19-evk.dts), and would appreciate guidance on the correct device tree integration

NXP S32K312 CAN0 – FIRC vs. FXOSC Clock Source Causing CAN Errors Hi everyone, I am using CAN0 on the S32K312 at 500 kbps with an 87.5% sampling point. Initially, I set up CAN0 to use the internal FIRC_CLK as the clock source. When I connected the S32K312 to a network with multiple CAN nodes, I noticed a lot of CAN error frames. I then switched the CAN clock source from FIRC_CLK to the external FXOSC_CLK while keeping the CAN bitrate and sampling point the same. After this change, the communication became stable, and I stopped seeing the error frames. Could anyone help me understand why switching the clock source from FIRC_CLK to FXOSC_CLK would fix the CAN errors? Re: NXP S32K312 CAN0 – FIRC vs. FXOSC Clock Source Causing CAN Errors Hello @Karthik_R, Usually, FIRC clock is not recommended for FlexCAN communication, as accuracy is over the ~1% requirement according to CAN protocol (ISO 11898-1). You can see from S32K3's Data Sheet that FIRC's deviation is +- 5%. Recommendation is to use either FXOSC or PLL running from XOSC. You can refer to FlexCAN Bit Timing Calculation document, and MPC5xxx/S32Kxx/LPCxxxx: CAN / CAN FD bit timing calculation tool for clock and timing calculations. Hope this is clear. Best regards, Julián

如何通过喷嘴拾取 MPXM2053GS 在 SMT 过程中，空气可能会从取放喷嘴吹入压力端口。内部传感器有可能损坏吗？ Re: how to pick up MPXM2053GS by nozzle 你好，大卫， 从取放喷嘴到侧面压力端口的短暂低压空气脉冲不太可能造成损坏，只要施加的压力不超过设备的最大额定过压。然而，反复或高压气流原则上可能会使隔膜承受压力，或者在极端情况下，使其受损。 为完全避免任何风险，建议将取放喷嘴放置在 M-PAK 封装的平坦顶部表面上，远离侧面的压力端口。这样可以确保喷嘴永远不会接触或引导气流进入感应端口开口。应用笔记AN1984 – 飞思卡尔压力传感器的处理，针对该设备系列的喷嘴设计和放置提供了具体指导，是 MPX 系列传感器 SMT 处理的主要参考。应用笔记AN936 – MPX 系列压力传感器的安装技术、引脚成型和测试也是一份有用的补充资料。 请注意，截至 2026 年 2 月 2 日，NXP MEMS 传感器产品（包括 MPXM2053GS）已过渡到 STMicroelectronics。如需后续产品支持和文档处理方面的帮助，我建议您直接咨询STM。 BRs，托马斯

how to pick up MPXM2053GS by nozzle During the SMT process, air may get blown into the pressure port from the pick-and-place nozzle. Is it possible to damage the sensor inside? Re: how to pick up MPXM2053GS by nozzle Hello David, A brief, low-pressure air pulse from the pick-and-place nozzle into the side pressure port is unlikely to cause damage, provided the applied pressure does not exceed the device's maximum rated overpressure. However, repeated or high-pressure air blasts could in principle stress the diaphragm or, under extreme conditions, compromise it. To avoid any risk entirely, the recommended approach is to position the pick-and-place nozzle on the flat top body surface of the M-PAK package, away from the side pressure port. This ensures the nozzle never contacts or directs airflow into the sensing port opening. Application Note AN1984 – Handling Freescale Pressure Sensors provides specific guidance on nozzle design and placement for this device family and is the primary reference for SMT handling of MPX-series sensors. Application Note AN936 – Mounting Techniques, Lead Forming, and Testing of the MPX Series Pressure Sensors is also a useful complement. Please note that as of February 2, 2026, NXP MEMS sensor products (including the MPXM2053GS) have been transitioned to STMicroelectronics. For ongoing product support and handling documentation going forward, I recommend also consulting STM directly. BRs, Tomas

LAN96455F i.MX95とのイーサネット・スイッチ統合 – デバイスツリーガイダンス こんにちは、NXPチームの皆様、 Microchip LAN96455F Ethernet Switch(LAN9645xファミリ)をカスタムのi.MX95 19x19 LPDDR5ボード(imx95-19x19-evk.dtsベース)に統合しています。適切なデバイスツリー統合に関するガイダンスをいただければ幸いです。

NXP S32K312 CAN0 – FIRC 与 FXOSC 时钟源导致 CAN 错误 大家好， 我正在使用 S32K312 上的 CAN0，速率为 500 kbps，采样点为 87.5%。 最初，我将 CAN0 设置为使用内部 FIRC_CLK 作为时钟源。当我将 S32K312 连接到具有多个 CAN 节点的网络时，我注意到出现了很多 CAN 错误帧。 然后，我将 CAN 时钟源从 FIRC_CLK 切换到外部 FXOSC_CLK，同时保持 CAN 比特率和采样点不变。做出这一改变后，通信变得稳定，我不再看到错误帧。 请问有人能帮我理解一下为什么将时钟源从 FIRC_CLK 切换到 FXOSC_CLK 就能解决 CAN 错误吗？ Re: NXP S32K312 CAN0 – FIRC vs. FXOSC Clock Source Causing CAN Errors 你好@Karthik_R ， 通常不建议将 FIRC 时钟用于 FlexCAN 通信，因为根据 CAN 协议 (ISO 11898-1)，其精度超过了 ~1% 的要求。从 S32K3 的数据表中可以看出，FIRC 的偏差为 +/- 5%。 建议使用 FXOSC 或由 XOSC 运行的 PLL。您可以参考FlexCAN 位时序计算文档和MPC5xxx/S32Kxx/LPCxxxx：CAN / CAN FD 位时序计算工具进行时钟和时序计算。 希望这能说清楚。 此致， 朱利安

