RW612 上的持久存储，QSPI 闪存，mflash_drv 大家好，我正在尝试使用一些持久存储空间，这样我的应用程序就可以写入序列号，并在随后的开机过程中读取回来。我使用的是 uBlox Iris-W101，它包含一个带有 8 MB Fidelix QSPI 闪存的 RW612。应用程序代码是 XIP，它被闪存到 QSPI 闪存的 0x08000000 位置，恩智浦的 wifi 栈被闪存到 0x08400000 位置。一切正常。但我认为我可以擦除扇区并将一些数据写入接近末尾的地址，末尾地址是 0x08800000，因此我的位置是 0x087F0000。我不知道如何进行擦除和书写。我尝试使用"mflash_drv.c"函数 mflash_drv_sector_erase () 和 mflash_drv_page_program ()，但是 erase 无法擦除（尝试在 0x08400000 处擦除 wifi 堆栈但数据没有变化）而且 page_program 陷入了循环。我在另一个话题中读到引导加载程序可能为了保护自己而锁定整个 QSPI 闪存？如果是这样，如何解锁一小部分以便我可以擦除/写入它？我只需使用普通变量读取或 memcpy () 就能从 QSPI 闪存中读取字节。我看到的话题是 https://community.nxp.com/t5/i-MX-RT-Crossover-MCUs/mflash-drv-c-writing-to-flash-while-XIP/m-p/915590 感谢您的帮助，希望我能通过 XIP 应用程序进一步了解 mflash 驱动程序。 产品：WiFi RW6XX Re: Persistent storage on RW612, QSPI Flash, mflash_drv 好吧，我找到了。需要在 /linkscripts/main_data.ldt 中添加以下行文 *mflash_drv.o(.text .text*).杆状.rodata*) *fsl_flexspi.o(.text .text*).杆状.rodata*) 然后在 /linkscripts/main_text.ldt 中添加以下项目 *mflash_drv.o*fsl_flexspi.o 然后清理，然后版本，然后在启动期间将它们放在 RAM 中。再次感谢您，在我注意到这一点之前，我已经疑惑了很久。 Re: Persistent storage on RW612, QSPI Flash, mflash_drv 有意思因此，我现在使用的是 RW612 的最新 SDK，即 25.06.00。我正在开发 MCUBoot 引导加载器和与引导加载器兼容的应用程序示例。rdrw612bga_ota_mcuboot_server_wifi<--- 这个配置是正确的，因为首先启动加载工作正常，测试了整个过程。其次，我使用了与之前相同的代码，现在可以正常工作了，我可以使用 mflash_drv 擦除和写入，然后不使用 mflash_drv 也可以读回，就像 memcpy 一样，可以正确读取闪存内容。所以我只需要将 mflash_drv 文件配置到 RAM 中即可？您能解释一下 MCUXpresso 是如何做到这一点的吗？我现在正在研究，也许很快就能解决。谢谢！ Re: Persistent storage on RW612, QSPI Flash, mflash_drv 你好，MattKow-Firefly，希望你一切都好。 当代码从外部闪存执行时，FlexSPI 模块被配置为与内存一起工作，以便执行 XIP，因此与 FlexSPI 模块相关的 API 需要从 RAM 执行。 我建议测试应用程序代码中心的以下 示例 ，该 示例 演示了从外部闪存访问 XIP。 将示例导入 MCUXpresso IDE： 单击"Import from Application Code Hub" 选项。(请注意，本示例需要使用 2.16.00 版 SDK） 进入应用程序代码中心窗口后，搜索示例的名称（来自外部或非闪存的 XIP，使用多端口 FlexSPI 模块配置外部 pSRAM），将其选中，然后单击 " Github 链接 " 然后等待 " Next > " 按钮可以使用。 点击"Next>" 按钮后，按照步骤从 git 仓库导入项目。最后，当项目在工作区中可用时，您就可以在您的设置上对其进行闪存和测试了。 如果有帮助，请告诉我。

s32k146 基于MBDT在同一条SPI总线配置多个SPI从设备，SIMULINK报错 自开发一个控制器，用的MCU为S32K146  三条SPI总线都挂了多个SPI从设备。同一条SPI设备，存在每个从设备的时钟极性，相位，位宽不一致。这种情形在SIMULINK中根据不同的SPI从设备进行配置。SPI Reconfig模块用于同一总线上连接多个配置不同的从设备（如波特率、时钟极性/相位不同）。这个SPI Reconfig模块如何使用，有没SPI动态配置的示例。 Re: s32k146 基于MBDT在同一条SPI总线配置多个SPI从设备，SIMULINK报错 你好，Marius 使用 C 调用方法在 Simulink 中嵌入自定义 C 代码时，我们需要调用官方的 SPI deinit 函数和 SPI init 函数。但是，MATLAB 编译失败，提示找不到库函数，存在路径错误。如何正确设置路径？此外，既然还将使用 MBDT 软件包，那么这两个元器件如何在 Simulink 中共存和编译？ 等待您的答复和帮助！ Re: s32k146 基于MBDT在同一条SPI总线配置多个SPI从设备，SIMULINK报错 你好@lsw 根据您的使用情况，我认为您不仅需要重新配置 PCS，还需要重新配置 SPI 配置传输的某些设置。 遗憾的是，S32K1 的 MBDT 并不是为此而设计的，也没有任何区块可以帮助您支持这样做。 不过，还有一种方法，即使用自定义代码插入，本文已讨论过这种方法： https://community.nxp.com/t5/NXP-Model-Based-Design-Tools/How-to-use-your-own-C-code-in-our-Toolbox-Battery-Management/ta-p/1119004 你的情况比这更简单。 首先，您必须为 SPI 所需的第一个配置生成代码，并识别生成的代码序列，如下所示。 然后，你可以复制 lpspi_master_config_t 结构，并在其中填充所有连接到 SPI 总线的设备所需的设置。 每次要调整设置时，都需要先调用 LPSPI_DRV_MasterDeinit(uint32_t instance)； 然后是带有所需参数的 Init 函数 LPSPI_DRV_MasterInit(0, &lpspiMasterState0, &spiConfig0); 希望这能帮到您， Marius

i.MX 800 万像素热敏传感器已互换 HI 这确实很小，但是一位用户向我们询问了 i.MX 8MP 上的热区，这种行为与我们记录的内容没有感知（增加 cpu 负载会使 thermal_zone1 的上升速度比 zone0 快，而根据'类型'文件，zone0 应该是 cpu 传感器） 查看参考手册，它似乎同意 zone0 是 ANAMIX 与 zone1 CPU，所以 DTS 可能错了。 参考手册摘录： - TMU 可以访问芯片上的两个温度测量点。主探头位于 ANAMIX 内部，而远程探针位于 ARM 核心附近。TMU 监测这些站点，如果超过编程阈值，可以发出警报信号。持续捕获温度范围的上限和下限。一组报告寄存器允许读取监测地点的当前温度。 - 在 TMU_TPS 的位描述中，我们还看到"00 仅选择主探针" //"01 仅选择远程探针（靠近 A53）" ，确认索引 0 = anamix，索引 1 = cpu（在 TRITSR 和其他寄存器中，描述仅提及 probe0 和 probe1...) 而在 dts 中，cpu-thermal 使用 tmu 0，soc-thermal 使用 tmu 1，两者正好相反。 阈值是相同的，因此在实践中没有影响；这只是一个提醒。 Re: i.MX 8MP thermal sensors are swapped 感谢您的检查！ 作为参考，我已经在内核中修复了这个问题，我注意到的一件事是，区域文件的顺序不是基于索引，而是基于dtb中的位置，所以我必须交换区块才能保留区域： https://github.com/atmark-techno/linux-5.10-at/commit/fe917c7d64b60d2214035cb9d61c5378f782f4d1 这很小，所以如果不一样的话，我可能会像下一个版本一样更新。 谢谢！ Re: i.MX 8MP thermal sensors are swapped 你好@martinetd 我们将在下一个版本中修复这个问题。再次感谢。 此致 丹尼尔 Re: i.MX 8MP thermal sensors are swapped 你好@martinetd 感谢您的反馈，我正在检查，稍后会给您回复。 此致 丹尼尔

