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ディスカッション

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RW612 FlexSPI PORTB1 access I am using the RW612 chipset in external XIP mode, the code is running from the FlexSPI PortA1 and I am connecting a PSRAM (APS6404L) to the FlexSPI PortB1, I am using the SDK (25.06 Version) provided configuration to access the Port B1. When trying to read the PSRAM ID, I am not seeing any signal activities on the PortB1 (CLCK/CS). I removed the SPARM to be sure that these signals are not held by a defective part. is this related to the fact that the APS6404 doesn't use the DQS signal?  How I can configure the PortB1 to not use the DQS? knowing that  FLEXSPI_Init function can't be called after the FlexSPI is initialized for PortA1 access. Thanks for your help and time. Re: RW612 FlexSPI PORTB1 access Hello Roman, Thank you for your help, the issue was related to trying to configure the FlexSPI clock while the bus is running, I commented out the following lines: CLOCK_EnableClock(kCLOCK_Flexspi); BOARD_SetFlexspiClock(FLEXSPI, 5U, 3U); The FlexSPI Port B1 is running now, and I can use the AHB Cache to Write/Read from the PSRAM. Thanks for the help, much appreciated. Re: RW612 FlexSPI PORTB1 access Hello @khalidL. Did you define the PSRAM memory section in the MCU settings as shown in the image below? RomanVR_1-1753912826626.jpeg Please make sure to follow the steps provided in the Application Code Hub post of the project and let me know if the problem persists. Re: RW612 FlexSPI PORTB1 access Hello Roman, Thank you for your help and time, in the process of integrating the above example in my project I ran into the following issue, when I call the function "__RAMFUNC(SRAM) status_t BOARD_InitPsRam(void)" from my main the code crashes silently. Is there any other changes I need to do to my project to integrate the example other than changing the linker files (main_data.ldt, main_txt.ldt and noinit_noload_section.ldt) and copying the board.c file? I am thinking that the code crashes because the BOARD_InitPsRam wasn't correctly copyed to the RAM. Thanks again for your time and help.  Re: RW612 FlexSPI PORTB1 access The example works on my board, thank you very much for the help. Re: RW612 FlexSPI PORTB1 access Hello @khalidL , hope you're doing well. There is an example in Application Code Hub regarding XIP from external NOR flash, please help me by testing the sample from the link shared and let me know if it fits into your project requirements. In order to import the project to MCUXpresso IDE, click on "Import from Application Code Hub" option. (Note that SDK version 2.16.00 is required for this sample) RomanVR_0-1753821216871.png Once in the Application Code Hub window search for the sample's name (XIP from external NOR flash and configuring external pSRAM using multiport FlexSPI module), select it and click on "Github link" and wait until the "Next >" button can be used. RomanVR_1-1753821257434.png Once clicked on the "Next >" button, follow the steps to import the project from the git repository. Finally, when the project is available in your workspace you should be able to flash and test it on your setup. Let me know if this helps.