GCCはプラグマステートメントを無視して、コードをITCMメモリに配置します。 こんにちは！ ここでは、S32K3バージョン1.7.1用のMatlab R2025b、Simulink、およびMBDTを使用しています。 私たちが開発中のモーターコントローラアプリケーションの性能を最適化するために、コードの一部をITCMメモリに、さらに後にはデータ用のDTCMメモリに配置したいと考えています。 今のところ、ワークフローをテストするために、ITCMのメモリに関数を配置しようとしています。Simulink/Embedded Coderを使って、以下のような正しいプラグマステートメントをCコードに挿入することに成功しました。 #pragma GCC section text ".itcm_text" static void Motor_Drive_Subsystem(void) ヤージュ .......... } #pragma GCC セクション テキスト "" しかし、アプリケーションをコンパイルする際には、gccはこれらのプラグマ文を無視し、コードを標準の.textに配置しますセグメント。これはobjdumpコマンドで結論づけられます: arm-none-eabi-objdump -h Motor_Control.o (being the .oMotor_Drive_Subsystem関数を含むcファイルから生成されたファイル） .itcm_text はありませんリストには、.text.xxxx セグメントのみが含まれています (他の非テキストセグメントの中に)。 コンパイル時には、MBDT環境で設定された標準のGCCスイッチを使用しています。 arm-none-eabi-gcc -O2 -c -std=c99 -fshort-enums -funsigned-char -fstack-usage -ffunction-sections -fdata-sections -g -pedantic -Wall -Wextra -fmessage-length=0 -funsigned-bitfields -fno-common -Wunused -Wstrict-prototypes -Wsign-compare -Werror=implicit-function-declaration -mcpu=cortex-m7 -mthumb -mlittle-endian -mfloat-abi=hard -mfpu=FPV5-sp-d16 -DD_CACHE_ENABLE -DI_CACHE_ENABLE -specs=nano.specs -specs=nosys.specs --sysroot="C:\MATLAB_Add-Ons\Toolboxes\NXP_MBDToolbox_S32K3\tools\build_tools\gcc_v10.2\gcc-10.2-arm32-eabi\arm-none-eabi\newlib」-DSTEP_GPT_TIMER -DSTEP_GPT_CHANNEL=GptConf_GptChannelConfiguration_StepTimer -DSTEP_GPT_CHANNEL_FREQ=40000000 -DSTEP_GPT_CHANNEL_VALUE_MAX=4294967295 -DAUTOSAR_OS_NOT_USED -D__MW_TARGET_USE_HARDWARE_RESOURCES_H__ -DGCC -DS32K3XX -DS32K396 -DCPU_S32K396 -DENABLE_FPU -DMPU_ENABLE -DMBDT_INIT -DCLASSIC_INTERFACE=0 -DALLOCATIONFCN=0 -DTERMFCN=0 -DONESTEPFCN=1 -DMAT_FILE=0 -DMULTI_INSTANCE_CODE=0 -DINTEGER_CODE=0 -DMT=0 -DTID01EQ=0 -DSTACK_SIZE=64 -DRT -DMODEL=Motor_Control -DNUMST=1 -DNCSTATES=0 -DHAVESTDIO -DMODEL_HAS_DYNAMICALLY_LOADED_SFCNS=0 -IC: ..... 生成されたcコードファイルを修正し、手動でコンパイルすることで、次の結論が得られます。 関数の「static」宣言を削除しても効果はありません。しかし、「static」を削除し、関数に属性ステートメントを追加するという別の方法を使用すると、次のようになります。 static void  __attribute__((section(".itcm_text")))Motor_Drive_Subsystem(void); .itcm_textを作成します.o のセグメントファイル。 私が何か間違ったことをしているのか、それともツールに問題があるのか、よく分かりません。 これをうまく動かす方法を誰か教えてもらえますか? もちろん、ツールチェーンにこの処理を任せたいので、コード生成後にCコードを手動で修正したくはありません。 私の見る限り、startup_cm7.Sのようですまた、ITCMおよびDTCMメモリを処理するためにlinker_flash_s32k396.ldファイルが用意されています。 フォーラムでこの投稿を見つけました。関連性があるかどうかはわかりませんが、こちらです： https://community.nxp.com/t5/S32-Design-Studio/No-GCC-11-4-item-in-new-project-wizard-dialog-on-S32DS-3-6-2/td-p/2134523 MBDTのgccはビルド1728のようですが、投稿で修正されているものはビルド1803です。 よろしくお願いいたします！ Re: Gcc ignoring pragma statements to place code into ITCM memory. こんにちは、 カスタムストレージクラスの設定方法については、MathWorksのウェブサイトにある以下のページをご確認ください。プラグマを挿入することによって、メモリ内のデータと関数の配置を制御する。 使用する必要がある部分は、「サブシステム機能とデータのデフォルトメモリ配置を上書きする」です。 カスタムストレージクラスを作成した後は、モデルを読み込むように設定する必要があります: 0. カスタムストレージクラスの作成および構成: 1. コードパースペクティブに入る 2. オープン組み込みコーダー辞書(モデル) 3. 先ほど作成したカスタムクラスを読み込みます。 4. モデル内で新しいサブシステムを作成し、それを原子に設定します。 5. コード生成内で、実行関数のメモリセクションをカスタムクラスで設定されている「MemSection_ITCM」に設定します。 6. arm-none-eabi-objdump が.oを.itcm_textに読み込むときに正しくITCM_ToggleDIO植え替えメモリセクション arm-none-eabi-nm -n s32k3xx_dio_s32ct.elfも、ITCM_ToggleDIOは0x0住所で見つかると言っています。 もし.elfをS32DSからフラッシュし、内部でブレークポイントを使うと関数s32k3xx_dio_s32c_ITCM_ToggleDIO、逆アセンブルビューでは命令がアドレスから始まる0x0が確認できます。 よろしくお願いします、 ソリン・バンシラ Re: Gcc ignoring pragma statements to place code into ITCM memory. こんにちは、ソリンさん 手伝ってくれてありがとう！ 私は実際にMathWorksのウェブサイトに掲載されていた指示に従っていました。 これで、プラグマ文の代わりに属性文を挿入する機能が動作するようになりました。 しかし、それでもgccは関数を.itcm_textに挿入することを拒否する。セグメント。 ブロックには以下のコード生成設定を使用します。 次のような関数のコードが生成されます。 /* 標準コード生成をITCMにリダイレクトする */ __attribute__ ((section(".itcm_text"))) static void Motor_Drive_Subsystem(void) { .... } 結論： .o に itcm_text セグメントがありませんファイル Gcc は関数を完全に最適化します (.o を逆アセンブルすると確認できます)ファイル） 生成された.cファイルから関数の「static」宣言を削除すると手動で再コンパイルすると、.itcm_text が取得できます。.o のセグメントファイル。 どうやら「static」宣言によって、gccコンパイラは属性プレフィックスを無視するようになるようです。 Modelsimでブロックを「再利用可能な関数」に設定すれば、静的宣言が削除されることを期待します。 私は以下を受け取ります： .itcm_text はまだありません.o のセグメントファイル 生成されたCコードでは、関数は依然として「static」として宣言されています。 .o の逆アセンブルファイルを見ると、gcc はアセンブリコード内に関数を保持しているが、.itcm_text への指示は見られない。セグメント では、「静的」宣言が問題なのか(Simulinkや組み込みコーダーの設定に関係しているのか)、それともGCCが「static」を優先して「attribute」宣言を優先している問題なのか? よろしくお願いいたします。

Gcc 忽略 pragma 语句，将代码放入 ITCM 内存中。 您好！ 这里使用的是 Matlab R2025b、Simulink 和 MBDT for S32K3 版本 1.7.1。 为了优化我们正在开发的电机控制器应用程序的性能，我们希望将部分代码放入 ITCM 内存中，稍后将数据放入 DTCM 内存中。 目前，为了测试工作流程，我正在尝试将一个函数放入 ITCM 内存中。我成功地让 Simulink/嵌入式程序员将正确的编译指示语句插入到 C 代码中，例如： #pragma GCC 部分文本 ".itcm_text" static void Motor_Drive_Subsystem(void) { .......... } #pragma GCC 部分文本“” 然而，在编译应用程序时，gcc 会忽略这些编译指示语句，并将代码放置在标准的 .text 文件中。部分。可以用 objdump 命令得出结论： arm-none-eabi-objdump -h Motor_Control.o （即 .o 文件）由包含 Motor_Drive_Subsystem 函数的 c 文件生成的文件） 没有 .itcm_text列表中只有 .text.xxxx 段（以及其他非文本段）。 编译时，我使用 MBDT 环境中设置的 gcc 标准开关： arm-none-eabi-gcc -O2 -c -std=c99 -fshort-enums -funsigned-char -fstack-usage -ffunction-sections -fdata-sections -g -pedantic -Wall -Wextra -fmessage-length=0 -funsigned-bitfields -fno-common -Wunused -Wstrict-prototypes -Wsign-compare -Werror=implicit-function-declaration -mcpu=cortex-m7 -mthumb -mlittle-endian -mfloat-abi=hard -mfpu=fpv5-sp-d16 -DD_CACHE_ENABLE -DI_CACHE_ENABLE -specs=nano.specs -specs=nosys.specs --sysroot="C:\MATLAB_Add-Ons\Toolboxes\NXP_MBDToolbox_S32K3\tools\build_tools\gcc_v10.2\gcc-10.2-arm32-eabi\arm-none-eabi\newlib"-DSTEP_GPT_TIMER -DSTEP_GPT_CHANNEL=GptConf_GptChannelConfiguration_StepTimer -DSTEP_GPT_CHANNEL_FREQ=40000000 -DSTEP_GPT_CHANNEL_VALUE_MAX=4294967295 -DAUTOSAR_OS_NOT_USED -D__MW_TARGET_USE_HARDWARE_RESOURCES_H__ -DGCC -DS32K3XX -DS32K396 -DCPU_S32K396 -DENABLE_FPU -DMPU_ENABLE -DMBDT_INIT -DCLASSIC_INTERFACE=0 -DALLOCATIONFCN=0 -DTERMFCN=0 -DONESTEPFCN=1 -DMAT_FILE=0 -DMULTI_INSTANCE_CODE=0 -DINTEGER_CODE=0 -DMT=0 -DTID01EQ=0 -DSTACK_SIZE=64 -DRT -DMODEL=Motor_Control -DNUMST=1 -DNCSTATES=0 -DHAVESTDIO -DMODEL_HAS_DYNAMICALLY_LOADED_SFCNS=0 -IC: ..... 通过修改生成的 C 代码文件并手动编译，我可以得出以下结论： 移除函数的“static”声明并不能解决问题。然而，移除“static”并使用另一种方法，即在函数上添加属性语句： static void __attribute__((section(".itcm_text")))Motor_Drive_Subsystem(void); 将创建一个 .itcm_text.o 段文件。 我不确定是我操作有误还是工具出了问题。 请问有人能指导我如何才能让它正常运行吗？ 当然，我们希望工具链能够处理这种情况，而不希望在代码生成后手动修改 C 代码。 据我所见，它看起来像是 startup_cm7.s。并准备了 linker_flash_s32k396.ld 文件来处理 ITCM 和 DTCM 存储器。 我在论坛上找到了这篇帖子，不确定是否与此相关： https://community.nxp.com/t5/S32-Design-Studio/No-GCC-11-4-item-in-new-project-wizard-dialog-on-S32DS-3-6-2/td-p/2134523 MBDT gcc 的版本似乎是 1728，而帖子中修复的版本是 1803。 提前感谢！ Re: Gcc ignoring pragma statements to place code into ITCM memory. 你好， 请查看 MathWorks 网站上的以下页面，了解如何设置自定义存储类：通过插入编译指示来控制数据和函数在内存中的位置。 您需要使用的部分是“覆盖子系统功能和数据的默认内存放置”。 创建自定义存储类后，必须配置模型以加载它： 0. 创建并配置自定义存储类： 1. 进入代码透视图 2. 开放式嵌入式编码器字典（模型） 3. 加载你之前创建的自定义类。 4. 在模型内部，创建一个新的子系统并将其设置为原子级。 5. 在代码生成中，设置执行函数的内存部分：“MemSection_ITCM”，如自定义类中设置的那样。 6. arm-none-eabi-objdump 正确报告 ITCM_ToggleDIO.o 已加载到 .itcm_text 中存储器部分 arm-none-eabi-nm -n s32k3xx_dio_s32ct.elf 还指出，ITCM_ToggleDIO 位于 0x0 地址。 如果从 S32DS 烧录 .elf 文件，并在s32k3xx_dio_s32c_ITCM_ToggleDIO 函数内部使用断点，则在反汇编视图中我们可以看到指令是从 0x0 地址开始存储的。 此致， 索林·班奇拉 Re: Gcc ignoring pragma statements to place code into ITCM memory. 索林你好 谢谢你的帮助！ 我当时确实是按照 Mathworks 网站上的说明操作的。 现在我已经实现了用属性语句代替编译指示语句插入数据的功能。 但是，gcc 仍然拒绝将该函数放入 .itcm_text 文件中。部分。 我使用以下代码块生成设置： 为如下函数生成的代码： /* 将标准代码生成重定向到 ITCM */ __attribute__ ((section(".itcm_text"))) static void Motor_Drive_Subsystem(void) { .... } 结论： .o 文件中不存在 itcm_text 段。文件 Gcc 完全优化掉了这个函数（可以通过反汇编 .o 文件看到）。文件） 如果我移除生成的 .c 文件中函数的“static”声明手动重新编译后，我将得到 .itcm_text 文件。.o 段文件。 看起来“static”声明导致gcc编译器忽略了属性前缀。 如果我在 Modelsim 中将该代码块设置为“可重用函数”，希望这样可以移除静态声明： 我得到： 仍然没有 .itcm_text.o 段文件 生成的 C 代码中，该函数仍然声明为“静态”函数。 .o 文件的反汇编文件显示 gcc 保留了汇编代码中的函数，但没有迹象表明它指向 .itcm_text 文件。部分 那么，问题是“static”声明（Simulink 或嵌入式编码器中的设置）还是 gcc 优先使用“static”声明而不是“attribute”声明？ 顺祝商祺！

