求助：S32K312 上的 HSE 固件刷新 您好，NXP团队： 我目前正在研究S32K312上的HSE固件。我已经有了HSE固件的BIN文件，但我不知道如何正确地将其刷写到S32K312上。 我尝试使用 PEmicro 烧录 BIN 文件 ，但失败了。我还尝试 在 S32 Design Studio 中使用 IVT 配置 ，但当我选择 S32K312 时 ，它显示“不支持的处理器”。 我已经查阅了所有可用的示例和帖子，但我仍然卡在 HSE 固件刷写这一步。 请问能否提供在S32K312上刷入HSE BIN固件并使HSE正常运行的正确且最简短的步骤？ 请具体指导我如何以及在哪里刷入 BIN 文件，以及刷入后需要做什么。 （我已将 Bin 文件打包在 Zip 文件中），请查收。 @nxp 谢谢，此致敬礼！ 索赫尔·贾卡蒂 Re: Help Required: HSE Firmware Flashing on S32K312 嗨@Mohmedsohel 您是否已经查看过S32K3 MCU 通用 HSE 演示示例中提供的 S32K344_HSE_FW_INSTALL 演示？ 另外，您提到您尝试使用 S32 配置工具中的 IVT 工具。但是，该工具不支持 S32K3 设备。对于 S32K3，可以直接在 S32DS 项目的“项目设置”→“启动代码”→“startup_cm7.s”下修改 IVT。 BR，VaneB

Fault Injection to cache location using an interface provide in emcem Hello team, I have addition question to below query (what values to select as arguments for eMcem_setupinjectionChannel - NXP Community😞 I need to inject a 2-bit fault in Cache location but I'm not sure what it means as mentioned in the reference manual and we use NXP s32K394 microcontroller: I need to call below function 2 times to inject the faults in cache and get the 2-bit error in cache like below:  If I'm doing wrongly, could you please share the example code how to do this injection, and currently we are using SAF package in our project, so if there are already fault injection code exists for the these, please share which file I need to refer to inject all kind of faults using (EIM) for memory test interface which is provided in SAF module. Re: Fault Injection to cache location using an interface provide in emcem Hello @Rudved_3366, I haven’t found an example of this cache injection, but here it is in a nutshell: Before injecting the CM7_0 I-cache tag double-bit error, verify that the relevant I-cache error-bank entries (IEBRn) are available and unlocked. I tested it on S32K344, which I have on the bench, I injected:  if (eMcem_SetupInjectionChannel(EMCEM_EIM_CH_3, 1, 2 ) != (Std_ReturnType)E_OK) { while (1U); } if (eMcem_InjectFault(EMCEM_EIM_CH_3) != (Std_ReturnType)E_OK) { while (1U); } Then, in the handler, disable the EIM. void BusFault_Handler(void) { if(IP_EIM->EIMCR & EIM_EIMCR_GEIEN_MASK) { IP_EIM->EIMCR = EIM_EIMCR_GEIEN(0); } } NOTE that the recovery code (such as the vector table referenced by VTOR, the exception handler, and whatever the handler calls) must not be in a cacheable region, because we do not want the error to be injected again during recovery. Then, read the IEBR registers again and clear them by writing 0 to them. Call an API to invalidate the cache. Regards, Daniel Re: Fault Injection to cache location using an interface provide in emcem Hello @danielmartynek ,  can you please check above query also which is related to fault injection to cache address.