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S32K144 RAM 测试在启动阶段失败 当我在启动阶段进行下面的内存测试时,它总是在 step3 中RESET,我找不到原因, 请帮帮我/(ㄒoㄒ)/~~ -----------------------↓----------------↓----------------------------------- ;;RAM 测试 (__RAM_START=0x1FFF9000 /__RAM_END=0x20006FFF) ;;STEP 1 - 写入背景 00,地址递增 LDR R1, =__RAM_START LDR R2, =__RAM_END subs r2, r2, r1 subs r2, #1 ble .ts1_2 movs r0, #0 movs r3, #4 .ts1_1: ;测试步骤 1.1 str r0, [r1] add r1, r1, r3 subs r2, #4 bge .ts1_1 .ts1_2: ;测试步骤 1.1 ;;第 2 步 - 验证背景并写入反相背景 0xFF,地址递增 LDR R1, =__RAM_START LDR R2, =__RAM_END subs r2, r2, r1 subs r2, #1 ble .ts2_2 LDR R3, =0xFFFFFFFF .TS2_1: ;测试步骤 2.1 LDR R0, [R1] CMP R0, #0 BNE Fst_RAMTSTFAIL str r3, [r1] adds r1, r1, #4 subs r2, #4 bge .ts2_1 .ts2_2: ;测试步骤 2.2 ;;第 3 步 - 验证反相背景 0xFF,并写入背景 0x00,地址为 增加 ldr r1, =__ram_start ldr r2, =__ram_end 子系统 R2、R2、R1 SUBS R2, #1 BLE .TS3_2 MOVS R4, #0 .ts3_1: ;测试步骤 3.1 LDR R0, [R1] LDR R3, =0xFFFFFFFF CMP R0, R3 BNE Fst_RAMTSTFAIL STR R4、[R1] 追加 R1、R1、#4 SUBS R2, #4 BGE .TS3_1 .TS3_2: ;测试步骤 3.2 ;;第 4 步 - 验证背景 0x00,并写入反转背景 0xFF,地址为 .... 第 5 步 - 核实反转背景并写入背景,地址递减 .... Re: S32K144 RAM test failed in startup phase 你好@丹尼尔-马蒂内克 我在禁用 wdog 之前做了 ram 测试,所以它会 RESET! 在 s32k118(内存大小为 23k)上没有出现这种情况,因为要测试的内存小于 32k144(内存大小为 64k)。 我在内存测试前禁用了监控程序,结果运行正常😁 谢谢 Re: S32K144 RAM test failed in startup phase 你好,@李杰都、 在 RESET 状态下,WDOG 默认处于启用状态: danielmartynek_0-1753946893835.png 它在启动过程中被禁用: danielmartynek_1-1753946992275.png 此致, 丹尼尔 Re: S32K144 RAM test failed in startup phase 我找到了 RESET 原因,但仍然对此感到困惑,我甚至没有配置 wdog。 LijieDu_0-1753931796098.png Re: S32K144 RAM test failed in startup phase 你好@丹尼尔-马蒂内克 很难找到 RESET 原因!这就是我在这里寻求帮助的原因😭 执行 RESET 处理程序(RESET 向量表)时,MCU 为空,然后它初始化寄存器 R1-R12 并启动 RAM 测试。其他什么都没做。 Re: S32K144 RAM test failed in startup phase 你好,@李杰都、 你还能识别 RESET 源吗? Re: S32K144 RAM test failed in startup phase 你好@丹尼尔-马蒂内克 感谢您的回答,我已经执行了 HardFault 处理程序,但它没有运行。 这个代码用在 s32k118 上,我在 s32k144 上重复使用它,区别在于 RAM_START 和 RAM_END 的定义。 是代码出了问题,还是我忽略了 s32k144 的其他功能? Re: S32K144 RAM test failed in startup phase 你好,@李杰都、 你知道 MCU RESET 的地址吗? 如果 MCU 意外 RESET,则可能是内核锁定造成的,这会设置 RCM_SRS [LOCKUP] 标志。这种情况通常发生在故障(如 HardFault)发生时,而项目中没有执行有效的 HardFault_Handler。 为了改进调试并更有效地捕获这些异常,我建议实施自定义 HardFault_Handler。 此致, 丹尼尔
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FPGA 如何实现CAN通讯 用SJA1000的话,如何实现信号连接,电平不匹配 Re: FPGA 如何实现CAN通讯 你可以尝试使用level shifter芯片NTS0104-Q10 或者NTS0102-Q10
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AVTP 项目中的以太网初始化问题 我正在使用恩智浦提供的 AVB 协议栈实施 AVTP ssattva1_0-1754643186207.png 我正在具体实施 s32k358_baremetal_acf_example 项目,在闪存精灵后遇到了一些问题。我在构建项目时没有遇到任何问题(确保 RTD 版本是 4.0,而不是 5.0)。我的以太网模块在闪烁后没有完成初始化。 问题: 程序闪烁后立即出现硬件故障,原因是" MemManage:处理器试图从一个不允许执行的位置获取指令。硬故障:故障已升级为硬故障。"在调试窗口中单击RESET按钮后,它会进入main.c ssattva1_1-1754643620648.png 在 EMACLLD_ClockInit_HwSwitch() 函数中,时钟切换没有发生,通过观察寄存器,我发现时钟切换请求失败,FIRC 是时钟源,而不是 EMAC_EXTERNAL_TX_RMII。"010b - 由于目标时钟不活动且当前时钟为 FIRC,请求失败后切换。" ssattva1_0-1754643881076.png 经过进一步挖掘,我决定将其与 LWIP 裸金属项目进行比较。上述寄存器在 device_init() 中的 Clock_Ip_Init () 之后显示成功,而 AVTP 项目的情况并非如此。 我使用的是同一个板和 PHY,但我不知道为什么在 AVTP 项目中它显示目标时钟处于非活动状态。 即使我注释掉 EMACLLD_ClockInit_HwSwitch() 函数,并在外设工具中进行适当的时钟配置,它也会再次卡在 DMA 初始位置。 ssattva1_1-1754644217547.png 请帮我解决这个拦截器。 