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Security-updated prebuilts for Android Automotive 16.0.0_1.3.0 without breaking kernel/U-Boot builds Hi, we are using NXP Android Automotive 16.0.0_1.3.0 with kernel 6.12 and the prebuilt revisions documented by NXP: platform/prebuilts/clang/host/linux-x86 66acdd82ee62e4aaa4248f03191c59dfed9db193 kernel/prebuilts/build-tools 3c5e4f14b451ec85167c38b917d2459687abd7f4 platform/prebuilts/rust 5156e7f81ae254c79ee736e44c960e75ad685c67 platform/prebuilts/clang-tools 17329f6590e2872dcf04a0c96a176be089470cd9 These are the revisions listed in the NXP Android Automotive User's Guide for this release. The build works with these revisions, but our container vulnerability scan reports several HIGH and CRITICAL findings inside the supplied Android prebuilts. For example, the Clang prebuilts contain embedded Go standard libraries. For clang-r536225/bin/clang, the scan reports: Total: 22 HIGH: 21 CRITICAL: 1 Go stdlib version: v1.23.2 Example: CVE-2025-68121 crypto/tls - incorrect certificate validation The same finding pattern also appears in clang++ and clang-tidy, and in the newer clang-r547379 binaries where the embedded Go version is v1.23.4. The NXP-pinned kernel/prebuilts/build-tools also contains affected soong_zip binaries with the same Go-stdlib finding pattern. The Rust prebuilts also contain findings in shipped Cargo lock files, for example: thin-vec 0.2.13 CVE-2026-6654 fixed in 0.2.16 hashbrown 0.15.0 GHSA-wwq9-3cpr-mm53 fixed in 0.15.1 We do not want to replace the documented revisions with arbitrary newer AOSP commits, because these prebuilts are part of the NXP kernel/U-Boot build environment and we want to preserve compatibility with Android Automotive 16.0.0_1.3.0 / kernel 6.12. Are there newer NXP-recommended or known-compatible commit IDs for these prebuilts? In particular, we are looking for updated revisions for: platform/prebuilts/clang/host/linux-x86 kernel/prebuilts/build-tools platform/prebuilts/rust platform/prebuilts/clang-tools   Has NXP, or anyone in the community, already updated these revisions and verified that the following still work? Ideally, we would also like confirmation that a complete Android Automotive build still works with the updated prebuilts. We would prefer to update the affected prebuilts instead of permanently suppressing the security findings. I have attached the failed vulnerability scan log for reference. It contains the complete findings for the affected Clang, kernel build-tools and Rust prebuilts, including detected embedded versions and available fixed versions. Thanks. Android Re: Security-updated prebuilts for Android Automotive 16.0.0_1.3.0 without breaking kernel/U-Boot bu Hello, I'm reviewing your issue, I'll keep you updated.  Regards. Re: Security-updated prebuilts for Android Automotive 16.0.0_1.3.0 without breaking kernel/U-Boot bu Hello,  Internal team has shared below reply.   We have not any newer recommended/know-compatible commit IDs for  platform/prebuilts/clang/host/linux-x86 kernel/prebuilts/build-tools platform/prebuilts/rust platform/prebuilts/clang-tools and for Android 16.0 automotive 1.3.0 release version.   Android 16.0 automotive 1.3.0 has been released on May-21 2026, since then there have been no updates for this release. We do not update Android automotive releases; we are working on the next Android automotive release => Android 16.0 automotive 2.1.0 based on Linux kernel 6.18.y & with updated Linux kernel build tools. External release date of AA16.0 2.1.0 is on Oct-13 2026.
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T1042NXE BSDL 文件 您好,我正在寻找该组件的BSDL文件: T1042NXE7PQB BGA780 你能把文件发给我吗? 谢谢! Re: T1042NXE BSDL file 你好, 您的元器件T1042NXE7PQB的 BSDL 文件包含在T1040/T1042 组合 BSDL 文件(文件名: T1040_and_T1042_1.1.bsdl )中。这个文件同时适用于 T1040 和 T1042 处理器。 如何下载 该文件可直接在 NXP 产品页面的“设计资源”→“设计文件”→“模型”下找到: T1040/42 的 BSDL 文件 — 下载(需要账号) 文件代码: T1040-T1042-BSDL 修订版:R1A(2019年2月20日) 大小:110.13 KB 此致 Re: T1042NXE BSDL file 你好, 谢谢你的回答。
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LX2080A Linux 开发支持 – Yocto 和 Buildroot 你好, 我正在使用 NXP LX2080A 平台,并希望开发一个嵌入式 Linux 系统。 我想了解恩智浦为LX2080A提供的Linux开发支持。 Yocto是否获得官方支持?如果可以,我可以在哪里找到 NXP Yocto 电路板支持包。/层? Buildroot 是否正式支持 LX2080A? NXP是否有推荐的用于Linux开发的BSP/SDK? 请分享相关文档、源代码库或指南。 谢谢! Re: LX2080A Linux Development Support – Yocto and Buildroot 请参阅https://www.nxp.com/webapp/Download?colCode=LX2160ARDBGSG ,第 11 页。 通过将 SW3[1:3] 从 111 改为 110,该板将作为 LX2080A 平台启动。 任何所需的 RCW、ATF 或其他软件修改将取决于您的具体硬件设计,并且可能与参考 LX2160ARDB 实现有所不同。 谢谢。 Re: LX2080A Linux Development Support – Yocto and Buildroot 你好, 谢谢你提供的信息。 我想澄清一下关于LX2080A的一点。 如果我们使用 LX2160A-RDB 软件和参考配置在 LX2080A 上启用 Linux,是否需要对 RCW(重置配置字)或 ATF(TF-A)配置进行任何更改以支持 LX2080A? 具体来说,LX2160A-RDB 使用的 RCW 和 ATF 配置是否可以用于 LX2080A,还是需要对 LX2080A 进行修改? 谢谢。 Re: LX2080A Linux Development Support – Yocto and Buildroot LX2080A 属于 LX2 系列,而 LX2 系列普遍支持 Linux 软件。LX2160A-RDB 通常用作软件启用的参考硬件平台。 对于 Linux 开发,支持 Layerscape Yocto BSP (LDP Yocto)。源代码和图层可从以下网址获取: https://github.com/nxp-qoriq/yocto-sdk/tree/walnascar 请参考:UG10374 和 UG10381。 NXP 的官方 Linux 支持基于 Layerscape LDP / Yocto 版本。我们没有为 LX2080A 提供专用的 Buildroot 电路板支持包 版本。 Layerscape LDP 页面提供以下最新软件版本、文档和支持的设备信息: https://www.nxp.com/design/design-center/software/embedded-software/cross-platform-embedded/layerscape-linux-distribution-poc:LAYERSCAPE-SDK 谢谢!