闪存操作期间 S32K312 I2C 从站故障（RTD 5.0.0） 恩智浦专家，您好： 我在项目中使用 S32K312 作为 I2C 从站，连接到 I2C 主站 (FT4222)。 在这个项目中，只使用了 Mem43_Infls（Flash W/R）和 i2C 从属进程，来自主服务器的某些 I2C 消息将触发信号 flash erase & 写入子进程。 在我的测试中，I2C 从站很有可能在收到主站的信息后保持低电平。只有重新启动 I2C 从站才能恢复。 下图是 LA 的测量结果，我认为波形没有问题，因此可能不是电路问题。 我做了两个实验，下面是一些线索 Exp1.我注释了所有OsIf_SuspendAllInterrupts` 和 `SchM_Mem_43_INFLS.c` 中的SchM_Mem_43_INFLS.c`中的 `OsIf_ResumeAllInterrupts`。 故障率急剧下降，约 1/500 的可能性导致 I2C 从属设备故障。此外，事实证明闪存可以在没有中断暂停的情况下正常工作。 Exp2.我对 Flash API 进行了短截线，使其始终返回 E_OK，而不是操作闪存驱动程序。 这样，I2C 从站就不会出现故障（当然，Flash 没有任何功能）。 因此，我的问题是：我是否应该使用任何设置或调整来解决 I2C 从属设备故障问题？如果没有中断保护，闪存能否安全运行？ 部分代码和 LA 记录见附件。我不能上传有关 I2C 从站的代码。 硬件设置： S32K312EVB-Q172 FT4222（I2C 主站），波特率：900KHZ-1000KHZ 软件设置: RTD: 5.0.0HF01 用于 S32V 的 S32 SDK Re: S32K312 I2C Slave Failure During Flash Operation(RTD 5.0.0) 你好@acnhyxgxl1、 请参阅 RTD 安装目录下的 RTD_MEM_43_INFLS_UM.pdf。 在同步模式下，驱动器在等待闪存操作完成时阻塞 I2C 总线。 BR，丹尼尔 Re: S32K312 I2C Slave Failure During Flash Operation(RTD 5.0.0) 我最初的设置是使用异步模式，但同步模式也可以完成我的任务。 我在 Mem43_Infls 中尝试了同步/异步两种模式，但似乎只有异步模式才能将数据正确写入闪存。 在同步模式下，尽管 `mem_43_infls_Write` 返回 `E_OK`，但是 Flash 的内容没有改变（通过 S32DS 内存接口进行监测）。 同步模式也无法解决 I2C 问题。每当 I2C 命令触发信号闪存擦除时，I2C 从机都会保持低电平。 附件是我的 mex 文件和 Flash HAL 源代码。也许你能提供一些线索。 Re: S32K312 I2C Slave Failure During Flash Operation(RTD 5.0.0) 你好@acnhyxgxl1、 看起来只有在 AsyncMode == FALSE 时才会调用该函数。 您是如何配置 INFLS 驱动程序的？ 此致， 丹尼尔 Re: S32K312 I2C Slave Failure During Flash Operation(RTD 5.0.0) 我发现当闪存在 "Mem_43_INFLS_IPW_Erase"中 处理 "C40_Ip_AccessCode(Mem_43_INFLS_pConfigPtr->MemAcCallBackPtr); " 时，I2C 从站正在等待读取帧，这将导致 I2C 从站故障。 有什么对策可以解决这个问题吗？

MIMXRT1166 和 IS25WXxxx - 未找到 SFDP 我有一块使用 1.8V 八进制闪存部分 IS25WX256 的定制板。当我尝试使用安全配置工具初始化内存时，出现错误 " SFDP 未找到 "。我的启动内存配置是： 我把熔丝 BT_FUSE_SEL 烧成了 1，把 BOOT_CFG1 [3:2] 烧到了 0b10（美光八进制）。 我得到的确切错误信息是 /opt/nxp/MCUX_Provi_v10/bin/_internal/tools/spsdk /opt/nxp/MCUX_Provi_v10/bin /opt/nxp/MCUX_Provi_v10/bin/_internal/tools/spsdk/blhost -t 5000 -u 0x15A2,0x0073 -j -- configure-memory 9 0x2000 /opt/nxp/MCUX_Provi_v10/bin { "command": "configure-memory", "response": [], "status": { "description": "20107 (0x4e8b) FlexSPINOR: SFDP Not Found.", "value": 20107 } } 附上 SPT 的全部日志。 我应该从哪里寻找可能的原因？ Re: MIMXRT1166 and IS25WXxxx - SFDP Not Found 你好@tbonkers、 非常感谢您关注我们的产品并使用我们的社区。 请检查以下几点： 1：首先将 RT1166 启动模式设置为串行下载器模式。 2：使用 LPUART1 或 USB1 连接 PC 和 RT1166 主板。 3：仔细检查启动内存配置参数是否正确，然后单击 “测试” 按钮。 希望它能帮到你。 敬上 MayLiu