LAN96455F 以太网交换机与 i.MX95 集成 – 设备树指南 您好，NXP团队： 我们正在将Microchip LAN96455F以太网交换机（LAN9645x系列）集成到定制的i.MX95 19x19 LPDDR5板（基于imx95-19x19-evk.dts）上，我希望得到关于正确集成设备树的指导。

NXP S32K312 CAN0 – FIRC vs. FXOSC クロックソースによる CAN エラーの発生 こんにちは、皆さん 私はS32K312でCAN0を使用し、500kbpsの速度で87.5%のサンプリングポイントを設定しています。 最初は、CAN0を内部のFIRC_CLKをクロックソースとして使用するように設定しました。S32K312を複数のCANノードがあるネットワークに接続したところ、多くのCANエラーフレームに気付きました。 その後、CANのクロックソースをFIRC_CLKから外部FXOSC_CLKに切り替え、CANのビットレートとサンプリングポイントは同じにしました。この変更後、通信は安定し、エラーフレームが表示されなくなりました。 なぜクロックソースをFIRC_CLKからFXOSC_CLKに切り替えるとCANエラーが直るのか、どなたか教えてもらえますか? Re: NXP S32K312 CAN0 – FIRC vs. FXOSC Clock Source Causing CAN Errors こんにちは、 @Karthik_R さん。 通常、FIRCクロックはFlexCAN通信には推奨されません。なぜなら、精度がCANプロトコル(ISO 11898-1)の~1%要件を超えているためです。S32K3のデータシートを見ると、FIRCの偏差は+-5%です。 FXOSCを使用するか、XOSCから実行されるPLLを使用することを推奨します。FlexCANビットタイミング計算のドキュメントや、MPC5xxx/S32Kxx/LPCxxxx: CAN / CAN FDビットタイミング計算ツールをご参照ください。 これで分かりやすくなったでしょうか。 よろしくお願いします、 ジュリアン

Gcc ignoring pragma statements to place code into ITCM memory. Hello! Using Matlab R2025b, Simulink and MBDT for S32K3 version 1.7.1 here. To optimize the performance of a motor controller application we are developing we want to place some parts of the code into the ITCM memory and later on, DTCM memory for data. As for now, for testing the workflow, I am trying to get a function placed into ITCM memory. I managed to get Simulink/ embedded coder to place the correct pragma statements in to the c code like: #pragma GCC section text ".itcm_text" static void  Motor_Drive_Subsystem(void) { .......... } #pragma GCC section text "" However, when compiling the application gcc ignore these pragma statements and places the code in the standard .text segment. This can be concluded with The objdump command: arm-none-eabi-objdump -h Motor_Control.o      (beeing the .o file generated from the c-file containing the Motor_Drive_Subsystem function) There are no .itcm_text in the list just .text.xxxx segments (among the other non text segments). When compiling I use the standard switches for gcc set by the MBDT environment: arm-none-eabi-gcc -O2 -c -std=c99 -fshort-enums -funsigned-char -fstack-usage -ffunction-sections -fdata-sections -g -pedantic -Wall -Wextra -fmessage-length=0 -funsigned-bitfields -fno-common -Wunused -Wstrict-prototypes -Wsign-compare -Werror=implicit-function-declaration -mcpu=cortex-m7 -mthumb -mlittle-endian -mfloat-abi=hard -mfpu=fpv5-sp-d16 -DD_CACHE_ENABLE -DI_CACHE_ENABLE -specs=nano.specs -specs=nosys.specs --sysroot="C:\MATLAB_Add-Ons\Toolboxes\NXP_MBDToolbox_S32K3\tools\build_tools\gcc_v10.2\gcc-10.2-arm32-eabi\arm-none-eabi\newlib" -DSTEP_GPT_TIMER -DSTEP_GPT_CHANNEL=GptConf_GptChannelConfiguration_StepTimer -DSTEP_GPT_CHANNEL_FREQ=40000000 -DSTEP_GPT_CHANNEL_VALUE_MAX=4294967295 -DAUTOSAR_OS_NOT_USED -D__MW_TARGET_USE_HARDWARE_RESOURCES_H__ -DGCC -DS32K3XX -DS32K396 -DCPU_S32K396 -DENABLE_FPU -DMPU_ENABLE -DMBDT_INIT -DCLASSIC_INTERFACE=0 -DALLOCATIONFCN=0 -DTERMFCN=0 -DONESTEPFCN=1 -DMAT_FILE=0 -DMULTI_INSTANCE_CODE=0 -DINTEGER_CODE=0 -DMT=0  -DTID01EQ=0 -DSTACK_SIZE=64 -DRT -DMODEL=Motor_Control -DNUMST=1 -DNCSTATES=0 -DHAVESTDIO -DMODEL_HAS_DYNAMICALLY_LOADED_SFCNS=0 -IC: ..... By modifying the generated c code file and manually compiling it I can conclude the following: Removing the “static” declaration of the function does not help. However, removing “static” and using the alternative way for this by adding an attribute statement on the function: static void  __attribute__((section(".itcm_text")))Motor_Drive_Subsystem(void); will create a .itcm_text segment in the .o file. I am