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How to escalate a problem with AT&T? Facing an AT&T problem that keeps going unresolved? AT&T Escalation Support Team
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Android オートモーティブ 16.0.0_1.3.0向けのセキュリティアップデート済みプリビルドで、カーネルやU-Bootビルドを壊さずに提供されました こんにちは、 NXPの Android オートモーティブ 16.0.0_1.3.0をカーネル6.12 と、NXPが文書化したプリビルドのリビジョンを使用しています。 プラットフォーム/Prebuilts/Clang/Host/Linux-x86 66acdd82ee62e4AAAA4248F03191C59DFED9DB193 カーネル/prebuilts/build-tools 3c5e4f14b451ec85167c38b917d2459687abd7f4 プラットフォーム/prebuilts/rust 5156e7f81ae254c79ee736e44C960e75AD685C67 プラットフォーム/prebuilts/clang-tools 17329f6590e2872dcf04a0c96a176be089470cd9 これらは本リリースのNXP Android Automotiveユーザーガイドに記載された改訂版です。 ビルドはこれらのリビジョンで動作しますが、当社のコンテナ脆弱性スキャンでは、 提供されたAndroidプリビルト内でいくつかのHIGHかつCRITICALな発見が報告されています。 例えば、Clangのプリビルド版にはGoの標準ライブラリが組み込まれています。clang-r536225/bin/clang のスキャン結果は以下のとおりです。 合計: 22 高: 21 重大: 1 Go stdlib バージョン: v1.23.2 例: CVE-2025-68121 crypto/tls - 証明書の検証が正しく行われていない 同様の検出パターンは、clang++ および clang-tidy、そして組み込みの Go バージョンが v1.23.4 である新しい clang-r547379 バイナリでも見られます。 NXPが固定しているkernel/prebuilts/build-toolsにも、同じGo-stdlib検出パターンを持つ、影響を受けるsoong_zipバイナリが含まれています。 Rustのプリビルド版には、出荷されるCargoロックファイルに含まれる発見事項も含まれています。例えば、以下のとおりです。 thin-vec 0.2.13 CVE-2026-6654 は 0.2.16 で修正されました。 hashbrown 0.15.0 GHSA-wwq9-3cpr-mm53 は 0.15.1 で修正されました。 これらのプリビルドはNXPカーネル/U-Bootビルド環境の一部であり、 Android Automotive 16.0.0_1.3.0 / カーネル6.12との互換性を維持したいため、ドキュメント化されたリビジョンを任意の新しいAOSPコミットで置き換えるつもりはありません。 これらのプリビルド製品に対応する、NXPが推奨する、または互換性が確認されている新しいコミットIDはありますか? 特に、以下の項目に関する最新の改訂版を求めています。 platform/prebuilts/clang/host/linux-x86 カーネル/prebuilts/build-tools platform/prebuilts/rust platform/prebuilts/clang-tools   NXP社、あるいはコミュニティの誰かが、これらの改訂版を既に更新し、以下の内容が引き続き正常に動作することを確認しましたか? 理想的には、更新されたプリビルト車と完全なAndroid Automotiveビルドがまだ動作するかどうかの確認も望んでいます。 セキュリティ調査結果を恒久的に抑制するよりも、影響を受けたプリビルトを更新したいと考えています。 参考までに、失敗した脆弱性スキャンログを添付しました。これには、影響を受けるClang、カーネルビルドツール、およびRustのプリビルド版に関する完全な調査結果が含まれており、検出された組み込みバージョンと利用可能な修正バージョンも含まれています。 ありがとうございます。 Android Re: Security-updated prebuilts for Android Automotive 16.0.0_1.3.0 without breaking kernel/U-Boot bu こんにちは、 ご指摘いただいた件について調査中です。進捗状況は随時ご連絡いたします。 よろしくお願いします。 Re: Security-updated prebuilts for Android Automotive 16.0.0_1.3.0 without breaking kernel/U-Boot bu こんにちは、 社内チームから以下の回答が寄せられました。 推奨/互換性のある新しいコミット ID はありません。 プラットフォーム/プリビルト/CLANG/ホスト/Linux-x86 kernel/prebuilts/build-tools プラットフォーム/プレビルド/錆 プラットフォーム/プレビルド/クラングツール そしてAndroid 16.0のオートモーティブ向け1.3.0リリースバージョンです。   Android 16.0 オートモーティブ 1.3.0は2026年5月21日にリリースされましたが、それ以降はアップデートはありません。Androidオートモーティブのアップデートは行っていません。次回のAndroid オートモーティブ リリースに取り組んでいます => Android 16.0 automotive 2.1.0Linuxカーネル6.18.yをベースにし、最新のLinuxカーネルビルドツールを用いています。 AA16.0 2.1.0の外部リリース日は2026年10月13日です。