使用的硬件:S32K358 评估板 PHY:ADTJA1101-RMII Re: Ethernet initialisation issues in AVTP project 你好@ssattva1、 很抱歉延迟回复--我在度假。 很高兴听到 LWIP 的例子对你有用。 关于REFCLK的电压下降,这似乎是硬件冲突。请确认 LWIP 示例和您的 AVTP 项目之间的 RMII 引脚配置是否匹配。具体来说,emac_mii_rmii_tx_clk 引脚应配置为输入。 换句话说,既然一个示例可以正常运行,我建议将其配置与另一个项目进行比较,以找出任何差异。 顺祝商祺! 帕维尔 Re: Ethernet initialisation issues in AVTP project 你好@PavelL,Lwip 示例在不对 RMII 的硬件进行这些更改的情况下也能工作。 我最近发现了这个东西,当我探测 ADTJA1101 中的电阻 65(即 REFCLK 沿线的电阻器)时,LWIP 项目的电压等级约为 2V,但是一旦我运行 AVTP 项目,它就会降至 1V。您能帮帮我吗? Re: Ethernet initialisation issues in AVTP project 你好@ssattva1、 我已经成功地在 S32K3X8EVB-Q289 上使用 TJA1103-SDBR 运行了 RGMII。 但是,RMII 需要对板进行一些硬件修改。详情请参阅 S32K3X8EVB-Q289硬件用户手册 第 13.2 节 (S32K3X8EVB-Q289HWUM.pdf)。 顺祝商祺! 帕维尔
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S32K344 停机 你好,团队、 我们正在使用 S32K344 构建定制的 MCU 板。在开发部分,我们使用 freeRTOS 作为操作系统。我们在初期运行中没有遇到任何问题。但当我们长时间运行时,比如超过 15 分钟,它就会挂起。请告诉我可能出了什么问题。 谢谢! 维奈 Re: S32K344 Halts 你好,@vinaykl、 您需要提供更多详细信息,以缩小问题范围。 你说的 "挂起 "到底是什么意思? 系统是陷入了循环,还是出现了故障异常? 是否有任务仍在运行,还是一切都冻结了? 这种行为可能是由堆栈溢出、堆耗尽、中断行为不当或任务饥饿等内存相关问题引起的。 S32DS IDE 包含有助于分析 FreeRTOS 应用程序的工具,如堆使用视图、任务列表视图等。 此致, 丹尼尔
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关于通过 MU 接口安装 HSE 的几个问题 你好,恩智浦 我正在尝试通过 MU 接口在我的 S32K344 开发板中安装 HSE。 在阅读了大量文档和文件后,我仍有一些问题。 1.我想在 Sram 中加入粉红色图像。我尝试使用 ld 文件直接将图像放入 sram,但似乎失败了。(使用 ld 文件将图像放入闪存即可) HSE_FLASH : ORIGIN = 0x00502000, LENGTH = 0x00030000 HSE_SRAM :ORIGIN = 0x20410000,LENGTH = 0x00030000 BianHaopeng_0-1757303785242.png 作为替代解决方案,现在我禁用 MPU,并使用 memcpy 将图像从闪存复制到 ram,这样就能正常工作了。 2。我使用 " power_IP_PerformReset (& power_IP_HwipsConfigpB); " 来调用功能 RESET。 BianHaopeng_1-1757303930520.png 当触发 " power_IP_performReset " 时,sram 中的内容会丢失,转到主函数的第一行。这似乎与文档不符、 BianHaopeng_3-1757304055509.png BianHaopeng_2-1757303951104.png 我的用法正确吗?这是功能RESET的正常行为吗?   3.如何 通过应用程序写入和读取 DCMRWP1 和 MU Rx/tx 寄存器。我尝试在调试中使用 jlink,但读写失败。 非常感谢。 Re: Few questions about HSE installation via MU interface 必须初始化 RAM 内存: lukaszadrapa_0-1757509410501.png 在 POR RESET 之后以及当 RAM 内容无效时进行破坏性 RESET 后,需要进行此初始化。RAM 内容会在功能 RESET 后保留,因此在这种情况下不需要 RAM 初始化。 lukaszadrapa_1-1757509478614.png 调试器中的"????????" 表示调试器无法读取数据。如果是内存,则是由于内存未初始化时出现了 ECC 错误。 回答你的问题 1。功能 RESET 将使 "App 核心" 回到 main.c 的第一行,但安装需要 2 次功能 RESET。我能保持 PC 指针不被 RESET 吗? -功能RESET将强制程序计数器移至入口点,而不是 main.c 的第一行。如果调试器停在 main 函数的第一行,则是由断点引起的。不可能让 PC 持续 RESET。正如我上面提到的,RAM 内容会在功能 RESET 期间保留。RAM 初始化可以是有条件的-您的启动代码在功能 RESET 后无需初始化 RAM。 2.我不知道如何通过应用程序写入和读取这些寄存器,你能教教我吗? - 这些是正常的内存映射寄存器。您可以像读写其他外设寄存器一样读写这些寄存器。HSE FW RM 中描述的 MU 安装方法甚至包含这些寄存器的地址。 问候, Lukas Re: Few questions about HSE installation via MU interface 非常感谢你的答复。 我的公司生产程序员。我们的一位客户选择使用 MU 安装,并将图像放入 SRAM。所以我正在研究,试图找到 自主开发程序员的实施计划。 Sram 中的内容被删除的原因已经找到: 在.ld文件,有一个配置 " __RAM_INIT = 0;" 这会导致每次 RESET 都会初始化 sra m。 我没有 trace32,所以用 Jlink。我试图通过调试器直接修改,但失败了。 警告:读取地址为 0x402AC2C0 的内存失败 警告:读取地址为 0x402AC2C0 的内存失败 警告:读取地址为 0x402AC66F 的内存失败   BianHaopeng_0-1757387656113.png 因此,我正在寻找新的方法,我的想法是通过应用程序控制 MU。 目前,我的主要困惑在于以下几点: 1。功能 RESET 将使 "App 核心" 回到 main.c 的第一行,但安装需要 2 次功能 RESET。我能保持 PC 指针不被 RESET 吗? 2.我不知道如何通过应用程序写入和读取这些寄存器,你能教教我吗? 我是第一次接触这种安装方法和集成开发环境,所以我的理解可能有一些不准确的地方。如果有任何错误,希望您能谅解和指正。 通过应用程序控制 MU 安装是否可行?   Re: Few questions about HSE installation via MU interface 你好@边浩鹏 首先,通过 MU 接口进行安装有什么特殊原因吗?这通常用于恢复目的。通过 IVT 安装是更常见的方法。 粉色图像可以留在闪存中。没必要把它移到内存中。RESET后,RAM 由启动代码初始化,变量也会被清除/初始化。这可能就是内存中不再有图像的原因。 此外,调试器在捕获 RESET 事件时通常会遇到问题,RESET 后的行为有时是不可预测的。最好在没有调试器的情况下测试此类操作。 使用劳特巴赫公司的 Trace32 调试器时,通过 MU 接口安装固件没有问题。超时时间足够长,在调试器中手动执行序列应该没有问题。 如何写入 DCMRWP1 寄存器?只能写入 24:31 位。我只需读出寄存器的内容,相应屏蔽 24:31 位,然后将该值写回。这在我这边起了作用。 此致, Lukas
