HSE_SRV_ID_IMPORT_KEY returns HSE_SRV_RSP_INVALID_PARAM 0x55A5A399 on S32k314 Hello, I'm currently working with S32K314 microcontroller, using S32K344_0_2_55_0 HSE with AB swap configuration. I'm trying to import a AES CMAC key using service HSE_SRV_ID_IMPORT_KEY and it always return HSE_SRV_RSP_INVALID_PARAM. My current microcontroller state is: - Lifecycle = CUST_DEL (0x04) - INSTALL_OK = 0 I've try to create a custom AES catalogue. This request generates an error error HSE_SRV_RSP_NOT_ALLOWED 0xAA55A21. I've make sure that all the buffers that parsed to HSE are located inside SRAM. I even manage to run the erase service. It respond ok. Given all the above I sill end up in HSE_SRV_RSP_INVALID_PARAM  error. Any idea what I could check next? Thank you in advance! Re: HSE_SRV_ID_IMPORT_KEY returns HSE_SRV_RSP_INVALID_PARAM 0x55A5A399 on S32k314 Hello @lukaszadrapa . Thank you for the quick response.  I've tried to installed the key catalogue with a minimal configuration, but it was not successful. It respond with HSE_SRV_RSP_NOT_ALLOWED. This is my catalogue configuration. Any tips on what I could check next? Thank you in advance!   Re: HSE_SRV_ID_IMPORT_KEY returns HSE_SRV_RSP_INVALID_PARAM 0x55A5A399 on S32k314 Hi @CosminSbera  If HSE_STATUS_INSTALL_OK is ‘0’, the catalogs are not formatted, so you can’t import a key. How did you configured the catalogs? Take a look at description of hseFormatKeyCatalogsSrv_t structure in HSE Service API reference manual: c:\NXP\HSE_FW_S32K344_0_2_55_0\docs\S32K3X4_HSE_Service_API_Reference_Manual.pdf There’s a list of requirements which need to be met. And take a look at section “6.1.5.3 Key catalog formatting” in HSE firmware reference manual rev. 2.7. There’s a list of reasons why the formatting may fail. Regards, Lukas

T1040RDB: CodeWarrior TAP経由で接続中に「JTAGチェーンを正しく構成できませんでした」 こんにちは、チームの皆さん、 私たちは新しいT1040RDBボードを使用しており、CodeWarriorを使ってJTAG経由でターゲットに接続し、U-Bootをボードにロード/プログラムしようとしています。 接続処理中に、CodeWarriorは以下のエラーを報告します。 JTAGチェーンの設定が正しく行われませんでした その結果、ボードとのJTAG接続を確立できず、U-Bootのロードに進むことができません。 重要な点として、以前にもCodeWarriorとTAPを含む同じ構成を使用して、他のT1040RDBボードにU-Bootを正常にロードしており、JTAG関連の問題は発生していないことを付け加えておきます。この問題は、この新しいボードでのみ確認されています。 設定の詳細： ボード: T1040RDBプロセッサ: T1040 デバッグプローブ/TAP: CodeWarrior TAP over USB Freescale アプリケーション：CodeWarrior Development Studio For PA バージョン：10.5 ホストOS: Windows 11 Pro 実施されたチェック項目： 基板の電源投入シーケンスを確認しました。 JTAGケーブルの接続と向きを確認しました。 CodeWarriorを再起動し、ボードの電源を入れ直しました。 ホストPCがTAP/デバッグプローブを検出したことを確認しました。 複数回再接続を試みましたが、結果は同じでした。 基板上のスイッチ設定を確認したところ、正しく設定されていました。 参考までに、現在のエラー画面のスクリーンショットと、同じCodeWarriorおよびTAP設定を使用して別のT1040RDBボードで以前に正常に動作したセッションのスクリーンショットを添付しました。以前の基板では同じ手順を問題なく進めることができましたが、新しい基板ではこの段階で「JTAGチェーンを正しく構成できませんでした」というエラーが発生して失敗します。 この問題の考えられる原因と、今後の対応についてご教示いただけますでしょうか？ ご協力をお願いします。 よろしくお願いします、 A.マルティ QorIQ T1デバイス