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UTEST書き込みデータ処理 こんにちは Utestにデータを書き込むには、データの消去が必要ですか? UTEST_program.jpegUTEST_program.jpeg AN13388では、UTESTセクターにデータを書き込むプロセスは、他のブロックにプログラムを書き込むプロセスと同じであると述べられている。 しかし、UTESTは一度しか実行されないプログラムなので、書き込み前に消去する必要があるのでしょうか? リカ 回复: UTEST写数据流程 また、UTESTのどの部分をDEBUGデバッグを使って変更できるのかも知りたいです。 Re: UTEST写数据流程 最初に消去しないでください。UTESTセクターはOTP(ワンタイムプログラマブル)です。 Example_S32K344_decouple_RTD400_Ip_C40_DS35には、参考としてUTESTのサンプルが含まれています。 申し訳ありませんが、「UTEST中にDEBUGで変更できる領域」の意味が分かりませんでした。デバッグ中にレジスタを操作して、標準のフラッシュプログラムシーケンス(AN13388で説明されているのと同じプロセス)を実行するという意味でしょうか?S32K3XXRM.pdf Rev12の「表837」を参照してください。「ライフサイクルとビット構成に基づくデバッグアクセス」という表現は、ライフサイクルのさまざまな段階におけるデバッグ権限について言及しています。これは、あなたが言及している内容でしょうか? 添付ファイルS32K3xx_DCF_clients.xlsxからS32K3XXRM.pdfにあるUTESTメモリマップテーブルの「アクセス権限」列と「プログラム作成者」列は、アクセス権限を示しています。また、異なるライフサイクルごとに異なる色で読み取り/書き込み権限が示されています。 Re: UTEST写数据流程 はい、デバッグ中に、レジスタ操作による標準フラッシュプログラムシーケンスを実行することで、CUST_DEL LCステージのUTESTの内容を変更することは可能ですか?1から0へのいくつかの位置をクリアしたいのです。 Re: UTEST写数据流程 utest nvm ユーザー空間プログラミングの回答を参照してください。 Re: UTEST写数据流程 はい、どうもありがとうございました。
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LX2080A Linux開発サポート – YoctoおよびBuildroot こんにちは、 私はNXPのLX2080Aプラットフォームを使っており、組み込みLinuxシステムを開発したいと考えています。 NXPが提供しているLinux開発サポートについて知りたいLX2080A。 Yoctoは公式にサポートされていますか?もしそうなら、NXP Yocto BSPやレイヤーはどこで手に入りますか? BuildrootはLX2080Aで正式にサポートされていますか? Linux開発におすすめのNXPのBSP/SDKはありますか? 関連するドキュメント、ソースリポジトリ、またはガイドを共有してください。 よろしくお願いします。 Re: LX2080A Linux Development Support – Yocto and Buildroot https://www.nxp.com/webapp/Download?colCode=LX2160ARDBGSGの11ページを参照してください。 SW3[1:3]を111から110に変更することで、ボードはLX2080Aプラットフォームとして起動します。 必要なRCW、ATF、その他のソフトウェア変更は、あなたのハードウェア設計によって異なり、リファレンスLX2160ARDB実装とは異なる場合があります。 ありがとうございます。 Re: LX2080A Linux Development Support – Yocto and Buildroot こんにちは、 情報ありがとうございます。 LX2080Aに関して、一点だけ明確にしておきたいと思います。 LX2080A上でLX2160A-RDBソフトウェアとLinuxイネーブルメントのリファレンス構成を使用する場合、LX2080AをサポートするためにRCW(リセット設定ワード)やATF(TF-A)の設定に変更が必要ですか? 具体的には、LX2160A-RDBに使われているRCWとATFの設定をLX2080Aにも使えるのか、それともLX2080A向けに変更する必要があるのか? ありがとうございます。 Re: LX2080A Linux Development Support – Yocto and Buildroot このLX2080AはLX2ファミリに属し、LinuxソフトウェアのサポートはLX2ファミリ全体で共通しています。LX2160A-RDBは通常、ソフトウェア実現のためのリファレンスハードウェアプラットフォームとして使用されます。 Linux開発にはLayerscape Yocto BSP(LDP Yocto)がサポートされています。ソースコードとレイヤーは、 https://github.com/nxp-qoriq/yocto-sdk/tree/walnascarから入手できます。 UG10374およびUG10381を参照してください。 NXPの公式LinuxイネーブルメントはLayerscapeのLDP / Yoctoリリースに基づいています。LX2080A専用のBuildroot BSPリリースは提供しておりません。 Layerscape LDPページには、最新のソフトウェアリリース、ドキュメント、サポートデバイス情報が以下に掲載されています。 https://www.nxp.com/design/design-center/software/embedded-software/cross-platform-embedded/layerscape-linux-distribution-poc:LAYERSCAPE-SDK よろしくお願いします。
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如何升级AT&T的问题? 遇到始终无法解决的AT&T问题?请联系AT&T升级支持团队。
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UTEST写数据流程 您好 请问往Utest中写入数据需要擦除吗 UTEST_program.jpegUTEST_program.jpeg The AN13388 said the process to write a data in the UTEST Sectorr is the same process used to program in other blocks. 但是UTEST属于一次性编程,写入前需要擦除吗? Lika 回复: UTEST写数据流程 同时我想知道UTEST哪些区域可以通过DEBUG调试修改 Re: UTEST写数据流程 不要先擦除,UTEST Sector 属于OTP (One Time Programmable)。 Example_S32K344_decouple_RTD400_Ip_C40_DS35 这里有写UTEST的例程可供你参考。 抱歉我没明白“UTEST哪些区域可以通过DEBUG调试修改”。请问你是指调试的时候通过操作寄存器执行标准的 Flash Program 序列(与 AN13388 中描述的流程相同)?S32K3XXRM.pdf Rev12 的"Table 837. Debug access based on LifeCycle and bit configurations" 有提到不同LifeCycle阶段的调试权限,请问你是指这个? S32K3XXRM.pdf的附件S32K3xx_DCF_clients.xlsx 的 UTEST Memory Map 表格Accessibility、Programmed by列有写明权限。另外不同的颜色表示不同LifeCycle时候的读写权限。 Re: UTEST写数据流程 对的,调试的时候通过操作寄存器执行标准的Flash Program序列可以在CUST_DEL LC阶段修改UTEST内容吗,我想将一些位置的1清0 Re: UTEST写数据流程 请参考 utest nvm user space programming 里的答复。 Re: UTEST写数据流程 好的,非常感谢