FS65 - IO2 IO3 でロードダンプ機能を有効にする 私は現在、SBC FS65を使っています。リファレンス・マニュアルによると、IO2とIO3はロードダンプ耐性ではありません。IO0、IO4、IO5(外部保護付き)はロードダンプ耐性ですが、IO4とIO5は外部ICの監視に使われています。 これにより、点火やその他のウェイクアップソースなどの外部接続に使用できるのはIO0のみとなる。 IO2とIO3のロードダンプ防止を外部(IO5のように)で、外部ロードに接続できるかどうかを教えていただけますか? Re: FS65 - Enable load dump feature on IO2 IO3 こんにちは、サンディープさん。 IO2とIO3は論理レベルのローカル入力であり、ECUの外部に直接接続されることを想定していません。それらの絶対最大電圧範囲は-0.3Vから8Vのみです。 外部のウェイクアップ電源として使用する場合は、オートモーティブ用に認定された負荷ダンプ対応の入力コンディショニングまたはレベルシフト回路が別途必要となります。この回路は、IO2またはIO3の電圧が、すべての通常状態および過渡状態においてピンの定格範囲内に維持され、かつ指定された入力しきい値が満たされることを保証しなければなりません。 BR、トーマス

MCX W72 Product Lifecycle and EOL Inquiry Hello NXP Team, We are evaluating the MCX W72 / FRDM-MCXW72 for a new design and would like to request information regarding Current lifecycle status Expected longevity/availability period Any planned EOL or NRND status Existing PCN or EOL notifications Recommended successor devices, if applicable Please share any available lifecycle documentation. FRDM-Training Re: MCX W72 Product Lifecycle and EOL Inquiry Thank you for the clarification and detailed information regarding the MCX W72 product longevity and lifecycle status. Re: MCX W72 Product Lifecycle and EOL Inquiry Hello, hope you are doing well. The MCX W72 is included in NXP’s Product Longevity Program until 2040, and is the recommended product for new designs. This product follow NXP's standard Product Lifecycle: it is fully active today, and any future status change would be communicated through NXP's standard discontinuance notification process, all applicable NXP End of Life and Product Change Notification policies continue to apply. Best regards, Sofia.

FS65 - Enable load dump feature on IO2 IO3 I am currently working with the SBC FS65. According to the reference manual, IO2 and IO3 are not load dump proof. While IO0, IO4, and IO5 (with external protection) are load dump proof, IO4 and IO5 are being used for external IC monitoring. This leaves only IO0 available for external connections, such as ignition or other wake-up sources. Could you please clarify if we can make IO2 and IO3 load dump proof externally (similar to IO5) so that external loads can be connected to them? Re: FS65 - Enable load dump feature on IO2 IO3 Hello Sandeep, IO2 and IO3 are logic-level local inputs and are not designed to be connected directly outside the ECU. Their absolute maximum voltage range is only −0.3V to 8V. If they must be used for an external wake-up source, a separate automotive-qualified, load-dump capable input-conditioning or level-shifting circuit would be required. This circuit must ensure that the voltage at IO2 or IO3 remains within the pin ratings under all normal and transient conditions and that the specified input thresholds are satisfied. BR, Tomas

K82 在边界扫描中返回错误的 ID 我有一块带有两个 MK82FN256VDC15 处理器的电路板，我们将使用边界扫描进行测试。 一切运行正常，互连和其他各项测试都通过了。然而，初始基础设施测试失败，因为它返回了错误的 ID。 目前似乎没有适用于 K82 的 BSDL，但是 K80 BSDL 文件显示其内部结构与 K80 相同，因此可以使用 K80 BSDL。 我正在使用文件 K80-121BGA.BSDL。其中包含的ID代码为： 00001000001111011001000000011101 但是，我得到的结果略有不同…… 000 1 10 11 001111011001000000011101 似乎有 3 个额外的 1，一个在版本栏中，两个在零件编号栏中。 虽然我可以通过编辑BSDL文件来隐藏错误，但我需要了解为什么我得到的值与预期值不同。确保元器件是正品非常重要，所以我需要一个非常合理的解释来说明为什么需要修改 BSDL——我可能只是在掩盖假冒元器件的问题。 我们的元器件是通过CEM采购的，而CEM必须通过经批准的渠道采购。 欢迎提供任何见解。