EIS测试评估板功能咨询 关于由EVBMA6x02BMU，EVBMA8420DT，EVBMA7x18DT1三块板构成的EIS测试方案，有以下几个问题： 1. 支持的EIS测试频率范围是多少？ 2. 除了传统扫频测试方法，激励电流可否进行自定义设置，例如采用多频复合激励？ 3. 用户手册里提到单块板可测电芯数为8-18块，电芯数小于8块时，能否完成测试？ 4. 实际使用时，评估板与电芯的连接方式是否有要求或者一个标准规范？ 5. 针对大容量电芯内阻较小时，需要使用到较大的激励电流，是否可控？ Re: EIS测试评估板功能咨询 1:0.1 - 1 kHz 2:可以自己做激励信号 3：BMA7418最少支持8个cell 4：没有涉及到太多你可以参考UG10341 page10 5：比方说BMA8420 + TAA3033 的 EIS 激励方案里也就是UG10341 Figure8，激励电流的“大小/幅度”不是由 BMA8420 单独直接设定，而是由 TAA3033 来调节；其中感测电阻（sense resistor）定义激励电流的幅度。

S32K311 のシリアルは DMA を使用して送受信され、中断はクリーンアップされて送信されます。 S32 Design Studio for S32 Platform バージョン: 3.6.7 RTD 7.0.1 送信が完了すると中断されますが、中断マークに空きがないことがわかります。 要操作レジスタクリア?対応する API に到達していません。また、最下位の Dma_Ip_INtIrqHandler(0,0,7)、没太明白第一パラメータは何ですかRTD では説明はありませんが、DMA を使用した完全な送受信のプロセス、メイン関数の初期化、および中断リダイレクトの後で参照して認識することが望ましいです。

关于 AT_NONCACHEABLE_SECTION_INIT() 宏的问题 你好 关于 AT_NONCACHEABLE_SECTION_INIT 及其在 fsl_dcp.c 中的用法，我有几个问题 这会导致一个变量被放入“NonCacheable.init”中章节。本节的名称暗示这是一个未被缓存但已初始化的区域。推测该变量需要由核心以外的主节点进行访问。 我们以 evkmimxrt1020_dcp 为例（适用于 RT1020-EVK） 本示例中的链接器脚本将“NonCacheable.init”放置在 .data 段中（因此在 DTC 中），该区域已初始化，但并非指定的非缓存区域。 这看起来可能是个问题！ 我们再来看看 AT_NONCACHEABLE_SECTION_INIT() 在 DCP 驱动程序中的用法： 变量 `s_dcpContextSwitchingBuffer` 尚未初始化！ 因此有两种情况： 这是故意未初始化的。但在这种情况下，应使用宏 `AT_NONCACHEABLE_SECTION()` 而不是 `AT_NONCACHEABLE_SECTION_INIT()`。 它实际上需要进行初始化。在这种情况下，问题在于它尚未被初始化。 顺祝商祺！ 最大值 Re: questions about AT_NONCACHEABLE_SECTION_INIT() macro 你好@mastupristi， 感谢您的详细分析。我们已经审阅了您提出的这两点。 1. 将 NonCacheable.init 放置在 DTCM 中——这不是缓存一致性问题 您观察得很对，链接器脚本确实放置了 `NonCacheable.init`写入位于 `SRAM_DTC`（DTCM）中的 `.data` 区域。 不过，这在 RT1020 上不会引发缓存一致性问题。DTCM 是 Cortex-M7 上的紧密耦合内存，其访问路径完全通过硬件设计绕过了 L1 数据缓存。尽管它并未被放置在单独命名的 `NCACHE_REGION` 中，但 DTCM 中的数据本质上不可缓存，且对于 DCP 等支持 DMA 的外设而言，访问这些数据是安全的。 请帮忙检查一下这个AN：https://www.nxp.com/docs/en/application-note/AN12042.pdf 而且，如果您修改链接器脚本以将此部分放在 OCRAM 或 同步动态随机存取存储器(SDRAM) 中，则必须确保相应的 MPU 区域配置为不可缓存，或者驱动程序/应用程序执行适当的缓存维护（清理/失效）。 2. 宏的使用——观察正确，不影响功能 你说的没错，`s_dcpContextSwitchingBuffer` 在调用 `AT_NONCACHEABLE_SECTION_INIT()` 时并未指定显式的初始化函数。根据 SDK 规范，`AT_NONCACHEABLE_SECTION_INIT()` 适用于初始值不为零的变量（`= {xx}`），而 `AT_NONCACHEABLE_SECTION()` 适用于初始化为零的变量。 由于该变量的存储范围为静态，因此 C 语言无论如何都会保证其被初始化为零——这并不存在功能性错误。该缓冲区不依赖于任何特定的初始值；DCP 硬件会在运行时管理其内容。 也就是说，使用 `AT_NONCACHEABLE_SECTION () `在语义上更合适，并且可以节省208字节的闪存。我们认为这是一个提升代码质量的机会。 致以最诚挚的问候， Gavin