MC33774A 上的电池平衡在约 4 小时后意外停止 您好，恩智浦技术支持、 我目前正在使用 MC33774A，遇到了一个与电池平衡稳定性有关的问题。 配置-设备：MC33774A，平衡计时器配置为：86,000 秒，此设置中仅连接 5 个单元 问题描述 在运行电池平衡数小时（通常超过 ~4 小时）后，一些电池通道会意外停止平衡，但不会报告任何错误标记或故障状态。 一旦某个小区信道突然停止，即使重新发出小区平衡 (CB) 命令，也无法再重新激活该小区的平衡。 日志摘录 首次出现（平衡激活，然后意外停止）： 时间 SWITCH_MON_CFG0 BAL_STAT0 14808.679 0xAAAA 0x1F 14808.771 0xAAAA 0x1F 14808.865 0xAAAA 0x1F 14808.967 0x5555 0x1F 14809.069 0x5555 0x1F 14809.171 0xAAA0 0x15 => 意外停止 0x2 和 0x8 14809.273 0xAAA0 0x15 14809.375 0xAAA0 0x15 14809.477 0x5555 0x15 14809.579 0x5555 0x15 14809.681 0x5555 0x15 14809.783 0xAAA0 0x15 14809.885 0xAAA0 0x15 14809.987 0xAAA0 0x15 重新尝试启动平衡（受影响的通道无法重新启用）： 时间 SWITCH_MON_CFG0 BAL_STAT0 4080.373 0x0 0x0 4080.475 0xAAA0 0x1F => 应该是 0xAAAA 而不是 0xAAA0 4080.577 0xAAA0 0x1F 4080.679 0x5555 0x1F 4080.781 0x5555 0x1F 问题 能否请您帮忙澄清一下： 为什么即使平衡计时器设置为 86,000 秒，某些电池单元平衡通道仍会在数小时后意外停止？ 为什么停止时不会生成错误或故障标记？ 为什么受影响的频道一旦停止就无法重新启动？ 如果能就可能的错误配置、额外寄存器设置或已知限制提供指导，我们将不胜感激。 感谢您的支持。 Mark Re: Cell Balancing Stops Unexpectedly After ~4 Hours on MC33774A 若 IC 內部 even/odd switch 本身發生錯誤？？这个应该怎么理解？ MC33774相比MC33771和MC33775，采用了内部硬件以奇/偶通道以各自250ms定时器进行交替开启均衡，即一次奇/偶切换周期为500ms。 此500ms周期为固定值，无法更改 ◆ 奇/偶均衡切换的具体表现为： ➢ 在软件下发开启均衡指令后，不论下发的软件指令要求哪些通道开启均衡，内部硬件会先开启偶通道均衡(如果软件没有下发偶通道均 衡开启，此时均衡不会有动作)，这里的偶通道是指第2/4/../18电芯电压通道。 ➢ 内部偶通道均衡计时器达到250ms后，才会切换到250ms的持续奇通道均衡，以此往复直到均衡停止 Re: Cell Balancing Stops Unexpectedly After ~4 Hours on MC33774A Hi,     我們在串接 2 顆 MC33774A（CMU1、CMU2） 進行長時間 Cell Balancing（CB） 測試時，串接 18 cell.    現象摘要     CMU1 出現 1 次 fault：MC33774_BAL_SWITCH_FLT_STAT = 0xAAA8     CMU2 出現 2 次 fault：MC33774_BAL_SWITCH_FLT_STAT = 0xAAA8    read and clear fault, CB 繼續正常動作.    ven/Odd switch 由 33774A 內部交錯驅動；若 IC 內部 even/odd switch 本身發生錯誤，是否可能導致此型態（僅雙數通道）之 fault？ Best regards, Mark     Re: Cell Balancing Stops Unexpectedly After ~4 Hours on MC33774A 还是跟之前一样的建议CB测试全部都要mount 上18个cell，然后看测试结果。 Re: Cell Balancing Stops Unexpectedly After ~4 Hours on MC33774A Hi, 感謝您的回信, 我在進行 Cell Balancing (CB) 的過程中，遇到 BAL_SWITCH_FLT_STAT0 報告 Fault 的情況。 依照 Application Note 中 Missing Cell Case 的建議，我已經將以下相關寄存器設定為符合5個電芯的連接方式： PRMM_VC_OV_UV_CFG0, PRMM_VC_OV_UV_CFG1, BAL_SWITCH_MON_CFG0,BAL_SWITCH_MON_CFG1 不過，即使在這些設定下，仍然會發生 Switch Fault。 在 CB 過程中讀取到 Fault 後，會清除 Fault flag。 清除後，再次重新啟動 Cell Balancing，功能就可以恢復正常動作。 想請教的問題: 在上述情況下，發生 Switch Fault 是否屬於正常行為？ 是否有其他建議的方法或配置，可以 避免此 Fault 的發生？ 以上，還請協助確認，感謝！ Best regards, Mark Re: Cell Balancing Stops Unexpectedly After ~4 Hours on MC33774A 1：我的建议是装配上所有的cells 不要只用5个cell测试 2：基于时间的CB测试步骤你参考下面 3：在正常采样+均衡的流程中，一般将BAL_GLOB_TO_TMR设置为较大值(FFFF)，然后将BAL_TMR_CH时间设置为想要均衡的时长。 或者将两个时间都设置为较大值，根据采样结果手动关闭/重新开启均衡。 希望能对您有所帮助！ Re: Cell Balancing Stops Unexpectedly After ~4 Hours on MC33774A Hi,      請參考一下附件, 我們的設計是接5個cell.外部c5p到c18p會接起來.      關於CB的測試 我這邊另外用了兩個對照組.       1. 是連接外部c5p到c18p      2.沒有外接c5p到c18p 也就是完整的18cell      相同的設定5cell CB 38600秒,  但是 讀取 BAL_SWITCH_FLT_STAT0 1012h      1. 0xaaaa, 0x5555 切換      2. 0xa, 0x15 切換      經過2個多小時,       1. 0xaaaa, 0x5540, CB_status 0xa, cell 1,3,5 CB不動作了      已經超過5小時       2. 0xa, 0x15 切換 都正常.      對於我們5cell 連接的電路 是否需要修正?還是其他的建議                     Re: Cell Balancing Stops Unexpectedly After ~4 Hours on MC33774A 建议您不要用5个cell是去做测试，因为原理图上画的是全部的cell，我还是建议您使用全部的cells安装上去测试，看看测试结果。 Re: Cell Balancing Stops Unexpectedly After ~4 Hours on MC33774A 1：我还是要先看原理图      基本上是參考貴司提供的設計, 如附件 2：您的CB 测试是基于timer做的吗？如果是基于timer做的话我可以给你一个寄存器设置的示例，另外你有没有激活其他的CB设置？       是基於timer做的, 其他的CB设置指的? 原則上我們啟動CB的流程如下.       1.  enable 相對應的MC33774_BAL_CH_CFG0_OFFSET/ MC33774_BAL_CH_CFG1_OFFSET 1002h 1003h        2. enable CB - time 設定 0x2000 = 86000秒           a. 寫入 MC33774_BAL_GLOB_TO_TMR_OFFSET           b. 相對應的 MC33774_BAL_TMR_CH0_OFFSET           c.  MC33774_BAL_GLOB_CFG_OFFSET 寫入 0x1 | 0x2       3. diasble  CB           time 設定 0 寫入 相對應的 MC33774_BAL_TMR_CH0_OFFSET           邏輯上 是否正確?       3：当CB测试失败以后MC33774处于什么工作模式？          1. 維持 每100ms 讀取電池電壓 - application mode - enable auto pause          2. 以CMU1 為例 第二個跟第四個電池 無預警停止CBㄝ但是其他 1,3,5還繼續CB Re: Cell Balancing Stops Unexpectedly After ~4 Hours on MC33774A 1：我还是要先看原理图 2：您的CB 测试是基于timer做的吗？如果是基于timer做的话我可以给你一个寄存器设置的示例，另外你有没有激活其他的CB设置？ 3：当CB测试失败以后MC33774处于什么工作模式？ Re: Cell Balancing Stops Unexpectedly After ~4 Hours on MC33774A Hi,     實際上是每片板子都會發生在已組裝好的電池模組, 上面的現象是我寫一個測試程式測試出來的結果, 電路圖提供需要內部申請,  我們的設計是接5個電池,       CB 的步驟 CMU1對每個cell 執行下面的程式  , CMU2 第一個cell  , 只執行一次 if (enable) {     cbtimer = 0x2000;        status |= Bcc_774a_COM_WriteRegisters(drvConfig, devaddr, MC33774_BAL_GLOB_TO_TMR_OFFSET, &cbtimer, PHY_665A_ONE_REGISTER);        status |= Bcc_774a_COM_WriteRegisters(drvConfig, devaddr, MC33774_BAL_TMR_CH0_OFFSET + cellIndex, &cbtimer, PHY_665A_ONE_REGISTER);     cbxCfgVal = MC33774_BAL_GLOB_CFG_BALEN_ENABLED_ENUM_VAL | MC33774_BAL_GLOB_CFG_TMRBALEN_U16(MC33774_BAL_GLOB_CFG_TMRBALEN_STOP_ENUM_VAL)  | MC33774_BAL_GLOB_CFG_CHUV0BALEN_MASK;         status |= Bcc_774a_COM_WriteRegisters(drvConfig, devaddr, MC33774_BAL_GLOB_CFG_OFFSET, &cbxCfgVal, PHY_665A_ONE_REGISTER);     }else {     cbtimer = 0;     status |= Bcc_774a_COM_WriteRegisters(drvConfig, devaddr, MC33774_BAL_TMR_CH0_OFFSET + cellIndex, &cbtimer, PHY_665A_ONE_REGISTER);     }     其中 每100ms 會讀取 cell電壓, 附件為Freemaster log 1. 時間 2. CMU1 BAL_SWITCH_STAT0 3. CMU2 BAL_SWITCH_STAT0 4. CMU1 BAL_SWITCH_FLT_STAT0 5. CMU2 BAL_SWITCH_FLT_STAT0 6. CMU1 Fault status 7. CMU2 Fault status 8. CMU1  BAL_STAT0 9. CMU2  BAL_STAT0 以上,在實際電池上做CB的測試, 基本上也是前四個小時都正常, 四個小時後就會發生上述有的通道無預警的停止CB.  有勞幫忙確認一下問題. 感謝. Mark Re: Cell Balancing Stops Unexpectedly After ~4 Hours on MC33774A Hi 能否提供您的电路原理图 能否提供您的CB funciton的完整的配置，您是选择的哪种CB 功能，另外cells的电压有没有实时的监控？有没有数据？ 您一共发现了多少块板子有这个现象，失效率多少？