not sure if I am doing something wrong here or if it is a tool problem. Can someone guide me on how to get this working? Of course, we want the tool chain to handle this and do not want to manually modify the c code after code generation. As far as I can see it looks like the startup_cm7.s and linker_flash_s32k396.ld files are prepared for handling the ITCM and DTCM memories. I found this post in the forum, not sure if it is relevant for this: https://community.nxp.com/t5/S32-Design-Studio/No-GCC-11-4-item-in-new-project-wizard-dialog-on-S32DS-3-6-2/td-p/2134523 The MBDT gcc seems to be build 1728 where as the fixed one in the post is build 1803. Thanks in advance! Re: Gcc ignoring pragma statements to place code into ITCM memory. Hello, Please check the following page on MathWorks website how to set up a custom storage class.: Control Data and Function Placement in Memory by Inserting Pragmas. The part that you need to use is "Override Default Memory Placement for Subsystem Functions and Data". After you created you custom storage class, you must configure the model to load it:  0. Create and configure the custom storage class: 1. Enter Code Perspective 2. Open Embedded Coder DIctionary (Model) 3. Load the custom class you previously created. 4. Inside the model, create a new Subsystem and set it to atomic. 5.  Inside the Code Generation, set the Memory section for execution functions: "MemSection_ITCM" as set in the custom class. 6.  arm-none-eabi-objdump properly repots that ITCM_ToggleDIO.o is loaded into the .itcm_text memory section arm-none-eabi-nm -n s32k3xx_dio_s32ct.elf also says that ITCM_ToggleDIO is found at  0x0 address. If the .elf is flashed from the S32DS and a breakpoint is used inside the s32k3xx_dio_s32c_ITCM_ToggleDIO function., in the disassembly view we can see that the instructions are stored starting at 0x0 address. Best regards, Sorin Bancila Re: Gcc ignoring pragma statements to place code into ITCM memory. Hi Sorin Thanks for helping out! I was actually following those instructions at Mathworks web site. Now I have the insertion of attribute statements instead of pragma statements working. But still, gcc refuses to put the function into the .itcm_text segment. I use these code generation settings for the block: Generated code for function like this: /* Redirect standard code generation to ITCM */ __attribute__((section(".itcm_text")))   static void Motor_Drive_Subsystem(void)   { .... } Conclusion: No itcm_text segment in .o file Gcc optimizes the function away completely (seen by disassembling .o file) If I remove the “static” declaration of the function in the generated .c and manually recompile it I will get the .itcm_text segment in the .o file. It looks like the “static” declaration makes the gcc compiler ignore the attribute prefix. If I set the block to “Reusable function” in modelsim, hoping this would remove the static declaration: I get: Still no .itcm_text segment in .o file Function still declared as “static” in generated c code Disassembly of .o file shows that gcc keeps the function in the assembly code but there is no sign of directing to .itcm_text segment So is the “static” declaration the problem (something with settings in Simulink or embedded coder) or is the problem with gcc prioritizing “static” over the “attribute” declaration? Best regards