Inquiries Regarding EIS Test and Evaluation Board Features I have the following questions regarding the EIS test solution consisting of the EVBMA6x02BMU, EVBMA8420DT, and EVBMA7x18DT1 boards: 1. What is the supported EIS test frequency range? 2. In addition to traditional sweep testing methods, can the excitation current be customized, for example, to use multi-frequency composite excitation? 3. The user manual states that a single board can test 8 to 18 cells. If there are fewer than 8 cells, can the test still be completed? 4. Are there any specific requirements or standard specifications regarding how the evaluation board connects to the battery cell during actual use? 5. When the internal resistance of high-capacity battery cells is low, a higher excitation current is required. Is this controllable? Re: EIS测试评估板功能咨询 1: 0.1 – 1 kHz 2: You can generate the excitation signal yourself 3: The BMA7418 supports a minimum of 8 cells. 4: This doesn't cover much of it; you can refer to UG10341, page 10. 5: For example, in the BMA8420 + TAA3033 EIS excitation scheme (as shown in Figure 8 of UG10341), the "magnitude" of the excitation current is not set directly by the BMA8420 alone, but is adjusted by the TAA3033;The sense resistor defines the amplitude of the excitation current.

LS1027A boot without SD1/SD2 SerDes reference clocks during initial SD-card provisioning phase Hello, I am working on a custom board based on the LS1027A. During manufacturing, the board goes through an initial provisioning phase where the processor boots from an SD card. The only purpose of this boot is to program the eMMC with the final production software image. In this provisioning stage, none of the SerDes interfaces are used. The board provides the mandatory SYSCLK, but the SD1_REF_CLK and SD2_REF_CLK signals are generated by an external PLL that requires software configuration before it can output the proper reference clocks. My question is: Can the LS1027A successfully exit reset and boot from the SD card with only SYSCLK present, while SD1_REF_CLK and SD2_REF_CLK are absent? The idea would be: Power up the board with SYSCLK available. Boot the LS1027A from the SD card. Configure the external PLL from software. Enable the SerDes reference clocks. Program the eMMC. Switch to normal production boot from eMMC, where the PLL configuration and SerDes clocks are already available. Are there any restrictions or boot-time requirements that would prevent the device from starting correctly when the SerDes reference clocks are not present at reset, assuming that no SerDes protocol is used during this initial provisioning phase? Thank you for your help. Best regards,

S32K311的串口用DMA发送和接收，中断要怎么清标志，发送完一直进中断。 S32 Design Studio for S32 Platform Version: 3.6.7 RTD 7.0.1 发送完就一直进中断，明显是中断标志没有清空。 要操作寄存器清？没找到对应的API，还有最下面的Dma_Ip_INtIrqHandler(0,0,7)，没太明白第一个参数是什么意思？RTD里没有进行说明，最好是有完整的发送和接收用DMA的完整工程，main函数里的初始化，和中断回调之后的参考，感谢至极。