FS65 - 启用 IO2 IO3 的负载转储功能 我目前正在使用单板计算机 FS65。根据参考手册，IO2 和 IO3 不具备负载突降防护能力。而 IO0、IO4 和 IO5（带外部保护）具备负载突降防护能力，其中 IO4 和 IO5 被用于外部集成电路监控。 这样就只剩下 IO0 可用于外部连接，例如点火或其他唤醒源。 请问我们能否使 IO2 和 IO3 具备外部负载转储保护功能（类似于 IO5），以便可以将外部负载连接到它们？ Re: FS65 - Enable load dump feature on IO2 IO3 你好，桑迪普， IO2 和 IO3 是逻辑电平本地输入，并非设计用于直接连接到 ECU 外部。它们的最大绝对电压范围仅为-0.3V至8V。 如果必须将其用作外部唤醒源，则需要一个单独的适用于汽车应用、具有负载突降能力的输入调节或电平转换电路。该电路必须确保在所有正常和瞬态条件下，IO2 或 IO3 处的电压保持在引脚额定值范围内，并且满足规定的输入阈值。 BR，托马斯

ヘルプが必要です：S32K312へのHSEファームウェアのフラッシュ こんにちは、NXP チームの皆様、 現在、 S32K312 用のHSEファームウェアの開発に取り組んでいます 。HSEファームウェアの BINファイルは 入手済みです が、S32K312にファームウェアを書き込む正しい手順が分かりません。 PEmicro でBINをフラッシュしようとしました が失敗しました。 S32 Design StudioのIVT設定 も試しました が、S32K312を選択すると 「プロセッサのサポートなし」 と表示されました 。 既に利用可能なサンプルや投稿を確認しましたが、HSEファームウェアの書き込み手順でまだ行き詰まっています。 HSE BINファームウェアをS32K312にフラッシュし、HSEを稼働させるための正確かつ最短の手順 を教えていただけます か? BINファイルをどこでどのようにフラッシュし、フラッシュ後に何をすべきか具体的にご案内してください. (ビンファイルをZipファイルで添付していますので、確認してください @nxp  よろしくお願いいたします。 ソヘル・ジャカティ Re: Help Required: HSE Firmware Flashing on S32K312 こんにちは、 @Mohmedsohel さん。 S32K3 MCUの汎用HSEデモ例に含まれているS32K344_HSE_FW_INSTALLデモは既に確認されましたか？ また、S32 Config ToolsのIVTツールを使ってみたともおっしゃっていましたね。ただし、このツールはS32K3デバイスには対応していません。S32K3の場合、IVTは.sのProject_Settings → Startup_Code → startup_cm7もとでS32DSプロジェクトで直接変更可能です BR、VaneB

MCX W72製品ライフサイクルおよびEOL問い合わせ NXPチームの皆様、こんにちは。 MCX W72 / FRDM-MCXW72の新しい設計を評価しており、以下の情報をお願いしたいと思います 現在のライフサイクルステータス 予想される寿命／利用可能期間 計画されているEOLまたはNRNDステータス 既存のPCNまたはEOL通知 推奨される後継機種（該当する場合） 利用可能なライフサイクルのドキュメントがあればぜひ共有してください。 FRDMトレーニング Re: MCX W72 Product Lifecycle and EOL Inquiry MCX W72の製品の寿命とライフサイクル状況に関する説明と詳細な情報をありがとうございます。 Re: MCX W72 Product Lifecycle and EOL Inquiry こんにちは、お元気でお過ごしでしょうか。 MCX W72はNXPの 製品寿命プログラム (2040年)に含まれており、新しいデザインの推奨製品となっています。 この製品はNXPの標準 製品ライフサイクルに従い、現在完全に有効であり、将来のステータス変更はNXPの標準的な廃止通知プロセスを通じて通知されます。適用されるすべてのNXPの廃止および製品変更通知ポリシーは引き続き適用されます。 よろしくお願いします、 ソフィア。