FS23 V1 output abnormal V1 output is abnormal as below waveform: C1 was VSUP,C2 was VBOS,C3 was V2;C4 was V1(power to MCU)C1 was VSUP,C2 was VBOS,C3 was V2;C4 was V1(power to MCU) V1 without npnV1 without npn How can I thoroughly solve the problems I am currently facing? if you want to get more information,please let me know. Re: FS23 V1 output abnormal This diagram explains the softstart conditions highlighted above. If all conditions are met, V1 starts powering on and enters the M5 timing sequence, which takes 150-500µs. If the startup fails within this time, it enters the FS state and restarts after 100ms. This is roughly the process. Re: FS23 V1 output abnormal Could you please explain the softstart process? This section, " 19.4.6 V1UVLP monitoring chapter shows 'V1 is also monitored for V1UVLP when the device powers up after a wake-up from LPON, and during a cold start after TSOFT_START_V1. If, at the end of the softstart, V1 is still under the V1UVLP threshold, then the device goes into Fail-Safe state.'" What exactly is required for the V1 startup waveform? Thanks Re: FS23 V1 output abnormal This problem is most likely caused by V1 experiencing a startup failure during the soft boot process of OC, followed by a recovery. The solution is to add an external tube to the V1 port and enable this function when using FS23 OTP, or you can choose our HVBUCK version. Alternatively, you could remove some output capacitors to make the softstart smoother. I recommend choosing either of these two solutions for greater stability. Re: FS23 V1 output abnormal 1: If PIN37 in the schematic is not used, ground it. 2: V1's load current is not large, only a maximum of 100mA. Please confirm the load at your location. 3: The decoupling capacitor of V1_IN is 1uF. 4: In the case above, if the first startup fails and the second startup occurs, can the register M_GEN_FLAG be read to see what happened? Let's change these things first and see the results. Re: FS23 V1 output abnormal We measured a new waveform and found that V1 sometimes fails to start on the first try when the input is 12V. This is the waveform of the first startup failure. V1第一次启动未成功图V1 failed to start on the first attempt (image) This is the waveform of the second successful startup. V1第二次启动成功图V1 successfully started for the second time (image) Is this related to the undervoltage detection in V1 after a soft boot? The typical soft boot time is 300µs, and the maximum is 500µs. Why does it seem like it won't boot if it exceeds 500µs, but it seems to work if it's below 500µs? Could you please describe the soft boot process? The manual doesn't provide much information about it. Re: FS23 V1 output abnormal With 8V Vin, could you reduce the time axis of the waveform circled above? I want to see how long V1 has been running. Can we also test the same waveform with 12V VIN? I don't have a high and low temperature test chamber here, so I can't do too many tests. I can only rely on your results. Re: FS23 V1 output abnormal You can see below circled part. Re: FS23 V1 output abnormal Channel 1 was VSUP,C2 was VBOS,C3 was V2;C4 was V1(power to MCU) Re: FS23 V1 output abnormal which one indicate V1 follow up VBAT from 0? current test results show VBOS>3.06V TO V1 UPing used 13.2ms, please check Re: FS23 V1 output abnormal A lots of confuse for your test result ,you can see when Vbat< Vsup_uv,the V1 should be stay 0,why your V1 follow up VBAT from 0? I suppose your test waveform yellow is VBAT,Green is V1,am I right? Re: FS23 V1 output abnormal This is testing. by the way, we check the manual and found 19.4.6 V1UVLP monitoring chapter shows "V1 is also monitored for V1UVLP when the device powers up after a wake up from LPON, and during a cold start after TSOFT_START_V1. If, at the end of the softstart, V1 is still under V1UVLP threshold, then the device goes into Fail-Safe state." does it mean V1 should beyond V1UVLP threshold after TSOFT_START_V1(type,300us)? in addition ,this V1 abnormal issue happened in low temperature (-30℃ ） and low Vsup power(8v)。in this condition, we increased VSUP to 12V，V1 output OK。 Re: FS23 V1 output abnormal VBOS>3.06V TO V1 UPing used 13.2msVBOS>3.06V TO V1 UPing used 13.2ms Re: FS23 V1 output abnormal You can try to disconnect  MCU with V1 and test it again for example add some loading 50mA. 