EISテスト評価委員会機能コンサルティング EVBMA6x02BMU、EVBMA8420DT、EVBMA7x18DT1の3枚のボードで構成されるEISテストソリューションに関して、以下の疑問が生じます。 1. サポートされているEISテストの周波数範囲は？ 2. 従来の周波数掃引試験方法に加えて、例えば多周波数複合励起を用いるなどして、励起電流をカスタマイズすることは可能でしょうか？ 3. ユーザーマニュアルには、1枚の基板で8～18個のセルをテストできると記載されています。セルの数が8個未満の場合でもテストは完了できますか？ 4. 実際の使用において、評価ボードとバッテリーセル間の接続方法に関する要件や標準仕様はありますか？ 5. 大容量電池の内部抵抗が比較的低い場合、大きな励磁電流が必要となります。これは制御可能でしょうか？ Re: EIS测试评估板功能咨询 1: 0.1～1kHz 2：独自の刺激信号を作成できます。 3：BMA7418は少なくとも8個のセルをサポートします。 4：ここではあまり詳しく説明されていません。UG10341の10ページを参照してください。 5: 例えば、BMA8420 + TAA3033のEIS励起方式、すなわちUG10341図8では、励起電流の「大きさ/振幅」はBMA8420単独で直接設定されるのではなく、TAA3033によって調整されます。センス抵抗が励起電流の振幅を定義します。

LS1027Aは、初期SDカードプロビジョニングフェーズ中にSD1/SD2 SerDesリファレンスクロックなしで起動します。 こんにちは、 私はLS1027Aをベースにしたカスタム基板を開発中です。 製造工程において、基板は初期プロビジョニング段階を経て、プロセッサがSDカードから起動する。このブートの唯一の目的は、最終的な製品版ソフトウェアイメージをeMMCに書き込むことです。 このプロビジョニング段階では、SerDesインターフェースはどれも使用されません。このボードは必須のSYSCLK信号を提供しますが、SD1_REF_CLKおよびSD2_REF_CLK信号は外部PLLによって生成され、適切な基準クロックを出力するにはソフトウェアによる設定が必要です。 私の質問は次のとおりです。 SD1_REF_CLKとSD2_REF_CLKが存在しない状態で、SYSCLKのみが存在する場合、LS1027Aはリセット状態から正常に終了し、SDカードから起動できますか？ そのアイデアはこうだ。 SYSCLKが利用可能な状態でボードの電源を入れてください。 LS1027AをSDカードから起動します。 ソフトウェアから外部PLLを設定します。 SerDesリファレンスクロックを有効にします。 eMMCをプログラムします。 PLL構成とSerDesクロックが既に利用可能なeMMCからの通常の生産ブートに切り替えます。 この初期プロビジョニングフェーズではSerDesプロトコルが使用されないと仮定した場合、リセット時にSerDesリファレンスクロックが存在しない場合に、デバイスが正しく起動することを妨げるような制限や起動時の要件はありますか？ ご協力ありがとうございます。 よろしくお願いいたします。

S32K311的串口使用DMA进行发送和接收，中断标志该如何清除？发送完成后一直进入中断。 S32 Design Studio for S32 Platform 版本：3.6.7 RTD 7.0.1 发送完成后一直进入中断，显然是中断标志没有被清零。 需要操作寄存器来清零吗？没找到对应的API，还有最下方的Dma_Ip_INtIrqHandler(0,0,7)，不太明白第一个参数是什么意思？RTD中没有相关说明，最好能提供一个完整的、使用DMA进行发送和接收的工程示例，包括main函数中的初始化代码，以及中断回调后的参考代码，不胜感激。