emcem で提供されるインターフェースを用いてキャッシュ位置へのフォールトインジェクション チームの皆さん、こんにちは。 以下のクエリに追加の質問があります(eMcem_setupinjectionChannelの引数としてどの値を選ぶべきか - NXPコミュニティ😞 キャッシュの位置に2ビットのフォルトを注入する必要がありますが、リファレンス・マニュアルに記載されている通り意味がよくわからず、私たちはNXP s32K394マイクロコントローラを使用しています。 キャッシュに障害を注入し、以下のような2ビットのエラーをキャッシュに取得するために、以下の関数を2回呼び出す必要があります。 もし私のやり方が間違っているなら、このインジェクションのやり方の例コードを教えていただけませんか?現在、私たちのプロジェクトではSAFパッケージを使っています。もしすでにこれらのフォールトインジェクションコードが存在するなら、SAFモジュールに提供されているメモリテストインターフェース(EIM)を使ってあらゆる種類のフォールトを注入するために参照すべきファイルを教えてください。 Re: Fault Injection to cache location using an interface provide in emcem こんにちは、@Rudved_3366 さん。 このキャッシュインジェクションの例は見つかりませんでしたが、簡単に説明すると次のようになります。 CM7_0 Iキャッシュタグのダブルビットエラーを注入する前に、関連するIキャッシュエラーバンクエントリ（IEBRn）が利用可能でロック解除されていることを確認してください。 手元にあるS32K344でテストしたところ、以下のデータを注入しました。 if (eMcem_SetupInjectionChannel(EMCEM_EIM_CH_3, 1, 2 ) != (Std_ReturnType)E_OK) { while (1U); } if (eMcem_InjectFault(EMCEM_EIM_CH_3) != (Std_ReturnType)E_OK) { while (1U); } 次に、ハンドラー内でEIMを無効にします。 void BusFault_Handler(void) { if(IP_EIM->EIMCR & EIM_EIMCR_GEIEN_MASK) { IP_EIM->EIMCR = EIM_EIMCR_GEIEN(0); } } リカバリコード（VTORが参照するベクターテーブル、例外ハンドラ、およびハンドラが呼び出すものなど）はキャッシュ可能な領域に含めてはならないことに注意してください。リカバリ中にエラーが再度注入されることを避けるためです。 次に、IEBRレジスタを再度読み込み、0を書き込んでクリアします。 キャッシュを無効にするには、APIを呼び出してください。 よろしくお願いいたします。 ダニエル Re: Fault Injection to cache location using an interface provide in emcem こんにちは、 @danielmartynek さん、 上記のクエリも確認していただけますか?これはキャッシュアドレスへのフォールト注入に関するものです。

MCX W72 产品生命周期及停产查询 您好，NXP团队， 我们正在评估 MCX W72 / FRDM-MCXW72 用于新设计，并希望了解相关信息。 当前生命周期状态 预期寿命/可用性 任何计划中的EOL或NRND状态 现有 PCN 或 EOL 通知 推荐的后续设备（如适用） 请提供任何可用的生命周期文档。 FRDM 培训 Re: MCX W72 Product Lifecycle and EOL Inquiry 感谢您对MCX W72产品寿命和生命周期状态的澄清和详细信息。 Re: MCX W72 Product Lifecycle and EOL Inquiry 你好，希望你一切都好。 MCX W72 已纳入 NXP 的产品寿命计划，有效期至 2040 年，是新设计的推荐产品。 本产品遵循 NXP 标准产品生命周期：目前处于完全活跃状态，任何未来的状态变更都将通过 NXP 标准停产通知流程进行沟通，所有适用的 NXP 产品生命周期结束和产品变更通知政策将继续适用。 此致， 索菲亚。