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AT&Tで問題をエスカレートさせるにはどうすればよいですか? 解決されていない AT&T の問題に直面していますか? AT&T エスカレーションサポートチーム
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PCF2123TS-1,118の外観バリエーションに関するお問い合わせ NXPチーム様:PCF2123TS-1,118チップ2リールの入荷検査中に、2種類の異なる外観タイプを発見しました。タイプ1:表面が光沢があり、ピン1のインジケータが小さく、側面のテクスチャは光沢があり、わずかに湾曲しています。タイプ2:表面が粗く、ピン1のインジケータが大きく、側面のテクスチャは粗く、直線的です。これらの違いは正常な状態でしょうか?ご回答をお待ちしております。よろしくお願いいたします。劉
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Correct snvs_cfg values for TAMPER_OUT0/TAMPER_IN4 active tamper loop on i.MX8DXL EVK (J20) Hi, I'm validating the external active-tamper loop on the i.MX8DXL EVK (MCIMX8DXL-WEVK) via U-Boot. From the board schematic, I've confirmed J20 (TAMPER header, 1x3) is wired as: - Pin 1 = TAMPER_IN4 (net SNVS.TAMPER_IN4, ball AJ13) - Pin 2 = GND - Pin 3 = TAMPER_OUT0 (net SNVS.TAMPER_OUT0, ball AP22) These are dedicated SNVS pins, not shared with SAI2/SAI3 like TAMPER_OUT1-4/IN0-3. Available U-Boot commands: tamper_pin_cfg, snvs_cfg (with sub-registers hp.lock, hp.secvio_intcfg, hp.secvio_ctl, lp.lock, lp.secvio_ctl, lp.tamper_filt_cfg, lp.tamper_det_cfg, lp.tamper_det_cfg2, lp.tamper_filt1_cfg, lp.tamper_filt2_cfg, lp.act_tamper1_cfg through lp.act_tamper5_cfg, lp.act_tamper_ctl, lp.act_tamper_clk_ctl, lp.act_tamper_routing_ctl1, lp.act_tamper_routing_ctl2), snvs_sec_status, snvs_clear_status. Since TAMPER_OUT0/TAMPER_IN4 form an active tamper pair, my questions: 1. Which lp.act_tamperN_cfg channel (1-5) corresponds to TAMPER_OUT0? 2. What values for lp.act_tamper_routing_ctl1/routing_ctl2 route TAMPER_OUT0's pattern to be checked against TAMPER_IN4? 3. What value for lp.act_tamper_clk_ctl enables the pattern clock for this channel? 4. What value for lp.act_tamper_ctl globally enables active tamper detection for this channel? Goal: closing a jumper across J20 pins 1-3 should read as secure in snvs_sec_status, and opening it should trigger a violation. I've attempted several values on hardware (routing 4, 5, 10; various clock/detector settings) — all were either rejected by the SECO firmware (error res:9 / SC_ERR_PARM) or accepted with no observable change in snvs_sec_status's SNVS a4(1) (LPTDSR) register when physically toggling the loop. Is there a reference test procedure or app note for external active tamper validation on i.MX8DXL? Thanks! Re: Correct snvs_cfg values for TAMPER_OUT0/TAMPER_IN4 active tamper loop on i.MX8DXL EVK (J20) Hello, 1. lp.act_tamper1_cfg drives TAMPER_OUT0. 2. The i.MX8DXL SNVS has 5 Active Tamper (AT) output sources and up to 8 External Tamper (ET) input detectors. Please use this configuration: lp.act_tamper_routing_ctl1 = 0x00010000 # ET5 (TAMPER_IN4) to AT1 (TAMPER_OUT0) lp.act_tamper_routing_ctl2 = 0x00000000 # ET6-ET8 not used 3. That value changes the clock divider, use 0x00 for maximum frequency configuration. lp.act_tamper_clk_ctl = 0x00000000 4. Use lp.act_tamper_ctl = 0x00010001: Bit 0: AT1EN enable AT1 LFSR pattern generator Bit 16: AT1_OUT_EN drive TAMPER_OUT0 pad with AT1 pattern There is no application note available for this processor but you can use this from an i.MX7 that can be used as reference: /* Config ET5 (pin in