FS23 V1 输出异常 V1 输出异常，波形如下： C1 was VSUP,C2 was VBOS,C3 was V2;C4 was V1(power to MCU)C1 为 VSUP，C2 为 VBOS，C3 为 V2；C4 为 V1（MCU 电源） V1 without npnV1 无 npn 我该如何彻底解决目前面临的问题？ 如果您想了解更多信息，请告诉我。 Re: FS23 V1 output abnormal 这个图可以解释框出来的上面的是softstart的条件，假如都满足了V1开始上电了进入M5的时序，他的时间是150-500us，假如超过了这个时间还没有启动成功就会进入FS状态然后100ms以后重启这样一个大概的过程 Re: FS23 V1 output abnormal 能否帮忙在解释下softstart过程？ 包括这一段“19.4.6 V1UVLP monitoring chapter shows "V1 is also monitored for V1UVLP when the device powers up after a wake up from LPON, and during a cold start after TSOFT_START_V1. If, at the end of the softstart, V1 is still under V1UVLP threshold, then the device goes into Fail-Safe state."”到底是要求什么样的V1启动波形？ 谢谢 Re: FS23 V1 output abnormal 这个问题大概率是V1 发生了OC在软启动的过程中导致启动失败然后又恢复的这个过程。 解决方案可以外加管子阔流在V1端口然后FS23 OTP的时候把这个功能打开，也可以选择我们的HVBUCK的版本。 要么就是适当的去掉一些输出电容让softstart更顺畅，我建议选择上面两个方案更稳妥 Re: FS23 V1 output abnormal 1：原理图PIN37不用的话接地。 2：V1的负载电流不大的最大才100mA确认下您那里的负载 3：V1_IN的decouple 电容是1uF. 4: 就像上面这个情况第一次启动不成功第二次起来了能否读取寄存器 M_GEN_FLAG register 看看发生了什么？ 先改上面这些看看结果。 Re: FS23 V1 output abnormal 我们新测了个波形，在输入12V时也发现V1有时第一次启动是失败的。 这是第一次启动失败的波形 V1第一次启动未成功图V1第一次启动未成功图 这是第二次启动成功的波形 V1第二次启动成功图V1第二次启动成功图 这个是不是和那个V1 在软启动之后的欠压检测有关联，但是软启动的时间是典型值300，最大值500us。现在为啥感觉是超过500us就启动不起来，低于500us好像就行。 能否帮忙描述下软启动的内容，看手册没有太多描述 Re: FS23 V1 output abnormal 在8V Vin的情况下能否把这个上面圈出来的波形的时间轴放小些，我想看V1启动了多久？ 另外12V VIN的情况下也测试下相同的波形可以嘛？ 我这里没有高低温试验箱无法做太多的测试只能看你们的结果了。 Re: FS23 V1 output abnormal 您可以看到下面圈出的部分。 Re: FS23 V1 output abnormal 通道 1 为 VSUP，C2 为 VBOS，C3 为 V2；C4 为 V1（MCU 电源） Re: FS23 V1 output abnormal 哪个指标表示 V1 后续 VBAT 从 0 开始？ 当前测试结果显示 VBOS>3.06VV1 更新耗时 13.2 毫秒，请检查 Re: FS23 V1 output abnormal 你的测试结果有很多令人困惑的地方。你可以看到，当 Vbat < Vsup_uv 时，V1 应该保持为 0，为什么你的 V1 会跟随 VBAT 从 0 开始变化呢？我猜你的测试波形中，黄色代表 VBAT，绿色代表 V1，对吗？ Re: FS23 V1 output abnormal 这是测试。 顺便说一下，我们查阅了手册，发现 19.4.6 V1UVLP 监测章节显示“当设备从 LPON 唤醒后上电，以及在 TSOFT_START_V1 之后冷启动时，也会监测 V1UVLP。如果在软启动结束时，V1 仍然低于 V1UVLP 阈值，则设备进入故障保护状态。 这是否意味着在 TSOFT_START_V1(type,300us) 之后，V1 应该超过 V1UVLP 阈值？ 此外，V1的异常问题发生在低温（-30℃）和低Vsup功率（8V）下。在这种情况下，我们将VSUP提高到12V，V1输出正常。 Re: FS23 V1 output abnormal VBOS>3.06V TO V1 UPing used 13.2msVBOS>3.06V 至 V1 UPing 耗时 13.2ms Re: FS23 V1 output abnormal 您可以尝试断开MCU与V1的连接，然后再次进行测试，例如增加50mA的负载。

ノズルでMPXM2053GSをピックアップする方法 SMTプロセス中、ピックアンドプレースノズルから圧力ポートに空気が吹き込まれる可能性があります。内部のセンサを壊すことはあり得ますか? Re: how to pick up MPXM2053GS by nozzle こんにちは、デイビッドさん。 ピックアンドプレースノズルから側面の圧力ポートへ短時間で低圧の空気パルスが噴射されても、印加される圧力がデバイスの最大定格過圧を超えない限り、損傷を引き起こす可能性は低い。しかし、繰り返しまたは高圧の空気吹きは原理的にダイアフラムにストレスを与えたり、極端な条件下では損傷を与える可能性があります。 リスクを完全に回避するために推奨される方法は、ピックアンドプレースノズルをM-PAKパッケージの平らな上部表面、側面圧力ポートから離れた位置に配置することです。これにより、ノズルがセンサーポートの開口部に空気の流れを接触したり、導いたりすることがなくなります。アプリケーションノート AN1984 – フリースケール圧力センサの取り扱い は、このデバイスファミリのノズル設計と配置に関する具体的な指針を提供し、MPXシリーズセンサのSMT取り扱いに関する主要な参考資料です。応用ノート AN936 – MPXシリーズ圧力センサの取り付け技術、リード成形および試験 も有用な補完資料です。 なお、2026年2月2日現在、NXP MEMSセンサー製品(MPXM2053GSを含む)はSTMicroelectronicsに移行されました。今後の継続的な製品サポートやドキュメント管理については、STMに直接相談することをお勧めします。 BRs、トーマス