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数字输入/ADC/PWM 输入完整性检查 我正在使用 MPC5746C 微控制器进行功能安全关键型 ECU 设计,我需要确保我的 ASILB ECU 的功能安全相关输入(数字输入、ADC、PWM)的完整性。 根据 MPC5746C 功能安全手册(修订版 2),第 5.2.31 节 (SIUL2) 和假设 [SM_232]、[SM_233] 和 [SM_237],建议使用冗余 I/O 模块或复制传感器来实现所需的功能安全完整性。 不过,由于当前系统的硬件限制,我只能使用单个硬件输入,没有冗余引脚或重复的传感器。因此,我无法实现硬件级冗余。 我想请您就以下方面提供指导 推荐或支持哪些软件或 MCU 级别的机制(例如诊断、自检或可信性检查)来确保此类非冗余配置中输入数据完整性? 在 SIUL2、ADC 或其他模块中,是否有寄存器、内部交叉检查或外设功能可用于在运行时检测故障(卡住、VDD/GND 短路等)? 恩智浦是否为单通道输入完整性监控提供任何参考实现或示例,以替代硬件冗余? Re: Inputs integrity check for Digital Input/ ADC/PWM 你好 在内部将单个 ADC 输入连接到不同的 ADC 通道并验证两个通道的输出如何?- 这种说法是否成立? 这样就可以排除内部 ADC 模块的故障。但也可以通过每隔一段时间进行 ADC 测试测量来消除这种情况,以确保 ADC 正确转换引脚信号。 有些 UC 还为此进行了 ADC 硬件自检。但这次不是。 如果引脚上存在电磁兼容干扰(感应),那么这种电磁兼容干扰也会从引脚传播到所有路由 ADC 通道。 换句话说,如果您在引脚上测量到不正确的电压(由于感应),您只能通过两个不相邻的输入引脚进行双重感应来消除这种情况。 我在这里看不到任何解决方法。 也许如果你知道要测量的预期电压范围,那么你可以编写一个比较+测试算法,使其至少在预期范围内,如果不是,你将进入安全状态(RESET/重新测量等...)。但这并不能捕捉边角情况。 请说明如何对数字输入和PWM 输入实施类似的完整性检查或故障检测机制? 以下是一些一般提示: 1.数字输入 - 完整性监测技术 卡死故障检测 上拉/下拉电阻器切换: 将输入引脚配置为内部上拉,然后切换为下拉。 如果输入值没有相应变化,则可能是卡住或短路。 输入激励(如有可能) 如果输入端连接到可控外部信号(如通过 MCU 输出或测试模式),则切换信号并验证输入响应。 可信度检查 时间行为:确保输入在预期时间间隔内切换。 与系统状态交叉检查:例如,如果预期某个开关在某个操作过程中处于关闭状态,则标记意外接通状态。 2.PWM 输入 - 完整性监测技术 捕获和测量占空比 在输入捕获模式下使用 emiOS 可以: 测量频率、占空比和脉冲宽度。 与预期范围或模式进行比较。 可信度检查 范围检查:确保占空比和频率在有效范围内。 变化率:检测突然跳变或冻结的信号。 超时检测:如果在时间窗口内未检测到边沿,则标记为故障。 与 ADC 或系统状态交叉检查 如果 PWM 输入控制物理致动器(例如风扇),则将测得的 PWM 与 ADC 反馈(例如 RPM 传感器)进行比较。 据我了解,在每次破坏性RESET期间,STCU 已经验证了外设的完整性,而 ADC的输入完整性只能通过冗余输入通道得到充分保证。请确认这一解释是否正确。 是,如果选择并启用了 ADC 的 STCU BIST。除了冗余测量之外,我看不到其他确保测量信号正确的方法。由于电磁兼容性通常不会影响所有引脚。这只是邻居针脚的感应。 顺祝商祺! Peter Re: Inputs integrity check for Digital Input/ ADC/PWM 正如您所提到的,在同一 ADC 通道上执行多次读取(突发采样)可以提高诊断覆盖率,但无法检测到所有类型的故障。因此,这种方法并不能完全有效地确保电磁兼容性条件下的输入完整性。 在内部将单个 ADC 输入连接到不同的 ADC 通道并验证两个通道的输出如何?- 这种说法是否成立? 请说明如何对数字输入和PWM 输入实施类似的完整性检查或故障检测机制? AshokSubramani_0-1760001920479.png 据我了解,在每次破坏性RESET期间,STCU 已经验证了外设的完整性,而 ADC的输入完整性只能通过冗余输入通道得到充分保证。请确认这一解释是否正确。 Re: Inputs integrity check for Digital Input/ ADC/PWM 你好 推荐或支持哪些软件或 MCU 级别的机制(例如诊断、自检或可信性检查)来确保此类非冗余配置中输入数据完整性? 好吧,你很难用软件对策取代硬件层面的冗余读取。我不清楚 ASIL-B 标准中关于 ADC 读冗余的具体要求,但您可以在同一通道上进行多次读取(如突发),然后查看所有数据是否都在所需的阈值范围内。 但是,如果输入受到电磁兼容性的干扰,这就没有什么用了。 因此,需要对引脚分布的 2 个通道进行物理读取。 在 SIUL2、ADC 或其他模块中,是否有寄存器、内部交叉检查或外设功能可用于在运行时检测故障(卡住、VDD/GND 短路等)? 我不用担心外设的完整性,因为它在每次破坏性 RESET 时都会由 STCU2 逻辑 BIST 进行测试。该设备没有像 ASIL-D 设备那样的版本 ADC 自检功能。 恩智浦是否为单通道输入完整性监控提供任何参考实现或示例,以替代硬件冗余? 不,我们通过多种渠道为 HW 提供支持。而且我看不出任何软件示例将如何帮助消除模拟引脚上的电磁干扰。 我认为 ASIL-B 要求的目的是消除 EMC 导致的通道错误读取,因此您需要对遍布 uC 的引脚进行冗余读取。 顺祝商祺! Peter