et4) <-> (pin out et5) AT 1 * /* reset */ write32(0, &svregs->lp.act_tamper_clk_ctl); write32(0, &svregs->lp.act_tamper_ctl); write32(0, &svregs->lp.tamper_det_cfg); write32(0, &svregs->lp.tamper_det_cfg2) /* Deault value for LFSR */ write32(0x84000000 | 0x00001111, &svregs->lp.act_tamper1_cfg) /* Set the clock at max freq */ write32(0x00000000, &svregs->lp.act_tamper_clk_ctl); /* ET5 (pin et4) takes ref from AT1 (pin et5) */ write32(0x00010000, &svregs->lp.act_tamper_routing_ctl1); write32(0x0, &svregs->lp.act_tamper_routing_ctl2) /* activate out pad of AT1 and enable it, AT1 output on pin et5 */ write32(0x00010000 | 0x00000001, &svregs->lp.act_tamper_ctl) /* Configuring IRQs and secviols */ write32(0x8000003f, &svregs->hp.secvio_intcfg); write32(0x4000003f, &svregs->hp.secvio_ctl); write32(0x0000003f, &svregs->lp.secvio_ctl) /* Activating detector for ET5 */ write32(0x00000000, &svregs->lp.tamper_det_cfg); write32(0x00000004, &svregs->lp.tamper_det_cfg2); Best regards. Re: Correct snvs_cfg values for TAMPER_OUT0/TAMPER_IN4 active tamper loop on i.MX8DXL EVK (J20) Thank you for the configuration. I applied it exactly on a fresh power cycle: snvs_dgo_cfg 0 0 20000000 0 80000000 0 snvs_cfg 0 8000003f 4000003f 0 3f 0 0 4 0 0 84001111 0 0 0 0 10001 0 10000 0 Readback matches your values: SNVS e8(2) = 00010000 00000000, SNVS 48(2) = 00000000 00000004, SNVS e0 = 00010001, DGO 20 = 20000000, DGO 40 = 80000000. Result: LPTDSR (SNVS a4) = 00000004 (ET5D set). It reads 00000004 both with no jumper and with an insulated jumper connected between J20 pin 1 (TAMPER_IN4) and pin 3 (TAMPER_OUT0). It also stays 00000004 after snvs_clear_status 107ff ff. So detection asserts with the loop open, but I never get a clean 00000000 state with the loop closed. Questions: 1. Does the TAMPER_OUT0 / TAMPER_IN4 loop on this EVK need a pad or pull setting (for example DGO tamper_pull_ctl), or a different act_tamper_clk_ctl value, for a wired-jumper loop? 2. Is snvs_clear_status expected to clear LPTDSR while the tamper condition is still present? 3. Is any other setting needed for the loop to be seen as closed? Thanks again.
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如果我使用的是树莓派 Pico 2W,如何在 Arduino IDE 中查看 Serial.prints 的输出? 我花了很多时间试图弄明白这件事,但最终一无所获。我尝试运行一个简单的代码,让内置 LED 闪烁,同时在 Serial.print 中打印“hello”。LED 指示灯闪烁,但 pico 没有在串口监视器中输出任何内容。我发现 pico 在上传后会断开连接,然后重新连接,但连接的是不同的端口。我猜我的板是从 COM 5/4 重新连接到 COM 11,但是如果我尝试进入“工具”->“端口”->“COM 11”,LED 指示灯停止闪烁,IDE 显示错误信息,我的笔记本电脑发出类似板断开连接又重新连接的声音。我能做些什么吗?我考虑过从 Arduino IDE 切换到 VS Code,但是没有关于如何在 Windows 上进行切换的教程,而 GPT 也没有教会我太多东西。 Kinetis W系列MCU
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How can I see the Serial.prints in Arduino IDE if I am using a raspberry pi pico 2w? I spent a lot of hours trying to figure this out and I didn't manage to do anything. I tried to run a simple code that makes the built in LED blink while also writing "hello" at Serial.print. The LED blinks, but the pico does't print anything in the serial monitor. I found out the pico disconnects after the upload and then reconnects again, but on a different port. I guess mine reconnects from com 5/4 to com 11 but if I try to go to Tools -> Port -> COM 11 the LED stops blinking, the IDE shows me an error message and my laptop makes the sound as if the board was disconnected and connected again. Is there something I can do about this? I took into consideration switching from arduino ide to vs code, but there are no tutorials on how to do that for windows and GPT didn't teach me much. Kinetis W Series MCUs