STRX - 用于从 GCC 编译器迁移的 GHS 编译器环境 嗨，团队、 客户希望用 GHS 取代 GCC 编译器选项。(S32DS 3.5 底座) 它们有自己的软件（bootlader 和 RTD base），由 gcc 编译器开发。 因此，我已指导他们参考下面的文档安装 GHS 编译器插件，并已安装完毕 https://community.nxp.com/t5/S32-Design-Studio-Knowledge-Base/HOWTO-Install-GHS-Compiler-Plugin/ta-p/1436232?attachment-id=132569 但我有一些问题，因为我没有 GHS 编译器，无法在自己身边检查。能否请您检查一下问题？ 1.能否提供将使用 GCC 编译器开发的 SW 移植到 GHS 编译器的指南，如在 S32DS 环境中定义__ghs__ 等？ 2.我们是否有说明如何使用 GHS 编译器制作项目的文件。(我参考了前一张机票才知道）。 https://community.nxp.com/t5/S32-Design-Studio/GHS-Compiler-error-in-S32DS/m-p/889761 https://community.nxp.com/t5/S32-Design-Studio/GHS-toolchain-project-in-debug-configuration/m-p/1080580 https://community.nxp.com/t5/S32-Design-Studio/5744P-S32-Design-Studio-include-Green-Hills-Compiler-Problem/m-p/652339#comment-850410 https://community.nxp.com/t5/S32-Design-Studio-Knowledge-Base/HOWTO-Install-Lauterbach-TRACE32-debugger-plug-in-into-S32/ta-p/1112237 此致， 马可 Re: STRX - GHS compiler environment for migration from GCC compiler 我在项目向导中添加了--为引导加载器附加 RTD。 Re: STRX - GHS compiler environment for migration from GCC compiler 嗨，马可、 遗憾的是，无法在现有项目中更改工具链类型（如从 gcc 改为 GHS）。最简单的方法是创建新项目，在项目向导中选择 GHS 工具链，然后从基于 gcc 的项目中复制现有源代码。

[LEAR][S32k311][SBCFS2400] CS2CS 时间配置错误 你好，团队、 李尔在说 ---------------------------------------------------------------------------------------- 在我们使用 MCU S32k311 的项目中，当我们在用于 SBC (FS2400) 的 SPI 模块中配置以下参数时，遇到了一个问题，即 "CS2CS 时间 "的选定值超出了可接受的范围（配置值 = 10us）。 在 SPI UM 中，该参数允许使用的参数范围为 10ns 至 0.01s 能否请您检查一下这种限制来自何处？或者如何绕过它？ 注：Tresos 版本 29.0.0 - RTD 5.0.0。 ---------------------------------------------------------------------------------------- BR 斯特凡诺 优先级：高 RTD 资料来源直接客户 Re: [LEAR][S32k311][SBCFS2400] CS2CS time config error 你好，我是@StefanoGattazzo、 1.目前，我们将 CS2CS 配置为 2 µs。如果保持这个值不变，会产生什么影响？ => 他们的目的是处理与SBC（FS2400）的数据收发。如果他们保留这个值，我不确定 LPSPI 是否能像他们期望的那样工作，他们必须检查这一点。 2. 如果我们采纳您的建议，有几个模块将受到更新频率的影响。能否请您说明对每个人的影响？在应用这些更改时，我们是否需要考虑任何限制或规范？ => 我只大致回答了热电阻驱动器的模块问题。 对于通信模块：通常AIPS_PLAT_CLK 将用作计算波特率的时钟源。如果他们更改 AIPS_PLAT_CLK，则需要检查每个模块的配置参数（分频器和相关参数）以达到预期的波特率。 关于定时器模块：通常，AIPS_PLAT_CLK 将用作时钟源，用于生成定时器的时钟值。如果他们更改 AIPS_PLAT_CLK，则需要更改计时器分频器的值以达到预期的超时时间。 其他模块如 DMA、XRDC...AIPS_PLAT_CLK 会影响各模块的运行速度。 顺祝商祺！ 丹 Re: [LEAR][S32k311][SBCFS2400] CS2CS time config error 你好 DanNguyenDuy, 李尔回答道： ----------------------------------------------------------------------------------------- 我应用了您建议的更改，并确认降低时钟频率成功绕过了 Tresos 配置问题。谢谢您的建议。 我有两个后续问题： 目前，我们将 CS2CS 配置为 2 µs。如果保持这个值不变，会产生什么影响？ 如果我们采纳您的建议，有几个模块将受到更新频率的影响。能否请您说明对每个人的影响？在应用这些更改时，我们是否需要考虑任何限制或规范？ 使用 AIPS_PLAT_CLK 的模块（从 60 MHz 到 20 MHz）： 模块 备注 LPSPI0 已使用 — 此模块触发信号了最初的问题。 FlexCAN 已使用，有什么影响？ LPUART 未使用 - 是否有影响？ FlexIO 未使用 - 是否有影响？ QuadSPI 未使用 - 是否有影响？ MSCM 已使用--有什么影响？ INTM 已使用--有什么影响？ SEMA42 未使用 - 是否有影响？ EIM 未使用 - 是否有影响？ CRC 已使用--有什么影响？ FCCU 已使用--有什么影响？ 机构风险管理 已使用--有什么影响？ AXBS 已使用--有什么影响？ XBIC 已使用--有什么影响？ XRDC 已使用--有什么影响？ eDMA 未使用 - 是否有影响？ 使用 AIPS_SLOW_CLK 的模块（从 30 MHz 到 20 MHz）： 模块 备注 LPUART 未使用 - 是否有影响？ LPI2C 未使用 - 是否有影响？ LPSPI[1...5] 未使用 - 是否有影响？ SIUL2 已使用--有什么影响？ MCM 有什么影响？ VIRT_WRAPPER 未使用 - 是否有影响？ MC_CGM 已使用--有什么影响？ FIRC 已使用--有什么影响？ SIRC 已使用--有什么影响？ FXOSC 已使用--有什么影响？ PLLDIG 已使用--有什么影响？ MU_n 未使用 - 是否有影响？ HSE_B 未使用 - 是否有影响？ PMC 已使用--有什么影响？ MC_ME 已使用--有什么影响？ WKPU 未使用 - 是否有影响？ REG_PROT 已使用--有什么影响？ CMU_FC 已使用--有什么影响？ CMU_FM 已使用--有什么影响？ STCU2 已使用--有什么影响？ TRGMUX 未使用 - 是否有影响？ TSPC 已使用--有什么影响？ PIT_0 已使用--有什么影响？ PIT_1 已使用--有什么影响？ SWT_n 未使用 - 是否有影响？ RTC 未使用 - 是否有影响？ 温度传感器 已使用--有什么影响？ LPCMP_n 已使用--有什么影响？ PFLASH/FLASH 已使用--有什么影响？ PRAM/SRAM 已使用--有什么影响？ JDC 已使用--有什么影响？ --------------------------------------------------------------------------------------- BR 斯特凡诺 Re: [LEAR][S32k311][SBCFS2400] CS2CS time config error 你好，我是@StefanoGattazzo、 有一个基于"SpiTimeCs2Cs" 和"PrescaledClock" 的公式来计算"DesiredTimeClock" 是否超出范围。 "预缩放时钟" 将根据波特率和 McuClockReferencePoint_AIPS_PLAT_CLK 的值进行计算。因此，要绕过您的问题，可以降低 McuClockReferencePoint_AIPS_PLAT_CLK 的值。 例如：将 McuClockReferencePoint_AIPS_PLAT_CLK 配置为 2.0E7，而不是 6.0E7 顺祝商祺！ 丹 Re: [LEAR][S32k311][SBCFS2400] CS2CS time config error 你好 DanNguyenDuy, 附上。 BR 斯特凡诺 Re: [LEAR][S32k311][SBCFS2400] CS2CS time config error 你好，我是@StefanoGattazzo、 能否将 Spi.xdm 和 Mcu.xdm 文件发给我？ 顺祝商祺！ 丹 Re: [LEAR][S32k311][SBCFS2400] CS2CS time config error 你好 DanNguyenDuy, 李尔回答道： 在执行您关于 CS2CS 时序的建议后，AIPS_PLAT_CLK 频率从 60 MHz 降至 20 MHz。结果，SPI 通信波特率从所需的 3 兆赫降低到大约 2.875 兆赫（参见捕获 1）。尽管进行了配置调整，但由于时钟分频公式——20 MHz 不能均匀地除以 3，因此实现精确的 3 MHz 波特率还是不可行的（参见捕获 2）。 捕获 1： 捕获 2： 但是，在使用测试代码（捕获 3）进行物理测试时（在专属区域内连续发送两个 SPI 命令并测量了它们之间的间隔），发现 CS2CS 定时为 48 µs。该值超过了 5 µs 的要求并符合 SBC 规范（参见捕获 4）。 捕获 3： 捕获 4： 根据整体分析，如果我们保留当前配置--其中 CS2CS 设置为 2 µs，但测量的物理值为 48 µs--即使与预期配置不符，我们还能继续使用该设置吗？换句话说，依靠物理测试结果是否可以接受？ BR Stefano Re: [LEAR][S32k311][SBCFS2400] CS2CS time config error 你好，我是@StefanoGattazzo、 这个问题应该由用户来回答，因为他们打算使用一个错误的现实配置。 顺祝商祺！ 丹