FS23 V1 出力異常 V1出力は、以下の波形のように異常です。 C1 was VSUP,C2 was VBOS,C3 was V2;C4 was V1(power to MCU)C1はVSUP、C2はVBOS、C3はV2、C4はV1(power to MCU) V1 without npnV1で、NPNなしで 現在直面している問題をどうすれば徹底的に解決できるでしょうか? さらに詳しい情報が必要な場合は、お知らせください。 Re: FS23 V1 output abnormal この図は、上記で説明したソフトスタート条件を示しています。すべての条件が満たされると、V1は電源投入を開始し、150～500µsかかるM5タイミングシーケンスに入ります。この時間内に起動に失敗した場合、FS状態に入り、100ms後に再起動します。これが大まかなプロセスです。 Re: FS23 V1 output abnormal ソフトスタートのプロセスについて説明していただけますか？ このセクション「 19.4.6 V1UVLP モニタリングの章」には、「LPON からのウェイクアップ後、および TSOFT_START_V1 後のコールドスタート中に、デバイスの電源投入時にも V1 は V1UVLP について監視されます。ソフトスタートの終了時に V1 がまだ V1UVLP しきい値を下回っている場合、デバイスはフェイルセーフ状態になります。」と記載されています。V1の起動波形には具体的に何が必要ですか？ ありがとう Re: FS23 V1 output abnormal この問題は、OCのソフトブートプロセス中にV1が起動に失敗し、その後復旧したことが原因である可能性が最も高い。 解決策としては、V1ポートに外部チューブを追加し、FS23 OTP使用時にこの機能を有効にするか、弊社のHVBUCKバージョンを選択することです。 あるいは、出力コンデンサをいくつか取り外すことで、ソフトスタートをよりスムーズにすることもできます。安定性を高めるためには、これら2つの方法のいずれかを選択することをお勧めします。 Re: FS23 V1 output abnormal 1: 回路図のPIN37が使用されていない場合は、接地してください。 2：V1の負荷電流は大きくなく、最大でも100mAです。設置場所の負荷をご確認ください。 3：V1_INのデカップリングコンデンサは1μFです。 4：上記の場合、最初の起動が失敗し、2回目の起動が行われた場合、レジスタM_GEN_FLAGを読み取って何が起こったかを確認できますか？ まずはこれらの点を変えてみて、結果を見てみましょう。 Re: FS23 V1 output abnormal 新しい波形を測定したところ、入力電圧が12Vの場合、V1が初回起動時に失敗することがあることがわかりました。 これは最初の起動失敗時の波形です。 V1第一次启动未成功图V1は最初の試行で起動に失敗しました（画像）。 これは、2回目の起動が成功した際の波形です。 V1第二次启动成功图V1は2回目の起動に成功しました（画像）。 これはソフトブート後のV1における低電圧検出と関係があるのでしょうか？ 通常のソフトブート時間は300µs、最大は500µsです。500µsを超えると起動しないように見えるのに、500µs未満だと正常に動作するように見えるのはなぜでしょうか？ ソフトブートの手順について説明していただけますか？マニュアルにはあまり詳しい説明がありません。 Re: FS23 V1 output abnormal 入力電圧が8Vの場合、上記の丸で囲んだ波形の時間軸を短くできますか？V1がどれくらいの時間動作しているかを確認したいのです。 12Vの入力電圧で同じ波形をテストすることもできますか？ ここに高温・低温試験室がないので、あまり多くの試験はできません。あなたの結果を頼りにするしかありません。 Re: FS23 V1 output abnormal 下記に丸で囲まれた部分が見えます。 Re: FS23 V1 output abnormal チャネル1はVSUP、C2はVBOS、C3はV2でした。C4はV1(MCUへの電源)でした。 Re: FS23 V1 output abnormal どちらがV1が0からVBATに追随することを示していますか？ 現在のテスト結果では、VBOS>3.06Vとなっています。TO V1 UPing は 13.2ms 使用しました。ご確認ください。 Re: FS23 V1 output abnormal テスト結果が混乱します。Vbat< Vsup_uvが0のままでいるべきなのに、なぜV1は0から続くのでしょうか?テストの波形の黄色はVBAT、緑はV1、合っていますか? Re: FS23 V1 output abnormal これはテストです。 ちなみに、マニュアルを確認したところ、19.4.6 V1UVLP モニタリングの章に「LPON からのウェイクアップ後にデバイスの電源がオンになったとき、および TSOFT_START_V1 後のコールドスタート中に、V1 も V1UVLP 用に監視されます」と記載されていました。ソフトスタートの終了時にV1がV1UVLPしきい値を下回っている場合、デバイスはフェイルセーフ状態に移行します。 これは、TSOFT_START_V1(type,300us)の後、V1がV1UVLPのしきい値を超える必要があるという意味ですか？ さらに、このV1異常は低温（-30℃）および低Vsup電源（8V）の条件下で発生しました。この状況下でVsupを12Vに上げたところ、V1出力は正常になりました。 Re: FS23 V1 output abnormal VBOS>3.06V TO V1 UPing used 13.2msVBOS>3.06VからV1へのアップイングには13.2msかかりました。 Re: FS23 V1 output abnormal 例えば、V1のMCUを切断して再度テストしてみてください。例えば、50mAの負荷を追加してみてはどうでしょうか。