S32K146 Mcal Can Can't into receive interrupt IIn my test project, I am using the S32K146 mcal CAN and have configured the CAN reception to be interrupt-based. However, it consistently fails to enter the receive interrupt. Could you please take a look and see if there are any configuration errors. Re: S32K146 Mcal Can Can't into receive interrupt Hi@binZhang01 1.delete this 2.Note that if you set it up this way, you will need to send an extended frame to trigger an interrupt. 回复： S32K146 Mcal Can Can't into receive interrupt When I debugged, it still didn't enter the Can_CommonIrqCallback function.

questions about AT_NONCACHEABLE_SECTION_INIT() macro Hello, I have a few questions about AT_NONCACHEABLE_SECTION_INIT and its use in fsl_dcp.c This causes a variable to be placed in the “NonCacheable.init” section. The name of this section suggests an area that is not cached but is initialized. Presumably, the variable needs to be accessed by a master other than the core. Let's take the example evkmimxrt1020_dcp (for the RT1020-EVK) The linker script in this example places “NonCacheable.init” in .data (and thus in DTC), which is initialized but is not the designated non-cached area. This looks like it could be a problem! Let's also take a look at how AT_NONCACHEABLE_SECTION_INIT() is used in the DCP driver: The variable `s_dcpContextSwitchingBuffer` has not been initialized! So there are two scenarios: It is intentionally left uninitialized. In this case, however, the macro `AT_NONCACHEABLE_SECTION()` should be used instead of `AT_NONCACHEABLE_SECTION_INIT()`. It actually needed to be initialized. In this case, the problem is that it hasn't been initialized. best regards Max Re: questions about AT_NONCACHEABLE_SECTION_INIT() macro Hi @mastupristi , Thank you for your detailed analysis. We have reviewed both points you raised. 1. NonCacheable.init placed in DTCM — Not a cache coherency issue Your observation is correct that the linker script places `NonCacheable.init` into `.data`, which resides in `SRAM_DTC` (DTCM). However, this does not cause a cache coherency problem on RT1020. DTCM is tightly-coupled memory on Cortex-M7 — its access path bypasses the L1 D-Cache entirely by hardware design. Even though it is not placed in a separately named `NCACHE_REGION`, data in DTCM is inherently non-cacheable and safe for DMA-capable peripherals like DCP to access. Please help check this AN: https://www.nxp.com/docs/en/application-note/AN12042.pdf And If you modify the linker script to place this section in OCRAM or SDRAM, you must ensure the corresponding MPU region is configured as non-cacheable, or that the driver/application performs proper cache maintenance (clean/invalidate). 2. Macro usage — Correct observation, no functional impact You are correct that `s_dcpContextSwitchingBuffer` uses `AT_NONCACHEABLE_SECTION_INIT()` without an explicit initializer. Per SDK convention, `AT_NONCACHEABLE_SECTION_INIT()` is intended for variables with non-zero initial values (`= {xx}`), while `AT_NONCACHEABLE_SECTION()` is for zero-initialized variables. Since this variable has static storage duration, C guarantees zero-initialization regardless — there is no functional bug. The buffer does not depend on any specific initial value; the DCP hardware manages its contents at runtime. That said, using `AT_NONCACHEABLE_SECTION()` would be more semantically appropriate and would save 208 bytes of Flash. We acknowledge this as a code quality improvement opportunity. Best regards, Gavin

在初始 SD 卡配置阶段，LS1027A 在没有 SD1/SD2 SerDes 参考时钟的情况下启动 你好 我正在开发基于 LS1027A 的定制主板。 在制造过程中，主板经历了初始配置阶段，处理器从 SD 卡启动。此启动的唯一目的是使用最终的生产软件映像对 eMMC 进行编程。 在此配置阶段，不使用任何 SerDes 接口。该电路板提供必需的 SYSCLK，但是 SD1_REF_CLK 和 SD2_REF_CLK 信号由外部 PLL 生成，需要进行软件配置才能输出正确的参考时钟。 我的问题是 在 SD1_REF_CLK 和 SD2_REF_CLK 不存在的情况下，LS1027A 能否成功退出 RESET 并从 SD 卡启动？ 这个想法是： 在可用 SYSCLK 的情况下为主板加电。 从 SD 卡启动 LS1027A。 通过软件配置外部PLL。 启用 SerDes 参考时钟。 对 eMMC 进行编程。 从 eMMC 切换到正常生产启动，其中 PLL 配置和 SerDes 时钟已经可用。 假设在此初始配置阶段未使用 SerDes 协议，在重置时不存在 SerDes 参考时钟时，是否有任何限制或启动时间要求会阻止设备正确启动？ 感谢您的帮助。 顺祝商祺！