标签无法放大或缩小（《图形用户界面指南》1.9.1，LVGL 8.3.10） 你好： 最近，我在使用过程中遇到了一个问题： 我创建了一个标签，然后触发信号了放大或缩小另一个标签的事件，然后模拟不成功。按下标签时，另一个标签没有反应。 使用了四个接口函数：lv_obj_set_style_transform_pivot_x(item_array_1a[i].item_obj_icon.item_array_1a[i])50, LV_PART_MAIN); lv_obj_set_style_transform_pivot_y(item_array_1a[i].item_obj_icon, 50, LV_PART_MAIN); lv_obj_set_style_transform_width(item_array_1a[i].item_obj_icon, 512, LV_PART_MAIN); lv_obj_set_style_transform_height(item_array_1a[i].item_obj_icon, 128, LV_PART_MAIN)； 那么，为什么标签不能放大或缩小？LVGL 界面是否使用不当？ Re: Labels cannot be scaled up and down (Gui Guide 1.9.1, LVGL 8.3.10) V8.3.10 版本的界面有一个问题，V9.2.1 版本的界面可以实现的功能： lv_obj_set_style_transform_pivot_x(item_array_1a[i].item_obj_icon、50, LV_PART_MAIN); lv_obj_set_style_transform_pivot_y(item_array_1a[i].item_obj_icon, 50, LV_PART_MAIN); lv_obj_set_style_transform_scale_x(item_array_1a[i].item_obj_icon,384,LV_PART_MAIN); lv_obj_set_style_transform_scale_y(item_array_1a[i].item_obj_icon,384,LV_PART_MAIN)； 感谢 wenbin Re: Labels cannot be scaled up and down (Gui Guide 1.9.1, LVGL 8.3.10) 你好：@文彬元 是的，我要做的是，当我点击 label_a 时，让 label_b 缩放。此外，为什么使用 V8.3.10 版本是因为我们使用贵公司的 MIMXRT1170-EVK 开发板，LVGL V9.2.1 版本没有相应的设备模板，但是 V8.3.10 版本存在。我们公司也希望使用最新版本的 LVGL 版本。现在可以在没有 MIMXRT1170-EVK 开发板的情况下使用设备模板吗？ 是的，我目前想实现的效果是点击label_a的时候让label_b缩放大小。另外，为什么使用V8.3.10版本是因为我们使用您公司MIMXRT1170-EVK的开发板，LVGLV9.2.1版本中没有对应设备模板，而V8.3.10中存在。我们公司也希望使用最新版的lvgl版本，现在是没有mimxrt1170-evk开发板的设备模板也可以使用吗？ Re: Labels cannot be scaled up and down (Gui Guide 1.9.1, LVGL 8.3.10) @zhuangfei 你好、 能否请您介绍一下您的项目设置？例如，这个案例背后的逻辑——你想在点击 label_a 时在 label_b 上触发信号缩放效果吗？如果是，则应启用 LV_OBJ_FLAG_CLICKABLE 标志，以便 label_a 在我的情况下，使用您的代码，至少 label_b 会改变其主尺寸。不过，效果并不完美--字体大小并没有相应缩放。 顺便问一下，能否请您分享一下您的项目选择LVGL v8.3.10的原因？我们通常建议使用最新版本的 LVGL，因为它包含了重要的改进和错误修复，可能会对您的使用情况有所帮助。 您能麻烦给出这个用例的详细信息吗？例如具体的逻辑链条，您是想在点击 label_a 的时候让 label_b 缩放大小吗？这样的话 label_a 需要使能 LV_OBJ_FLAG_CLICKABLE 。 在我这边的重现中，至少 label_b 本身的大小是会改变的，只是文本的大小不会改变。 能顺便问一下您选择V8.3.10版本开发的原因吗？ 我们比较推荐使用最新的LVGL版本，因为有很多功能被丰富了，比如Transform有了更多的配置，可以顺利的改变整个label的大小包括字体本身。 期待您的更新！ 顺祝商祺！ 文斌 Re: Labels cannot be scaled up and down (Gui Guide 1.9.1, LVGL 8.3.10) hi：@文斌 我根据您的截图添加了标记：添加可点击，但仍然没有反应。对于其他按键，我将触发事件设置为在单击时更改标签背景图像的颜色。这可以实现，但缩放和缩放注释界面功能一直无法运行 我按照你的截图增加了flag：add clickable但是点击还是没有反应，其他按键我是设置触发事件是点击标签背景图片变色这个是可以实现的，但这个放大缩小便签接口函数一直不行。 lv_obj_set_style_transform_pivot_x(item_array_1a[i].item_obj_icon, 50, LV_PART_MAIN)； lv_obj_set_style_transform_pivot_y(item_array_1a[i].item_obj_icon, 50, LV_PART_MAIN)； lv_obj_set_style_transform_width(item_array_1a[i].item_obj_icon, 512, LV_PART_MAIN)； lv_obj_set_style_transform_height(item_array_1a[i].item_obj_icon, 128, LV_PART_MAIN)； Re: Labels cannot be scaled up and down (Gui Guide 1.9.1, LVGL 8.3.10) @zhuangfei 你好、 你能否检查一下 LV_OBJ_FLAG_CLICKABLE 标志是否已添加到你的触发信号标签小部件中？默认情况下，标签部件不启用此标记，因此除非明确设置，否则不会响应点击事件。 您可以像这样在小工具的旗帜部分添加旗帜： 希望对您有所帮助！如果您需要进一步的帮助，请随时分享更多详细信息或与我们联系。 顺祝商祺！ 文斌