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i.MX8DXL EVK (J20) の TAMPER_OUT0/TAMPER_IN4 アクティブタンパーループ用の正しい snvs_cfg 値 こんにちは、 U-Boot を介して、i.MX8DXL EVK (MCIMX8DXL-WEVK) 上の外部アクティブタンパーループを検証しています。 基板の回路図から、J20(TAMPERヘッダー、1x3)の配線が以下のようになっていることを確認しました。 - ピン 1 = TAMPER_IN4 (ネット SNVS.TAMPER_IN4、ボール AJ13) - ピン2 = GND - ピン3 = TAMPER_OUT0 (ネットSNVS.TAMPER_OUT0、ボールAP22) これらは専用のSNVSピンであり、TAMPER_OUT1-4/IN0-3のようにSAI2/SAI3と共有されていません。 使用可能な U-Boot コマンド: tamper_pin_cfg、snvs_cfg (サブレジスタ hp.lock、hp.secvio_intcfg、hp.secvio_ctl、lp.lock、lp.secvio_ctl、lp.tamper_filt_cfg、lp.tamper_det_cfg、lp.tamper_det_cfg2、lp.tamper_filt1_cfg、lp.tamper_filt2_cfg、lp.act_tamper1_cfg ~ lp.act_tamper5_cfg、lp.act_tamper_ctl、lp.act_tamper_clk_ctl、lp.act_tamper_routing_ctl1、lp.act_tamper_routing_ctl2 を含む)、snvs_sec_status、snvs_clear_status。 TAMPER_OUT0/TAMPER_IN4はアクティブなタンパーペアを形成するため、私の質問は次のとおりです。 1. どのlp.act_tamperN_cfgチャネル(1-5)がTAMPER_OUT0に対応しているか? 2. lp.act_tamper_routing_ctl1/routing_ctl2ルートTAMPER_OUT0のパターンの値をTAMPER_IN4と比較してチェックする価値は? 3. このチャネルのパターンクロックを可能にするlp.act_tamper_clk_ctlの値は何? 4. このチャネルのアクティブ改ざん検出を可能にするグローバルなlp.act_tamper_ctl価値は何でしょうか? 目標:J20ピン1~3間のジャンパーを閉じるとsnvs_sec_statusでセキュアと表示され、ジャンパーを開くと違反が発生するようにする。 ハードウェア上でいくつかの値を試しました(ルーティング4、5、10、さまざまなクロック/検出器設定)が、すべてSECOファームウェアによって拒否されるか(エラーres:9 / SC_ERR_PARM)、物理的にループを切り替えたときにsnvs_sec_statusのSNVS a4(1)(LPTDSR)レジスタに目に見える変化がないまま受け入れられました。 i.MX8DXLにおける外部アクティブタンパー検証に関するリファレンステスト手順またはアプリケーションノートはありますか? よろしくお願いします! Re: Correct snvs_cfg values for TAMPER_OUT0/TAMPER_IN4 active tamper loop on i.MX8DXL EVK (J20) こんにちは、 1. lp.act_tamper1_cfg は TAMPER_OUT0 を駆動します。 2. i.MX8DXL SNVSは、5つのアクティブタンパー(AT)出力ソースと最大8つの外部タンパー(ET)入力検出器を備えています。 この設定を使用してください。 lp.act_tamper_routing_ctl1 = 0x00010000 # ET5 (TAMPER_IN4) から AT1 (TAMPER_OUT0) へ lp.act_tamper_routing_ctl2 = 0x00000000 # ET6-ET8 は使用されていません 3. その値はクロック分周器を変更します。最大周波数設定には0x00を使用してください。 lp.act_tamper_clk_ctl = 0x00000000 4. lp.act_tamper_ctl = 0x00010001 を使用します。 ビット0:AT1ENはAT1 LFSRパターンジェネレーターを有効化します。 ビット16:AT1_OUT_ENがTAMPER_OUT0パッドをAT1パターンで駆動する このプロセッサに関するアプリケーションノートはありませんが、i.MX7から参照として利用できます。 /* Config ET5 (pin in et4) <-> (pin out et5) AT 1 * /* reset */ write32(0, &svregs->lp.act_tamper_clk_ctl); write32(0, &svregs->lp.act_tamper_ctl); write32(0, &svregs->lp.tamper_det_cfg); write32(0, &svregs->lp.tamper_det_cfg2) /* Deault value for LFSR */ write32(0x84000000 | 0x00001111, &svregs->lp.act_tamper1_cfg) /* Set the clock at max freq */ write32(0x00000000, &svregs->lp.act_tamper_clk_ctl); /* ET5 (pin et4) takes ref from AT1 (pin et5) */ write32(0x00010000, &svregs->lp.act_tamper_routing_ctl1); write32(0x0, &svregs->lp.act_tamper_routing_ctl2) /* activate out pad of AT1 and enable it, AT1 output on pin et5 */ write32(0x00010000 | 0x00000001, &svregs->lp.act_tamper_ctl) /* Configuring IRQs and secviols */ write32(0x8000003f, &svregs->hp.secvio_intcfg); write32(0x4000003f, &svregs->hp.secvio_ctl); write32(0x0000003f, &svregs->lp.secvio_ctl) /* Activating detector for ET5 */ write32(0x00000000, &svregs->lp.tamper_det_cfg); write32(0x00000004, &svregs->lp.tamper_det_cfg2); よろしくお願いいたします。 