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Bluetoothレンジングアクセス車載イネーブルメント・システム Blue Ravens (Bluetooth Ranging Access Vehicle Enablement System) は、NXP 製品を使用して、お客様が独自の BLE ベースの車載アクセスソリューションを設計できるように支援するために NXP が開発したシステムソリューションです。モジュラーアプローチを通じて、さまざまな車載アクセスユースケースをサポートするように設計されています。主な目的(ただしこれに限定されません)は、自動車のユースケースにおける チャネル・サウンディング 技術とNXP BLEハンドオーバーのすべての機能と利点を紹介することです。 チャネルサウンディング は、新しいBluetooth Low Energy (BLE) 規格 (BLE 6.0) の一部であり、高精度の距離測定ソリューションとして、NXP KW47チップで利用可能です。 BLEハンドオーバー は、NXPが独自に開発した機能で、帯域外のチャネル(例:CAN)を使用して、切断することなく、あるデバイスから別のデバイスにBLE接続をシームレスに転送します。この転送はピアデバイスに影響を与えないため、相互運用性が保証されます。この機能は、BLE接続のRSSIスニッフィングを有効にして、RSSIに基づくシステムのセキュリティを強化するためにも使用できます。(KW45 & KW47) そのモジュール性により、このシステムはシンプルなBLE接続システムから完全なBLEチャネル・サウンディングポジショニングシステムまで、複数のユースケースに対応できます。チャネル・サウンディングはKW47チップでのみサポートされていることにご注意ください。KW45は単純なBLEシステムにのみCAN使用可能です。デフォルトでは、KW47のシステムは、1つのリモートデバイス(デジタルキー)と複数の異なる固定デバイス(カーアンカー)間の距離を測定するためのチャネル・サウンディングの基本的な使用をカバーしています。各時点で、デジタルキーに接続されているアンカーは1つだけです。他のアンカー(接続されていない)は、接続RSSIスニッフィングモード(ハンドオーバーに基づく)に設定できます。このモードでは、アドバタイジングパケットの代わりに接続のRSSI値にアクセスすることで、システムのセキュリティが向上します。これらのRSSI値は、ラウンドロビンで使用するアンカーを推定したり、車両の周囲で最適なBLEリンクを維持したりするためにCAN。 neidys_vargas_0-1752250251016.png     システムは複数の KW4xボードで構成され、それぞれが特定の役割を担っています。ボードはデジタル・キーとして使用され、ユーザーが携帯し、もう一方は車のサブシステムを表します。このカーサブシステムでは、すべてのボードがCANバスを使って相互に接続されています。CANバスは、すべてのボードに12Vを供給し、ボード間の通信を可能にする役割を果たします。 neidys_vargas_1-1752250251039.png 制御ユニット (KW4x EVKボード) 車用アンカー(KW4x LOCボード) デジタルキー(KW4x LOCボード) 役割: 中央意思決定ノード 機能: ・BLEアンカーを調整します。 - 受信したデータに基づいてアクションをトリガーします   役割: CANバスを介してコントロールユニットに接続されたBLEデバイス 機能: - BLEの存在をアドバタイズします。 - デジタルキーの接続を待ちます。 - セッション中にCSのイニシエーターとして機能します。 役割: リモートのBLEデバイスとして機能します 機能: - BLEアンカーをスキャンします。 - カーアンカーとの接続を開始します。 - 接続されると、CS反射器として振る舞います。     デスクトップアプリケーションは、システムの状態とシステムが実行する測定を監視するために使用されます: neidys_vargas_8-1752250480774.png 各アンカーでの連続測定を使用することで、車のサブシステムはデジタルキーのポジショニングを推定できます(免責事項:このソリューションは動的環境では正確とはみなされません)   neidys_vargas_9-1752250744081.png 特長   BLE接続 現時点では1つの接続のみをサポートしています(複数ピアプラン) BLEチャネルサウンディング(KW47のみ) はい RSSIスニッフィング はい – すべての接続されていないアンカー サブオプティマルアンカーの自動排除 はい CSコンテキストでのBLEハンドオーバー(CSリピートなし) はい 三辺測量アルゴリズム はい 測定フィルタリング(リアルタイム) はい 検出領域がアクションをトリガーする場合(例:ウェルカムゾーン) はい カーアンカーCAN同期(ラジオコア同期) なし(次回リリース予定) チャネル・サウンディング・スニッフィング いいえ(実現可能性調査が進行中)   KPI   アンカーの数 2から8まで デジタルキーの数 1 BLE接続間隔 7.5ms~4s(デフォルト=30ms) BLEハンドオーバー接続転送時間(+CSコンテキスト転送) <60 ms (CI=30 ms) <50ms(CI=10ms) CS開始遅延 (2+7)*CI CSの測定とデータ転送(リアルタイム) <70ms(CI=30ms) CSアルゴ <30ミリ秒 フルサイクルタイム(CS +ハンドオーバー) [ハンドオーバー完了後、アルゴリズムはアンカー上で非同期的に実行されます] 390ms(CI=30ms) 190 ms(CI=10 ms) 見通しCS測定範囲 最大100m(10dBm時) バックポケットのCS測定範囲 10m(10dB)   このソリューションは開発中であり、FUTUREのリリースで改善が追加される予定です。 このシステムは、ウルトラワイドバンドのサポートで強化することもできます。 ビデオ このビデオは現在処理中です。数分後にもう一度お試しください。 (マイビデオで視聴) アクセスについては、[email protected] にお問い合わせください
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S32N55 - RTD ドライバによる NETC 送信の問題。 こんにちは、チームの皆さん 確認関数と送信関数が 2 つの別々のタスクから呼び出されると、NETC 送信で問題が発生しました。 Example_Task1ms: Eth_43_NETC_TxConfirmation Example_Task5ms: Eth_43_NETC_ProvideTxBuffer と Eth_43_NETC_Transmit この例をしばらく (数分) 実行した後、TX バッファを取得できなくなります。 以下の条件が満たされていないため、すべての TX バッファが解放されていないことがわかりました。 buff == Netc_Eth_Ip_apxState[ctrlIndex]->TxDataBuffAddr[ring][LastDescrCheckIndex](下図参照)です。 この例は、SW32N5_GRAYVIP_1_0_22_0 内のコホート 2 VIP アプリケーションです。 ソフトウェア: SW32N_RTD_R21-11_1.8.0_CD05 + SW32N5_GRAYVIP_1_0_22_0 ハードウェア: S32N55 RDB よろしくお願いいたします。 唐生。 RTD Re: S32N55 -NETC transmit issue with RTD driver. こんにちは@Tangsheng_Zhouさん 私は GrayVip で働いていないので、このプロジェクトの運営をコントロールすることはできません。SO、いくつかの情報を提供してください。これは、前の質問に添付された情報と同時に読むことができます (lastTxBd = 14 だが buff = 16 の場合など)。 - Netc_Eth_Ip_apxState[] を完全に読み取ることができますか? Tx リング サイズなど、Tx に関連するすべての情報です。 - Eth_43_NETC_axTransmissionRequests[CtrlIdx][FifoIdx] を読み取ることができますか - 各タスクに対してどのような順序で呼び出しましたか?Transmit を呼び出す前に ProvideTx のステータスを確認するなど... よろしくお願いいたします。 ニ Re: S32N55 -NETC transmit issue with RTD driver. または、Thread 呼び出し TxConfirmation によって Transmit および ProvideTxBuf 関数が中断されることはありません。 Re: S32N55 -NETC transmit issue with RTD driver. こんにちは@Nhi_Nguyen ご説明いただきSOありがとうございました。 私はあなたに同意します。問題の瞬間を捉えようとしましたが、失敗しました。 この関数は再入不可能であることを理解しています。 「非再入可能」についての私の理解は、非再入可能とは、関数が実行を終了する前に再度呼び出すことができないことを意味します。ただし、他のThreadが同じ関数を呼び出さない限り、他のThreadによって中断される可能性があります。 私の理解では、非再入可能≠非割り込み可能 現在、関数 Eth_43_NETC_TxConfirmation は、Provide_TxBuf や Transmit などの Thread 呼び出しによって割り込まれることはありません。 このデザインは許容できるものと考えられるべきでしょうか、それとも重要な共有変数に対して安全策を導入する必要があるのでしょうか? よろしくお願いいたします。 唐生。 Re: S32N55 -NETC transmit issue with RTD driver. こんにちは@Tangsheng_Zhouさん 再入関数の定義を確認しましたが、あなたの意見に同意します。チケットARTDCC1-494をSWチームに提出しました。このチケットをフォローしてステータスを確認してください。 よろしくお願いいたします。 ニ Re: S32N55 -NETC transmit issue with RTD driver. @Nhi_Nguyen はい、サポートしていただきありがとうございました。 よろしくお願いいたします。 唐生。
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モデルベースデザイン - テストプラットフォーム <meta http-equiv="Content-Type" content="text/html; charset=utf-8" /> 短い未編集のビデオ - さまざまなシナリオ テストをサポートするスコープで作成されたカスタム デモ プラットフォームでのモデルベース デザインの動作を示しています。 (マイビデオで視聴) ビデオ・センター
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NXPマイクロコントローラー;スマート、セキュア、コネクテッド <meta http-equiv="Content-Type" content="text/html; charset=utf-8" /> マイクロコントローラソリューション 幅広い価格性能ポイントでマルチ製品開発を可能に SWの所有コストの削減 ハードウェアとソフトウェアのソリューションを緊密に統合した市場投入までの時間を短縮 サービス&サポート NXPマイクロコントローラ KinetisとLPCのマイコン賢い。確保。安全で、接続されています。 賢い パフォーマンスを向上させ、スペースと電力のバジェットを削減して、より電力効率の高い インテリジェントなエッジノード処理 セキュア ファミリー全体でスケーラブルなセキュリティを提供し、安全なエッジノード処理を容易にします。 適切な価格/性能比 接続 すべての主要な有線および家庭内無線接続バックボーンを提供しながら、削減を促進します の所有コスト <meta http-equiv="Content-Type" content="text/html; charset=utf-8" /> マイクロコントローラソリューション 幅広い価格性能ポイントでマルチ製品開発を可能に SWの所有コストの削減 ハードウェアとソフトウェアのソリューションを緊密に統合した市場投入までの時間を短縮 サービス&サポート NXPマイクロコントローラ KinetisとLPCのマイコン賢い。確保。安全で、接続されています。 賢い パフォーマンスを向上させ、スペースと電力のバジェットを削減して、より電力効率の高い インテリジェントなエッジノード処理 セキュア ファミリー全体でスケーラブルなセキュリティを提供し、安全なエッジノード処理を容易にします。 適切な価格/性能比 接続 すべての主要な有線および家庭内無線接続バックボーンを提供しながら、削減を促進します の所有コスト
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S32K39-37-36 – eFlexPWM/TRGMUX/BCTU/SAR-ADC/DMA – [RTD600] 摘要 本示例基于 RTD 低级 API,在 S32K39-37-36 系列上使用 eFlexPWM、TRGMUX、BCTU、SAR-ADC 和 DMA 模块,展示了一个带有死区插入和硬件 ADC 触发的互补 PWM 输出的用例,以支持多样化的应用需求。 连接: S32K396-BGA-DC1 -> 引脚 -> 信号 -> 标签 J62-1 -> PTC30 -> siul2_gpio_94 -> GPIO1_GPT J62-5 -> PTD2 -> pwm_0_a, 2 -> PWM1 J62-6 -> PTD3 -> pwm_0_b, 2 -> PWM2 J62-30 -> PTD24 -> pwm_0_a, 0 -> PWMT J62-2 -> PTC31 -> siul2_gpio_95 -> GPIO3_BTCU_Trigger J62-4 -> PTD6 -> siul2_gpio_102 -> GPIO4_BTCU_Watermark J62-24 -> PTB14 -> adc1_s21 -> ADC1 *要连接 S32X-MB 的电位器: J62-24(在 S32K396-BGA-DC1 中)连接到P26-1(在 S32X-MB 中) 注意: 每次在配置工具中更新代码时,应在项目 /generate/src/Bctu_Ip_PBcfg.c 中添加以下行: #define DMA_LOGIC_CH_0 ((uint8)0U) 详细说明: GPT eMIOS 0 通道 0 的比较值生成一个超时周期。达到超时时间后,其 eMIOS 通知会切换 GPIO1。这使我们能够在示波器中观察到两个事件,这两个事件描述了信号序列的开始和结束。 eFlexPWM0 模块用于生成 PWM 和硬件 ADC 触发。 eFlexPWM0子模块2用于生成中心对齐的互补PWM输出(PWM1和PWM2),并插入死区时间。 eFlexPWM0 子模块 0 生成另一个独立的 PWM 输出 (PWMT),并用于在同一个 PWM 周期内生成模拟数据捕获的触发信号——在本例中,该触发信号在 PWM 高电平持续时间的一半时发生——使用 VAL0 寄存器。 BCTU 使用 ADC0 和 ADC1 实现并行转换列表。