无法通过 J-Link SWD 在自定义板上连接到 S32K144 — “在 Coresight 设置中找不到内核 大家好， 我正在使用 S32K144 MCU 处理一款定制板，并尝试使用 SWD 通过 SEGGER J-Link 对其进行调试。 在使用 JLink.exe （或通过 S32 Design Studio）连接时，我遇到了这个问题： J-Link 可以检测设备和 SWD-DP（ID 0x2ba01477）。 它报告设备处于安全状态，并尝试取消安全保护（大规模擦除）。 但是，它无法停止 CPU，也无法读取 CPUID 寄存器。 "连接 CPU 失败。重复执行 RESET 下的连接。”。 最终，它以 "无法在 Coresight 设置中找到内核 "为由失败并断开连接。 我已经试过了： 取消设备安全（大规模擦除）。 在 S32 设计工作室中启用的 RESET 选项下进行连接。 降低 SWD 速度。 验证 VTref = 3.3 V（目标供电）。 基本的电缆和连接器检查。 问题 这可能是 RESET 线路布线或行为问题吗？手动验证/RESET 板的最佳方法是什么？ S32K144 和 J-Link SWD 连接有什么已知的怪癖吗？ 如何确认 SWDIO 和 SWDCLK 信号是否正确连接到我的自定义板上？ 是否有建议的步骤来调试这种 "无法在 Coresight 设置中找到内核 "的错误？ 如果有任何建议或故障排除技巧，我将不胜感激。谢谢！ Re: Unable to connect to S32K144 on custom board via J-Link SWD — “Could not find core in Coresight HI 请检查 SWT 接口：注意 SWD_CLK 引脚外部添加的下拉电阻。 如果你使用的是 9 针 Cortex-M 适配器，请确保 S32K144 的RESET信号连接到 J-Link 的 nRESET 信号（引脚 10）。 然后参考 Unbricking S32K146 中的讨论：将 RESET 拉低电平，然后使用 J-Link 命令和这些命令尝试连接。 祝好， Robin ------------------------------------------------------------------------------- 注： - 如果本帖回答了您的问题，请点击"ACCEPT AS SOLUTION" 按钮。谢谢！ - 我们会在最后一次发帖后的 7 周内跟踪主题，之后的回复将被忽略 如果您以后有相关问题，请另开新主题并参考已关闭的主题。 ------------------------------------------------------------------------------- Re: Unable to connect to S32K144 on custom board via J-Link SWD — “Could not find core in Coresight 重置时我们在 TMS、TDI、TDO 10k 向下拉动 TCLK 4k87 时有 10k pul

汽车网关的兴起和演进 <meta http-equiv="Content-Type" content="text/html; charset=utf-8" /> 介绍快速成长的汽车网关市场，主要使用案例和需求，以及网关在接下来的十年中将如何演进。 <meta http-equiv="Content-Type" content="text/html; charset=utf-8" /> 介绍快速成长的汽车网关市场，主要使用案例和需求，以及网关在接下来的十年中将如何演进。

示例 MPC5674F eQADC+eDMA-Single+Differential+GAIN CW210 <meta http-equiv="Content-Type" content="text/html; charset=utf-8" /> ******************************************************************************** * 详细说明： * 初始化 eQADC 模块用于差分单扫描模式（选择 GAIN * 因子），转换指定的命令队列并将结果显示到终端 * 达到 EOQ 时的窗口。 * 差分模拟输入 DAN0+:DAN0- 需要外部连接 * 引脚 ANA_0 和 ANA_1 查看一些有效数字。 * EVB 电位器可用于此目的。 * 由于使用了差分模式，eQADC 不需要校准。 * * ---------------------------------------------------------------------------------------------- * 测试硬件：XPC567XKIT516 - MPC5674ADAT516 Rev.C、MPC567XEVBFXMB Rev.B * 微控制器: PPC5674FMVYA264 * 终端：19200-8-无奇偶校验-1 停止位-eSCI_A 上无流量控制 * 系统频率：264/200/150/60 MHz * 调试器：Lauterbach Trace32 * PeMicro USB-ML-PPCNEXUS * 目标：RAM、internal_FLASH * EVB 连接：电位器 --> ADC 输入 * USER_DEV_RV2(J4-7) --> ANA_0 (J18-3) DAN0+ * USER_DEV_RV3(J4-8) --> ANA_1 (J18-4) DAN0- * * 按钮 --> ADC 触发器 * USER_DEV_1D(J4-2) --> TPU_A0 (J22-1) ******************************************************************************** <meta http-equiv="Content-Type" content="text/html; charset=utf-8" /> ******************************************************************************** * 详细说明： * 初始化 eQADC 模块用于差分单扫描模式（选择 GAIN * 因子），转换指定的命令队列并将结果显示到终端 * 达到 EOQ 时的窗口。 * 差分模拟输入 DAN0+:DAN0- 需要外部连接 * 引脚 ANA_0 和 ANA_1 查看一些有效数字。 * EVB 电位器可用于此目的。 * 由于使用了差分模式，eQADC 不需要校准。 * * ---------------------------------------------------------------------------------------------- * 测试硬件：XPC567XKIT516 - MPC5674ADAT516 Rev.C、MPC567XEVBFXMB Rev.B * 微控制器: PPC5674FMVYA264 * 终端：19200-8-无奇偶校验-1 停止位-eSCI_A 上无流量控制 * 系统频率：264/200/150/60 MHz * 调试器：Lauterbach Trace32 * PeMicro USB-ML-PPCNEXUS * 目标：RAM、internal_FLASH * EVB 连接：电位器 --> ADC 输入 * USER_DEV_RV2(J4-7) --> ANA_0 (J18-3) DAN0+ * USER_DEV_RV3(J4-8) --> ANA_1 (J18-4) DAN0- * * 按钮 --> ADC 触发器 * USER_DEV_1D(J4-2) --> TPU_A0 (J22-1) ********************************************************************************

MHW-N2009ハンズオンワークショップHexiwearでIoTおよびウェアラブルアプリケーションを即座に開発 <meta http-equiv="Content-Type" content="text/html; charset=utf-8" /> オープンソースの拡張可能な開発プラットフォームであるHexiwearを使用して、IoTおよびウェアラブルアプリケーションを開発します。このプラットフォームは、クリックボードを介して180 +追加のセンサーを追加するオプションで拡張可能です。 <meta http-equiv="Content-Type" content="text/html; charset=utf-8" /> オープンソースの拡張可能な開発プラットフォームであるHexiwearを使用して、IoTおよびウェアラブルアプリケーションを開発します。このプラットフォームは、クリックボードを介して180 +追加のセンサーを追加するオプションで拡張可能です。 セキュアモバイル |ヘルスケア&ウェアラブル