Re: Correct snvs_cfg values for TAMPER_OUT0/TAMPER_IN4 active tamper loop on i.MX8DXL EVK (J20) 設定していただきありがとうございます。電源を入れた直後に正確に適用しました。 snvs_dgo_cfg 0 0 20000000 0 80000000 0 snvs_cfg 0 8000003f 4000003f 0 3f 0 0 4 0 0 84001111 0 0 0 0 10001 0 10000 0 読み戻しはあなたの値と一致します: SNVS e8(2) = 00010000 00000000、SNVS 48(2) = 00000000 00000004、SNVS e0 = 00010001、DGO 20 = 20000000、DGO 40 = 80000000。 結果: LPTDSR (SNVS a4) = 00000004 (ET5D セット)。ジャンパーなしでも、J20ピン1(TAMPER_IN4)とピン3(TAMPER_OUT0)の間に絶縁ジャンパー接続した場合も、どちらも00000004読み取ります。snvs_clear_status 107ff ff の後も 00000004 のままです。つまり、ループを開いた状態で検出は主張しますが、ループを閉じているとクリーンな0000000状態は一度も得られません。 質問: 1.このEVKのTAMPER_OUT0 / TAMPER_IN4ループでは、ワイヤードジャンパーループの場合、パッドまたはプル設定(例えばDGO tamper_pull_ctl)や、異なるact_tamper_clk_ctl値が必要ですか? 2. 改ざん状態がまだ存在する間に、snvs_clear_statusはLPTDSRをクリアすることが期待されていますか? 3. ループが閉じていると認識されるために、他に何か設定が必要ですか? 再度、感謝します。
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Raspberry Pi Pico 2Wを使っている場合、Arduino IDEでSerial.printsを見るにはどうすればいいですか? 何時間もかけて解決しようと試みましたが、結局何もできませんでした。内蔵LEDを点滅させながら、Serial.printに「hello」と書き込む簡単なコードを実行してみました。LEDは点滅するが、ピコはシリアルモニターに何も出力しない。アップロード後にピコが切断され、その後別のポートで再接続されることが分かりました。私のはcom 5/4からcom 11に再接続されるようですが、Tools -> Port -> COM11に行こうとするとLEDが点滅し、IDEにエラーメッセージが表示され、ノートPCは基板が外されて再接続されたかのような音を出します。これについて何かできることはありますか?Arduino IDEからVS Codeに切り替えることも考えましたが、Windows用のチュートリアルがなく、GPTもあまり教えてくれませんでした。 Kinetis Wシリーズ・マイクロコントローラ
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Inquiry on PCF2123TS-1,118 Appearance Variation Dear NXP team: During incoming inspection of two reels of PCF2123TS-1,118 chips, we discovered two different appearance types: Type 1: Glossy surface, smaller pin 1 indicator; glossy and slightly curved side texture. Type 2: Rough surface, larger pin 1 indicator; rough and straight side texture. Are these differences normal? We look forward to your reply. Thank you! Sincerely, Ms. Liu
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Inquiry on PCF2123TS-1,118 Appearance Variation 尊敬的恩智浦团队:在对两卷PCF2123TS-1,118芯片进行来料检验时,我们发现了两种不同的外观类型:类型1:表面光亮,引脚1指示器较小;侧面纹理光亮且略微弯曲。类型2:表面粗糙,引脚1指示器较大;侧面纹理粗糙且平直。请问这些差异是否属于正常现象?期待您的回复。谢谢!此致,刘小姐
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更正 i.MX8DXL EVK (J20) 上 TAMPER_OUT0/TAMPER_IN4 活动防篡改循环的 snvs_cfg 值 您好, 我正在通过 U-Boot 验证 i.MX8DXL EVK (MCIMX8DXL-WEVK) 上的外部主动篡改循环。 根据电路板原理图,我已经确认 J20(防篡改接头,1x3)的接线方式如下: - 引脚 1 = TAMPER_IN4(网络 SNVS.TAMPER_IN4,焊球 AJ13) - 引脚 2 = 接地 - 引脚 3 = TAMPER_OUT0(网络 SNVS.TAMPER_OUT0,引脚 AP22) 这些是专用的 SNVS 引脚,不像 TAMPER_OUT1-4/IN0-3 那样与 SAI2/SAI3 共享。 可用的 U-Boot 命令:tamper_pin_cfg、snvs_cfg(及其子寄存器 hp.lock、hp.secvio_intcfg、hp.secvio_ctl、lp.lock、lp.secvio_ctl、lp.tamper_filt_cfg、lp.tamper_det_cfg、lp.tamper_det_cfg2、lp.tamper_filt1_cfg、lp.tamper_filt2_cfg、lp.act_tamper1_cfg 至 lp.act_tamper5_cfg、lp.act_tamper_ctl、lp.act_tamper_clk_ctl、lp.act_tamper_routing_ctl1、lp.act_tamper_routing_ctl2)、snvs_sec_status、snvs_clear_status。 由于 TAMPER_OUT0/TAMPER_IN4 构成一个有效的防篡改对,我的问题是: 1. lp.act_tamperN_cfg 通道(1-5)中,哪个对应于 TAMPER_OUT0? 2. 