AT_NONCACHEABLE_SECTION_INIT() マクロに関する質問 こんにちは、 AT_NONCACHEABLE_SECTION_INITとfsl_dcp.cでのその使用方法についていくつか質問があります。 これにより、「NonCacheable.init」に変数が配置されることになります。セクション。このセクションの名前は、キャッシュされないが初期化される領域であることを示唆している。おそらく、その変数はコア以外のマスターによってアクセスされる必要があるのだろう。 例として、evkmimxrt1020_dcp（RT1020-EVK用）を見てみましょう。 この例のリンカースクリプトは「NonCacheable.init」を.dataに配置します。（したがってDTCでは）初期化されますが、指定された非キャッシュ領域ではありません。 これは問題になりそうだ！ DCPドライバでAT_NONCACHEABLE_SECTION_INIT()がどのように使用されているかも見ていきましょう。 変数`s_dcpContextSwitchingBuffer`が初期化されていません！ つまり、2つのシナリオが考えられます。 意図的に初期化されていない状態になっています。ただし、この場合は、`AT_NONCACHEABLE_SECTION_INIT()` の代わりにマクロ `AT_NONCACHEABLE_SECTION()` を使用する必要があります。 実際には初期化が必要だった。この場合、問題は初期化されていないことです。 よろしくお願いいたします 最大 Re: questions about AT_NONCACHEABLE_SECTION_INIT() macro こんにちは、 @mastupristi さん。 詳細な分析をありがとうございました。ご指摘いただいた両方の点について検討いたしました。 1. NonCacheable.init は DTCM に配置されています — キャッシュの一貫性の問題ではありません リンカースクリプトが`NonCacheable.init`を配置するというあなたの指摘は正しいです。`.data` に格納され、`SRAM_DTC` (DTCM) に存在します。 しかし、これはRT1020におけるキャッシュコヒーレンシの問題を引き起こすものではありません。DTCMはCortex-M7上で密接に結合されたメモリであり、そのアクセスパスはハードウェア設計によってL1 Dキャッシュを完全にバイパスする。DTCM内のデータは、別途名前の付いた`NCACHE_REGION`には配置されていませんが、本質的にキャッシュ不可能であり、DCPなどのDMA対応周辺機器がアクセスしても安全です。 このアプリケーションノート（AN）をご確認ください： https://www.nxp.com/docs/en/application-note/AN12042.pdf また、リンカースクリプトを変更してこのセクションをOCRAMまたはSDRAMに配置する場合は、対応するMPU領域がキャッシュ不可として構成されているか、ドライバ/アプリケーションが適切なキャッシュメンテナンス（クリーン/無効化）を実行していることを確認する必要があります。 2. マクロの使用 — 正しい観察、機能への影響なし おっしゃる通り、`s_dcpContextSwitchingBuffer` は明示的な初期化子なしで `AT_NONCACHEABLE_SECTION_INIT()` を使用します。SDKの慣例に従い、`AT_NONCACHEABLE_SECTION_INIT()`はゼロ以外の初期値を持つ変数（`= {xx}`）を対象とし、`AT_NONCACHEABLE_SECTION()`はゼロで初期化された変数を対象としています。 この変数は静的な記憶期間を持つため、C言語は必ずゼロ初期化を保証します。つまり、機能的なバグはありません。バッファは特定の初期値に依存しません。DCPハードウェアが実行時にその内容を管理します。 とはいえ、`AT_NONCACHEABLE_SECTION()` を使用する方が意味的に適切であり、208バイトのフラッシュメモリを節約できます。私たちはこれをコード品質改善の機会と捉えています。 よろしくお願いします、 ギャビン