PN7642 - Basic RF power limitation using DPC RF power regulation is a critical factor in the development of NFC devices, as it directly influences performance, reliability, and compliance with industry standards. There are three main reasons for this:  If the PN7642 VUP current exceeds the limit given by the product Data sheet, the PN7642 can be damaged. If too high RF power is radiated from the antenna, there exists a risk for NFC Cards. Too high RF power might lead to exceeding a given RF limit (NFC Forum, ISO, EMVCo). NXP provides comprehensive documentation on Dynamic Power Control for the PN7642 and PN5190. Designers are expected to adhere to these guidelines, especially when aiming for compliance with standards such as EMVCo. PN5190 Dynamic Power Control Quick Calibration and TxShaping Demo Automatic DPC Calibration for PN7642 and PN5190 However, if the user's design is intended for infrastructure applications, such as a smart lock. At a minimum, Dynamic Power Control (DPC) should be enabled to serve as a current limiter. The evaluation can be done with the help of NFC Cockpit.  1// Start DPC Calibration  "Press" Start DPC Calibration  "Press" Load protocol  Make sure that the DPC is "Enabled" 2// Adjust current reduction table  Set all entries to "0" Write into EEPROM 3// Set the "Target" current Use approx. the same current as "TxLDO Values"  The limit may be set higher, e.g., to 300 mA, if the purpose is solely to provide overcurrent protection for the IC. Save to EEPROM Restart the board (Close port -> Press VEN->Open port)   4// Check the power regulation  Start DPC Calibration  Place a card or any metal object in the antenna's proximity  Observe VDDPA and "TxLDO" current  The current should stay around the given target  The VDDPA will drop once the antenna is loaded  5// Set a minimum VDDPA in DPC  In the case that the current is still too high, a user can define a minimum VDDPA that is used for the DPC regulation. By default, this value is set to 2.2V. The user can decrease it up to 1.5V.  In that case, NXP also recommends disabling the RDOn control.  Note: The User has to consider the "DPC_TXLDO_MAX_DROPOUT" parameter, which defines the maximum voltage drop on TXLDO. By default, it is set to 3.6 V. That means if the user wants to use the minimum VDDPA 1.5 V, then the maximum TXLDO input shall not exceed 5.1 V. This feature protects the TXLDO from overheating.  Once the evaluation is done, the customer shall program the following EEPROM entries in their application. For more info, see PN7642 Product Data sheet.  DPC_CONFIG (Address: 0x0068) -> example: enabled -> 0x01 DPC_TARGET_CURRENT (Address: 0x0069) -> example: 229 mA -> 0xE5 DPC_TXLDO_MAX_DROPOUT (Addresses: 0x0073 - 0x0074) -> example: 3.6 V -> 0x10,0x0E DPC_TXLDOVDDPALow (Address: 0x006F) -> example: 1.5 V -> 0x00 DPC_HYSTERESIS_LOADING (Address: 0x006B) -> example: 20 mA -> 0x14 DPC_HYSTERESIS_UNLOADING (Address: 0x006E) -> example: 10 mA - 0x0A DPC lookup table entries (Addresses: 0x007D - 0x0125) -> example: for current limitation only -> all 0x00 If a user does not want to use a maximum range of VDDPA during DPC (5.7V), e.g., their system uses a 3.3V supply domain. Then, the maximum VDDPA in DPC can be limited by the following EEPROM settings:  TXLDO_VDDPA_MAX_RDR (Address: 0x0007)-> example: 3.0 V -> 0x0F Note: TXLDO has approx. 0.3V voltage drop. Always set this parameter 0.3V lower. Once this is done, the user has to check the "TxLDO" current and adjust the target current accordingly. In this case, to approximately 150 mA. If you don´t change it, the DPC starts to limit the power around 229 mA, as has been set in a previous step.  NFC Controller Solutions

MCUXpresso for VSCode Zephyr のインストールとトラブルシューティングに関する FAQ Zephyr と VS Code の MCUXpresso の使用を開始するには、 Zephyr ナレッジ ハブを参照してください。 ここでは、インストールの問題、または VS Code での Zephyr アプリケーションの構築に関する問題のトラブルシューティングと解決に関する一般的なヒントをいくつか紹介します。これらのリソースに関連する質問や問題がある場合は、新しい質問をしてください、NXPサポートチームがそこで対処できます。 インストール手順では、いくつかのツール、Python、および多くのPythonモジュールをインストールするMCUXpressoインストーラーを使用します。一部のツールやモジュールが正しくインストールできない場合は、これらを手動でインストールしてみるのが役立ちます。Zephyr Project Getting Startedページは、これに関する良い参考資料であり、必要なすべてのものをインストールするための詳細な手順を示しています。 考えられる回避策として、「MCUXpresso インストーラーが依存関係ファイルをダウンロードできない」を参照してください。 MCUXpresso インストーラー ログにツールのインストール エラーが表示される場合は、「管理者権限でのインストール」および「ツールの手動インストール」を参照してください。 CLI から Python コマンドを使用するには、「VS Code で使用される Python 仮想環境」を参照してください。 エラーが Python に関連している場合、または pip、West などの Python モジュールが欠落している場合、Zephyr ビルドに使用される場合は、「 複数の Python バージョンがインストールされている問題」および 「Python モジュールが見つからない」を参照してください。 Zephyr プロジェクトをインポートしようとしても、目的のボードがボード リストにない場合は、 Git で Zephyr のリビジョンを変更する必要がある可能性があります。 Zephyr プロジェクトをビルドしようとして、MCXN947VDF-pinctrl.h のような pinctrl ファイルが見つからないために失敗した場合は、 pinctrl ファイルと HAL_NXP が見つからないを参照してください。

MCUXpresso for VSCode Zephyr 安装和故障排除常见问题解答 要开始使用 Zephyr 和 MCUXpresso for VS Code，请参阅Zephyr 知识中心。 以下是一些用于排除故障和解决安装问题或在 VS Code 中构建 Zephyr 应用程序的问题的常见技巧。如果您对这些资源有任何疑问或问题，请提出新问题，NXP 支持团队可以在那里解决。 安装步骤使用 MCUXpresso 安装程序，它安装了几个工具、Python 和许多 Python 模块。如果某些工具或模块无法正确安装，可以尝试手动安装它们。Zephyr 项目入门页面是一个很好的参考，并提供了安装所需的一切的详细步骤。 请参阅MCUXpresso 安装程序无法下载依赖文件作为一种潜在的解决方法。 如果 MCUXpresso 安装程序日志显示安装工具时出错，请参阅使用管理员权限安装和手动安装工具。 要从 CLI 使用 Python 命令，请参阅VS Code 使用的 Python 虚拟环境。 如果错误与 Python 有关，或者缺少 Python 模块（如 pip、West 或用于 Zephyr 构建的其他模块），请参阅安装多个 Python 版本时出现的问题和缺少 Python 模块。 如果您尝试导入 Zephyr 项目，但所需的板不在板列表中，则可能需要使用 Git 更改 Zephyr 修订版。 如果您尝试构建 Zephyr 项目，但由于缺少 pinctrl 文件（如 MCXN947VDF-pinctrl.h）而失败，请参阅缺少 pinctrl 文件和 HAL_NXP 。