要检查 lp.act_tamper_routing_ctl1/routing_ctl2 路由 TAMPER_OUT0 的模式与 TAMPER_IN4 的匹配度,需要检查哪些值? 3. 要使该通道启用模式时钟,lp.act_tamper_clk_ctl 的值是多少? 4. lp.act_tamper_ctl 的全局值是多少才能启用此通道的主动篡改检测? 目标:将跳线连接到 J20 引脚 1-3 时,snvs_sec_status 应显示为安全状态;断开跳线时,应触发违规。 我尝试了硬件上的几个值(路由 4、5、10;各种时钟/检测器设置)——所有这些值要么被 SECO 固件拒绝(错误 res:9 / SC_ERR_PARM),要么被接受,但在物理切换循环时,snvs_sec_status 的 SNVS a4(1) (LPTDSR) 寄存器没有可观察到的变化。 i.MX8DXL 是否有针对外部主动防篡改验证的参考测试程序或应用说明? 谢谢您! Re: Correct snvs_cfg values for TAMPER_OUT0/TAMPER_IN4 active tamper loop on i.MX8DXL EVK (J20) 你好, 1. lp.act_tamper1_cfg 驱动 TAMPER_OUT0。 2. i.MX8DXL SNVS 具有 5 个主动防拆 (AT) 输出源和多达 8 个外部防拆 (ET) 输入检测器。 请使用以下配置: lp.act_tamper_routing_ctl1 = 0x00010000 # ET5 (TAMPER_IN4) 到 AT1 (TAMPER_OUT0) lp.act_tamper_routing_ctl2 = 0x00000000 # ET6-ET8 未使用 3. 该值会改变时钟分频器,使用 0x00 可配置最大频率。 lp.act_tamper_clk_ctl = 0x00000000 4. 使用 lp.act_tamper_ctl = 0x00010001: 位 0:AT1EN 使能 AT1 LFSR 模式生成器 位 16:AT1_OUT_EN 驱动 TAMPER_OUT0 焊盘,使用 AT1 模式 目前没有针对该处理器的应用笔记,但您可以参考 i.MX7 的相关信息: /* Config ET5 (pin in et4) <-> (pin out et5) AT 1 * /* reset */ write32(0, &svregs->lp.act_tamper_clk_ctl); write32(0, &svregs->lp.act_tamper_ctl); write32(0, &svregs->lp.tamper_det_cfg); write32(0, &svregs->lp.tamper_det_cfg2) /* Deault value for LFSR */ write32(0x84000000 | 0x00001111, &svregs->lp.act_tamper1_cfg) /* Set the clock at max freq */ write32(0x00000000, &svregs->lp.act_tamper_clk_ctl); /* ET5 (pin et4) takes ref from AT1 (pin et5) */ write32(0x00010000, &svregs->lp.act_tamper_routing_ctl1); write32(0x0, &svregs->lp.act_tamper_routing_ctl2) /* activate out pad of AT1 and enable it, AT1 output on pin et5 */ write32(0x00010000 | 0x00000001, &svregs->lp.act_tamper_ctl) /* Configuring IRQs and secviols */ write32(0x8000003f, &svregs->hp.secvio_intcfg); write32(0x4000003f, &svregs->hp.secvio_ctl); write32(0x0000003f, &svregs->lp.secvio_ctl) /* Activating detector for ET5 */ write32(0x00000000, &svregs->lp.tamper_det_cfg); write32(0x00000004, &svregs->lp.tamper_det_cfg2); 顺祝商祺! Re: Correct snvs_cfg values for TAMPER_OUT0/TAMPER_IN4 active tamper loop on i.MX8DXL EVK (J20) 感谢您提供的配置信息。我是在全新断电后立即应用的: snvs_dgo_cfg 0 0 20000000 0 80000000 0 snvs_cfg 0 8000003f 4000003f 0 3f 0 0 4 0 0 84001111 0 0 0 0 10001 0 10000 0 回读与您的值匹配:SNVS e8(2) = 00010000 00000000,SNVS 48(2) = 00000000 00000004,SNVS e0 = 00010001,DGO 20 = 20000000,DGO 40 = 80000000。 结果:LPTDSR(SNVS a4)= 00000004(ET5D 设置)。无论没有跳线还是在 J20 引脚 1 (TAMPER_IN4) 和引脚 3 (TAMPER_OUT0) 之间连接绝缘跳线,读数均为 00000004。在 snvs_clear_status 107ff ff 之后,它仍然保持 00000004。因此,当循环打开时,检测结果会断言,但当循环关闭时,我始终无法获得干净的 00000000 状态。 问题: 1.对于有线跳线回路,此 EVK 上的 TAMPER_OUT0 / TAMPER_IN4 回路是否需要焊盘或上拉设置(例如 DGO tamper_pull_ctl),或者不同的 act_tamper_clk_ctl 值? 2. 当篡改条件仍然存在时,snvs_clear_status 是否应该清除 LPTDSR? 3. 是否还需要其他设置才能使循环被视为闭合? 再次感谢。
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如何获取适用于 S32K3 的“HSE-B 固件参考手册 V2.2”? 您好,NXP团队, 我正在开发一个基于 S32K312 的项目,需要使用 HSE(硬件安全引擎)来实现安全启动/密钥管理/加密服务。 我正在寻找名为“HSE-B固件参考手册V2.2”的文档,但在NXP的公开网站上找不到。 非常感谢您的支持! 顺祝商祺! Re: How to get access to "HSE-B Firmware Reference Manual V2.2" for S32K3? 嗨@SpringAutumn 所有 HSE 文件均受保密协议约束,仅可通过安全文件获取。如果您还没有访问安全文件的权限,请按照“安全访问权限 | NXP Semiconductors”页面上概述的步骤申请相应的权限。 另外,请注意,HSE-B 固件参考手册的最新版本为 2.8 版。 BR,VaneB
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