该列表由 eMIOS 通道触发,所得数据存储在 FIFO1 中,具体如下: • ADC0: VREFH_ChanNum51 -> BANDGAP_ChanNum48 • ADC1: VREFL_ChanNum50 -> S21_ChanNum45 为了调试,每次 BCTU 触发通知时都会切换 GPIO3。此外,每次 FIFO 中有效条目数超过水位线水平时,都会发生 BCTU 水位线通知,此时会切换 GPIO4,因此数据可供读取。 详见 图 1的完整信号序列: _Leo__0-1757704142905.png 图 1 示例项目的信号 当您暂停调试会话时,在“表达式”选项卡(图 2)中可以观察到结果:g_fifo1Result 对应 BCTU 列表测量值,而 g_fifo1Volts 对应以伏特为单位的转换值。 _Leo__1-1757633126890.png 图 2. 示例项目的“表达式”选项卡 参考文献 S32 Design Studio for S32 Platform 实时驱动(RTD) S32K39、S32K37和S32K36数据手册[S32K39-S32K37-DS] S32K39、S32K37和S32K36参考手册 [S32K396RM] S32K344 到 S32K39/S32K37 迁移指南 [AN14301] S32K39/37/36电气化微控制器评估板[S32K396-BGA-DC1] 用于实时域控制和驱动的 S32X-MB I/O 扩展评估板 [S32X-MB] S32K39-37-36 – eMIOS/BTCU/SAR-ADC/DMA – [RTD600] [S32K 知识库] 应用软件: - S32K396_RTD600_eFlexPWM_TRGMUX_BCTU_SARADC_DMA 示例通过以下 IDE 和驱动程序版本构建和测试: - S32 Design Studio for S32 Platform 版本 3.6.3 - S32K3_S32M27x 实时驱动程序 ASR R21-11 版本 6.0.0
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i.MX v24.12 配置工具现已推出 我们很高兴地宣布,i.MX v24.12 的配置工具现已推出。 下载与链接 如需下载适用于所有平台的安装程序,请通过以下链接登录我们的下载网站: https://www.nxp.com/design/designs/config-tools-for-i-mx-applications-processors:CONFIG-TOOLS-IMX 有关安装和快速入门指南,请参考文档。 如需了解有关 DDR 配置和验证的更多信息,请访问此 博客文章。 发布说明 发布的完整详细信息(功能、已知问题……) • DDR 工具 – 增加了对自定义系统管理器图像导入的支持。 – 启用 i.MX 95 高级测试:用于 DQ 的 Vref 和用于 CA 优化的 Vref • SerDes 工具 – 添加了 i.MX 95 的 GUI 上的 TX 配置附加参数(摆动、裕度、均衡)。 – PCIe Gen1/Gen2/Gen3 开启模式生成。 •时钟 – 支持模块化时钟初始化。 – 初始化模式在时钟图和详细信息视图中可见。 – 创建了新的模块初始化视图,用于配置初始化模式和模块的核心选择。 •球座 – 支持对相同地址和不同地址空间的区域进行配置和概览。 – 可以为全局选项组切换代码生成。 – 支持在设置 TRDC 之前释放 ELE 加密货币的流程。 •别针 – 添加了各种 Pins 配置选项的杂项选项卡。 – 添加了路由对话框的过滤。
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[FINISHED] UX design for MCUXpresso Configuration Tools [Title CZ/SK] UX design pre MCUXpresso Configuration Tools Assignment UX (User experience) design is one of the main deciding factors in the choice of a software application. Analyze UX of MCUXpresso Configuration Tools, specifically its user interface. Suggest specific user interface improvements. Create examples of suggested improvements. Compare the examples with the current solution. Test the examples with the help of app users. Assignment CZ/SK UX design aplikácie je jedným z kľúčových faktorov na základe ktorých sa užívateľ rozhoduje o používaní aplikácie. Analyzujte UX aplikácie MCUXpresso Configuration Tools so zameraním na GUI. Navrhnite konkrétne vylepšenia pre prácu s aplikáciou. Vytvorte ukážky navrhnutých vylepšení. Tieto ukážky porovnajte s existujúcim riešením. Vytvorené ukážky otestujte na užívateloch aplikácie. Language CZ/SK/EN   Leaders David Danaj   Contact University team NXP Semiconductors CZ  Apply by email  Finished
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通过 Volume Curve 保护您的 LPC55Sxx 器件从原型设计到生产 确保在整个产品生命周期内保护宝贵的知识产权,可以帮助您安心并防止业务收入损失。该网络研讨会将概述恩智浦 LPC5500 MCU 系列提供的安全功能以及如何在制造过程中利用这些功能。EPS Global 是一家全球性的 IC 编程和安全配置服务提供商,它将讨论这些安全功能为 IP 保护带来的价值,并概述 LPC5500 MCU 系列可用的制造流程,以在产品的整个生命周期(从设计到整个制造供应链)提供端到端的安全性。 演讲者: 恩智浦生态系统产品营销人员 Clark Jarvis Brian Colgan,EPS Global 现场应用工程师 Arm® 处理器 LPC微控制器