LPC55S28向けMBEDTLS 4.xポート NXP社が最新のMBEDTLS 4.xとLPC55S28を使用したサンプルコードを提供しているかどうか知りたいのですが。SDKのダウンロードファイルにはMBEDTLS3.xが含まれているようです。MBEDTLS 4.xを使用してLPC55S28ハードウェアアクセラレータを利用する例はありますか？あるいは、同様のMCUを搭載した4.Xの例でも構いません。 TLSは必要ありません。新しい4.Xバージョンの基本的なPSA暗号化部分です。 - AES-CCM - HKDF-SHA256 -SHA256 -HMAC-SHA256 LPC55xx Re: MBEDTLS 4.x Port for LPC55S28 こんにちは、 @guitardenver 現在、NXPはハードウェアアクセラレーションを使用してLPC55S28上で動作するMbed TLS 4.x（TF-PSA-Crypto）の公開サンプルを提供していません。MCUXpresso SDKは依然として主にMbed TLS 3.xを使用しており、利用可能なPSA暗号化のサンプルも4.xではなく3.xに基づいています。 mbedtls3x_examples — MCUXpresso SDK ドキュメント BR ハリー

在 S32k314 上，HSE_SRV_ID_IMPORT_KEY 返回 HSE_SRV_RSP_INVALID_PARAM 0x55A5A399 你好 我目前正在使用 S32K314 微控制器，采用 S32K344_0_2_55_0 HSE 配置，并启用了 AB 交换功能。 我正在尝试使用服务 HSE_SRV_ID_IMPORT_KEY 导入一个 AES CMAC 密钥，但系统总是返回 HSE_SRV_RSP_INVALID_PARAM 错误。我当前的微控制器状态是： - 生命周期 = CUST_DEL (0x04) - INSTALL_OK = 0 我尝试创建了一个自定义的AES目录。此请求引发了错误HSE_SRV_RSP_NOT_ALLOWED0xAA55A21。 我已确保所有解析到 HSE 的缓冲区都位于 SRAM 中。 我甚至设法运行了擦除服务。它响应正常。 尽管考虑了以上所有因素，我最终还是遇到了 HSE_SRV_RSP_INVALID_PARAM 错误。 请问接下来我该检查什么？ 提前谢谢！ Re: HSE_SRV_ID_IMPORT_KEY returns HSE_SRV_RSP_INVALID_PARAM 0x55A5A399 on S32k314 你好@lukaszadrapa。 感谢您的及时回复。  我尝试以最简配置安装密钥目录，但未成功。它返回了HSE_SRV_RSP_NOT_ALLOWED错误。 这是我的目录配置。 关于接下来该检查什么，有什么建议吗？ 提前谢谢！   Re: HSE_SRV_ID_IMPORT_KEY returns HSE_SRV_RSP_INVALID_PARAM 0x55A5A399 on S32k314 你好@CosminSbera  如果 HSE_STATUS_INSTALL_OK 的值为“0”，则表示目录尚未格式化，因此无法导入密钥。 你是如何配置目录的？ 看看 HSE 服务 API 参考手册中对 hseFormatKeycatalogsRV_T 结构的描述： c:\NXP\HSE_FW_S32K344_0_2_55_0\docs\S32K3X4_HSE_Service_API_Reference_Manual.pdf 有一份需要满足的要求清单。 然后看看 HSE 固件参考手册修订版中的 “6.1.5.3 密钥目录格式” 部分2.7.格式设置可能失败的原因如下： 此致， Lukas

S32K146 Mcal CAN 受信割り込みできません 私のテストプロジェクトでは、S32K146 mcal CANを使用しており、CAN受信を割り込みベースに設定しています。しかし、受信割り込みに入ることが一貫して失敗します。設定にエラーがないか確認していただけますか？ Re: S32K146 Mcal Can Can't into receive interrupt こんにちは、@ binZhang01 1.これを削除 2.このように設定する場合は、割り込みをトリガーするために拡張フレームを送信する必要があることに注意してください。 回复： S32K146 Mcal Can Can't into receive interrupt デバッグしてみたところ、Can_CommonIrqCallback 関数には入りませんでした。