NXP CZ for Students   NXP CZ for Students Shaping a smarter, safer and more sustainable world - together. Welcome to NXP Semiconductors CZ! We are a global technology leader driving innovation in semiconductors. In the Czech Republic, we work closely with university students, offering opportunities to gain hands‑on experience and contribute to technologies that have a real impact on the world around us. At NXP, we believe that talent, innovation and collaboration go hand in hand. We create an environment where students can grow, learn from industry experts and take part in solutions that shape the future of automotive, industrial, IoT and secure systems. Our sites are located in Brno, Rožnov pod Radhoštěm, Ostrava and Zlín. NXP Semiconductors CZ provides Students and New College Graduates with plenty of interesting opportunities for cooperation, such as Internships↗, Thesis topics↗, workshops, and much more.  🏎️Driving Innovation: NXP CUP (function() { var wrapper = document.getElementById('lia-vid-6366762118112w960h540r302'); var videoEl = wrapper ? wrapper.querySelector('video-js') : null; if (videoEl) { if (window.videojs) { window.videojs(videoEl).ready(function() { this.on('loadedmetadata', function() { this.el().querySelectorAll('.vjs-load-progress div[data-start]').forEach(function(bar) { bar.setAttribute('role', 'presentation'); bar.setAttribute('aria-hidden', 'true'); }); }); }); } }})(); (view in My Videos) Learn. Build. Compete. NXP CUP is a prestigious international competition focused on autonomous model vehicles. Students from across Europe apply their technical knowledge in practice while working with real NXP technologies. hands‑on experience with hardware and software development of system thinking and teamwork skills technical challenges in an international environment an opportunity to showcase talent and creativity Join the famous autonomous car model race NXP CUP and compete with students from all across Europe! More info here: https://nxpcup.nxp.com/ Rules here: https://www.nxp.com/docs/en/supporting-information/NXP-Cup-2025-rules.pdf 💻 Internships at NXP Turning knowledge into real‑world impact. Our student internships are designed to bridge the gap between academic knowledge and real‑world application. At NXP, interns are not observers — they are active contributors to teams developing technologies of the future. What you can expect: Meaningful work Be involved in real projects with tangible impact. Expert mentorship Learn from top professionals in your field. Flexibility Working hours adapted to your study schedule. Professional growth Build skills and experience that support your academic and career development. Long‑term opportunities An internship is often the first step toward a long‑term career with NXP. CZ Interships 🎓 Thesis Collaboration Research with purpose. Looking for a bachelor’s or master’s thesis topic?At NXP, you can work on your thesis in close collaboration with our experts, either by choosing from NXP‑defined thesis topics or by proposing your own topic aligned with our technologies and areas of expertise. freedom to work on your own idea or select an NXP‑listed topic up‑to‑date, technically relevant assignments supervision by experienced industry professionals strong connection between academia and real‑world applications valuable experience and a strong reference for your future career CZ/SK Diploma thesis MCX Lab Empowering hands‑on learning and university innovation. MCX Lab is a strategic NXP initiative designed to strengthen collaboration with universities and support hands‑on STEM education. The program provides students and educators with access to modern NXP hardware, software and learning resources, enabling practical experience with embedded systems, AI/ML, IoT and edge computing. At the core of the MCX Lab is the FRDM‑MCX development platform, which allows students to move beyond theory and work directly with technologies used in real‑world applications. Through guided labs, projects and experimentation, students build practical skills while developing a deeper understanding of modern microcontroller‑based systems. MCX Lab reflects our commitment to learning by doing, innovation through collaboration and long‑term partnerships with academic institutions. Supporting STEM Education Building the next generation of innovators. At NXP, supporting STEM education (Science, Technology, Engineering and Mathematics) is a key part of our mission. We actively collaborate with universities and students to help bridge the gap between academic studies and industry needs. Through initiatives such as internships, thesis collaboration, NXP CUP, MCX Lab and university events, we empower students to develop technical expertise, system thinking and problem‑solving skills that are essential for their future careers. By investing in STEM education, we are helping to shape a diverse and skilled talent pipeline and enabling students to contribute to technologies that make the world smarter, safer and more sustainable. 🌱 Life at NXP Innovation powered by people. At NXP, we build on values of collaboration, openness and mutual respect. We believe the best solutions emerge when diverse perspectives, experiences and ideas come together. (function() { var wrapper = document.getElementById('lia-vid-6395318955112w400h225r688'); var videoEl = wrapper ? wrapper.querySelector('video-js') : null; if (videoEl) { if (window.videojs) { window.videojs(videoEl).ready(function() { this.on('loadedmetadata', function() { this.el().querySelectorAll('.vjs-load-progress div[data-start]').forEach(function(bar) { bar.setAttribute('role', 'presentation'); bar.setAttribute('aria-hidden', 'true'); }); }); }); } }})(); (view in My Videos) 🤖 Community & University Events Connect. Learn. Inspire. We offer students more than just work experience: WIN – Women in NXP Campus Connect – students connecting students NXP CUP and technical workshops university lectures and networking events 🗨️Get in Touch Let’s create the future. #BrighterTogether Interested in an internship, thesis collaboration, or learning more about student opportunities at NXP? Contact us!

利用 Fusion Project 基于机器学习的数据实现互联智能汽车 当今汽车行业面临着许多挑战，如何以经济高效的方式广泛获取新车中大量的数据。来自摄像头、激光雷达、雷达和惯性运动等数十个传感器的车辆数据以及来自车辆 ECUS 的运行数据可以提供有关车辆驾驶环境和车辆性能的宝贵实时洞察。关键车辆数据可以在车辆边缘进行预处理，并压缩高达 98%，同时保持高级分析的高保真度和训练/部署机器学习模型，以不断改进车辆从设计到生产生命周期的全过程。在本次会议中，我们将确定行业挑战，以及五家行业公司组成的联盟如何组建融合项目，以提供完整的车辆到边缘数据生命周期，以经济高效的方式集成机器学习训练和部署，将训练时间缩短 10 倍。 演讲者： 恩智浦汽车控制和网络解决方案全球产品和解决方案营销总监 Brian Carlson Arm® 处理器

How use USB as both gadget mode and host mode usb USB_OTG Q:How use USB as both gadget mode and host mode usb USB_OTG? A: Hardware: imx6 sabresd board usb otg diagram, as follow Software: You can use USB OTG port for both host mode and device gadget mode. There are 2 signals you should care: - USB_OTG_ID - USB_OTG_MODE (control power for usb vbus in host mode, this is EIM_D22 pin) In device tree: reg_usb_otg_vbus: regulator@0 {                         compatible = "regulator-fixed";                         reg = <0>;                         regulator-name = "usb_otg_vbus";                         regulator-min-microvolt = <5000000>;                         regulator-max-microvolt = <5000000>;                         gpio = <&gpio3 22 0>;                         enable-active-high;                 };   pinctrl_usbotg: usbotggrp {                         fsl,pins = <                                 MX6QDL_PAD_GPIO_1__USB_OTG_ID           0x17059                                 MX6QDL_PAD_EIM_D22__GPIO3_IO22           0x80000000                         >;                 }; &usbotg {         vbus-supply = <&reg_usb_otg_vbus>;         pinctrl-names = "default";         pinctrl-0 = <&pinctrl_usbotg>;         disable-over-current;         srp-disable;         hnp-disable;         adp-disable;         dr_mode = "otg";                 status = "okay"; };  With above config, one can use OTG port for mouse, usb stick in host mode, and gadget mode for ADB... https://community.nxp.com/message/943460  i.MX6_All

示例 S32K144 FlexCAN0 RXFIFO DMA nonSDK S32DS13 <meta http-equiv="Content-Type" content="text/html; charset=utf-8" /> ******************************************************************************** 详细描述： 配置 FlexCAN 0 以将消息发送和接收至 RXFIFO。 LOOPBACK 模式已启用。 两个 ID 被设置到 RXFIFO ID 表中。 DMA 配置为从 RXFIFO 读取消息。 在 DMA 主中断内，新消息将根据 哪个标识符接受过滤器被命中。 ------------------------------------------------------------------------------ 测试硬件：S32K144 EVB-Q100 微控制器：PS32K144HFVLL 0N77P 系统频率：160MHz 调试器：Lauterbach 目标：internal_FLASH ******************************************************************************** 修订历史： 1.0 2017 年 9 月 4 日 Petr Stancik 初始版本 ******************************************************************************************* 概述 回复：示例 S32K144 FlexCAN0 RXFIFO DMA nonSDK S32DS13 <meta http-equiv="Content-Type" content="text/html; charset=utf-8" /> 你在哪里添加了上述代码..我也面临同样的问题 回复：示例 S32K144 FlexCAN0 RXFIFO DMA nonSDK S32DS13 <meta http-equiv="Content-Type" content="text/html; charset=utf-8" /> 对齐 CAN 软件缓冲存储器后问题解决。 联盟 { uint8_t缓冲区[64]； 结构体 { uint32_t Buff1； uint32_t Buff2； uint32_t数据1； uint32_t数据2； MBS[8]； }CAN_RxData __attribute__ ((aligned(64)));; 回复：示例 S32K144 FlexCAN0 RXFIFO DMA nonSDK S32DS13 <meta http-equiv="Content-Type" content="text/html; charset=utf-8" /> 我和你有同样的问题。你解决了吗 Re: Example S32K144 FlexCAN0 RXFIFO DMA nonSDK S32DS13 如果接收到的CAN数据全部用DMA存到一个数组[120]中保存，DMA如何配置才能确保不会传输越界[120],不能用中断的处理方式，如果用中断来处理，DMA就没什么意义了