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2D LCD Graphic Solutions - Vybrid and QorIQ Demo Owner Juan Antonio Gutierrez Rosas   Watch as the 2D-ACE display controller allows responsive and eye-catching graphics and keeps the system costs, power consumption and board size low.   Features Display control unit - Hardware 2D animation and composition engine Rich set of capabilities that allow to build engaging graphical content with MINIMUM CPU intervention Featured NXP Products Vybrid QorIQ Links Introduction to the Vybrid Tower System   Mobile
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i.MX51 EVK Changing Env Changing the storage for U-boot environment variables   U-Boot on Freescale BSP has a compiling option that allows you to choose the storage for environment variables.   1 - Extract the u-boot source using LTIB: ./ltib -m prep -p u-boot   2 - The source will be extracted to /rpm/BUILD/u-boot-2009.08   3 - On u-Boot source locate the i.MXEVK config file, /rpm/BUILD/u-boot-2009.08/include/configs/mx51_bbg.h   4 - To change the storage of variables environment to SD card, on this file, comment out CONFIG_FSL_ENV_IN_SF and define CONFIG_FSL_ENV_IN_MMC:   //#define CONFIG_FSL_ENV_IN_SF   #define CONFIG_FSL_ENV_IN_MMC 5 - Adjust CONFIG_ENV_SECT_SIZE and CONFIG_ENV_OFFSET accordingly. Recall that sd card read block size is 512B.   For example:   #define CONFIG_ENV_SECT_SIZE (256 * 512)   #define CONFIG_ENV_SIZE CONFIG_ENV_SECT_SIZE   #if defined(CONFIG_FSL_ENV_IN_MMC)   #define CONFIG_ENV_IS_IN_MMC 1 #define CONFIG_ENV_OFFSET (1023 * 512)   6 - Save the file.   7 - Recompile u-boot: ./ltib -m scbuild -p u-boot   8 - Your new compiled u-boot image will be saved at: /rpm/BUILD/u-boot-2009.08/u-boot.bin i.MX51
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低功耗物联网应用传感器的使用技巧 <meta http-equiv="Content-Type" content="text/html; charset=utf-8" /> 本次会议将详细介绍当今一些最流行的物联网传感应用,如资产跟踪、机器状态监控、活动监控、钥匙扣、智能门、智能球、吸入器、暖通空调等。这将涉及展示 NXP 的演示/参考设计来解释一些关键应用程序的执行。它还将介绍实现上述应用的低功耗技术。 <meta http-equiv="Content-Type" content="text/html; charset=utf-8" /> 本次会议将详细介绍当今一些最流行的物联网传感应用,如资产跟踪、机器状态监控、活动监控、钥匙扣、智能门、智能球、吸入器、暖通空调等。这将涉及展示 NXP 的演示/参考设计来解释一些关键应用程序的执行。它还将介绍实现上述应用的低功耗技术。
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动力总成和车辆动力学:电气化——用于高压电池管理系统的 MC3377x 电池控制器 <meta http-equiv="Content-Type" content="text/html; charset=utf-8" /> 用于 HV BMS 的 MC33771x IC 产品培训。1- 简短的BMS市场介绍(包括。关键参与者、要求、竞争对手);2- 介绍 NXP BMS 路线图和关键产品(BCC14、BCC6 和 TPL);3- 关键 BMS 应用(14V、48V、HV 菊花链、HV CAN、无线),包括差异化和价值主张;4- 市场、应用、参考设计和产品展望;5- 功能安全方面 - 系统安全目标以及如何实现功能安全。 <meta http-equiv="Content-Type" content="text/html; charset=utf-8" /> 用于 HV BMS 的 MC33771x IC 产品培训。1- 简短的BMS市场介绍(包括。关键参与者、要求、竞争对手);2- 介绍 NXP BMS 路线图和关键产品(BCC14、BCC6 和 TPL);3- 关键 BMS 应用(14V、48V、HV 菊花链、HV CAN、无线),包括差异化和价值主张;4- 市场、应用、参考设计和产品展望;5- 功能安全方面 - 系统安全目标以及如何实现功能安全。
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适用于 S32 平台的 S32 Design Studio 工具 - 重点概述支持我们下一代产品的 S32 Design Studio 工具 <meta http-equiv="Content-Type" content="text/html; charset=utf-8" /> 本演示概述了支持 S32 平台 MCU 和应用处理器的新工具链,其中包括带有新项目生成的 IDE、易于使用和入门的大量附属品以及下一代调试器工具、专为 S32 平台设计的新 Flash 工具、S32 配置工具以及集成到工具链中以方便客户使用的众多软件产品。 <meta http-equiv="Content-Type" content="text/html; charset=utf-8" /> 本演示概述了支持 S32 平台 MCU 和应用处理器的新工具链,其中包括带有新项目生成的 IDE、易于使用和入门的大量附属品以及下一代调试器工具、专为 S32 平台设计的新 Flash 工具、S32 配置工具以及集成到工具链中以方便客户使用的众多软件产品。 Arm® 处理器
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