LPC55S28 的 MBEDTLS 4.x 移植版 我想问一下，NXP 是否有使用最新 MBEDTLS 4.x 版本配合 LPC55S28 的示例？SDK 的下载包似乎包含 MBEDTLS3.x。有没有使用/移植 MBEDTLS 4.x 来调用 LPC55S28 硬件加速器的示例？ 或者甚至是一个采用类似微控制器的 4.X 示例？ 我不需要 TLS。这只是新4.X版本中关于PSA加密功能的基础部分。  - AES-CCM - HKDF-SHA256 -SHA256 -HMAC-SHA256 LPC55xx Re: MBEDTLS 4.x Port for LPC55S28 你好@guitardenver  目前，恩智浦尚未提供在 LPC55S28 上运行并支持硬件加速的 Mbed TLS 4.x（TF‑PSA‑Crypto）的公开示例。MCUXpresso SDK 目前仍主要使用 Mbed TLS 3.x，现有的 PSA 加密示例也基于 3.x 版本，而非 4.x 版本。 mbedtls3x_examples — MCUXpresso SDK 文档 BR 哈利

HSE_SRV_ID_IMPORT_KEY が S32k314 で HSE_SRV_RSP_INVALID_PARAM 0x55A5A399 を返します。 こんにちは、 現在、S32K314マイクロコントローラを使用しており、ABスワップ構成のS32K344_0_2_55_0 HSEを使用しています。 サービス HSE_SRV_ID_IMPORT_KEY を使用して AES CMAC キーをインポートしようとしていますが、常に HSE_SRV_RSP_INVALID_PARAM が返されます。現在のマイクロコントローラの状態は以下のとおりです。 - ライフサイクル = CUST_DEL (0x04) - INSTALL_OK = 0 カスタムAESカタログを作成しようと試みました。このリクエストはエラーHSE_SRV_RSP_NOT_ALLOWED 0xAA55A21 を生成します。 HSEに解析されたすべてのバッファがSRAM内に配置されていることを確認しました。 なんとか消去サービスを実行することもできた。正常に反応しました。 上記すべてを考慮しても、やはりHSE_SRV_RSP_INVALID_PARAMエラーが発生します。 次に何を調べたらいいか、何かアイデアはありますか？ お手数ですが、よろしくお願いいたします。 Re: HSE_SRV_ID_IMPORT_KEY returns HSE_SRV_RSP_INVALID_PARAM 0x55A5A399 on S32k314 こんにちは、 @lukaszadrapa さん。 迅速なご対応ありがとうございます。 最小限の構成でキーカタログをインストールしようと試みましたが、うまくいきませんでした。HSE_SRV_RSP_NOT_ALLOWED という応答が返されます。 これが私のカタログ設定です。 次に何をチェックすれば良いか、何かアドバイスはありますか？ お手数ですが、よろしくお願いいたします。   Re: HSE_SRV_ID_IMPORT_KEY returns HSE_SRV_RSP_INVALID_PARAM 0x55A5A399 on S32k314 こんにちは、 @CosminSberaさん HSE_STATUS_INSTALL_OKが「0」の場合、カタログはフォーマットされていないため、キーをインポートできません。 カタログはどのように設定しましたか？ HSE Service API リファレンス マニュアルの hseFormatKeyCatalogsSrv_t 構造体の説明をご覧ください。 c:\NXP\HSE_FW_S32K344_0_2_55_0\docs\S32K3X4_HSE_Service_API_Reference_Manual.pdf 満たさなければならない要件のリストがあります。 また、HSEファームウェアリファレンスマニュアルの「6.1.5.3 キーカタログのフォーマット」セクションをご覧ください。2.7.書式設定が失敗する可能性のある理由のリストがあります。 よろしくお願いいたします。 ルーカス