K82 returning incorrect ID in boundary scan I have a board with two MK82FN256VDC15 processors that we will be using boundary scan to test. It's all working fine, interconnect and various other tests are all good.  However the initial infrastructure test fails as it returns the wrong ID. There does not appear to be BSDL available for K82, however the K80 BSDL files say that the internal structure is identical to the K80 and so the K80 BSDL can be used. I am using the file K80-121BGA.BSDL.  The ID code within is: 00001000001111011001000000011101 However - I am getting a slightly different result.... 00011011001111011001000000011101 There seem to be 3 bonus 1's, one in the version block and two in the part number block. Whilst I could fix this by editing the BSDL to hide the failure, I need to understand why I'm getting a different value to expected.  It is important that we know components are genuine, so I would need a very good explanation as to why the BSDL needed modification - I may just be masking a counterfeit component issue. Our components are purchased through a CEM who is required to buy through approved channels. Any insights appreciated.

使用 emcem 中提供的接口向缓存位置注入故障 大家好， 我还有一个关于以下查询的问题（ eMcem_setupinjectionChannel 的参数应该选择哪些值 - NXP 社区）。😞 我需要在缓存位置注入一个 2 位故障，但我不太确定参考手册中提到的具体含义，我们使用的是 NXP s32K394 微控制器： 我需要调用以下函数两次，以便将错误注入缓存，并获取缓存中如下所示的 2 位错误： 如果我的做法有误，能否请您分享一下如何进行这种注入的示例代码？目前我们的项目中使用的是 SAF 代码包，软件包，如果已经有针对这些的故障注入代码，请告诉我需要参考哪个文件才能使用 SAF 模块中提供的内存测试接口 (EIM) 注入各种类型的故障。 Re: Fault Injection to cache location using an interface provide in emcem 你好@Rudved_3366 ， 我还没有找到这种缓存注入的例子，但简而言之就是： 在注入 CM7_0 指令缓存 标签双位错误之前，请验证相关的 指令缓存 错误库条目 (IEBRn) 是否可用且已解锁。 我在一台S32K344上进行了测试，这台机器就在我工作台上。我注入了： if (eMcem_SetupInjectionChannel(EMCEM_EIM_CH_3, 1, 2 ) != (Std_ReturnType)E_OK) { while (1U); } if (eMcem_InjectFault(EMCEM_EIM_CH_3) != (Std_ReturnType)E_OK) { while (1U); } 然后，在处理程序中禁用 EIM。 void BusFault_Handler(void) { if(IP_EIM->EIMCR & EIM_EIMCR_GEIEN_MASK) { IP_EIM->EIMCR = EIM_EIMCR_GEIEN(0); } } 请注意，恢复代码（例如 VTOR 引用的向量表、异常处理程序以及处理程序调用的任何内容）不能位于可缓存区域中，因为我们不希望在恢复期间再次注入错误。 然后，再次读取 IEBR 寄存器，并通过向其写入 0 来清除它们。 调用 API 使缓存失效。 此致， 丹尼尔 Re: Fault Injection to cache location using an interface provide in emcem 你好@danielmartynek ， 请您也查看一下上面关于缓存地址故障注入的查询。

Help Required: HSE Firmware Flashing on S32K312 Hi NXP Team, I am currently working on HSE firmware on the S32K312. I have the HSE firmware BIN file, but I am unable to understand the correct procedure to flash it onto the S32K312. I tried flashing the BIN using PEmicro, but it failed. I also tried using the IVT configuration in S32 Design Studio, but when I selected S32K312, it showed “No processor supported.” I have already gone through the available examples and posts, but I am still stuck at the HSE firmware flashing step. Could you please provide me with the correct and shortest procedure to flash the HSE BIN firmware on S32K312 and make HSE operational? Please guide me specifically on how and where the BIN file needs to be flashed and what needs to be done after flashing. (I have attached the Bin File in Zip File )so check it @nxp  Thanks & Regards, Sohel Jakati Re: Help Required: HSE Firmware Flashing on S32K312 Hi @Mohmedsohel  Have you already checked the S32K344_HSE_FW_INSTALL demo provided in the S32K3 MCUs for General Purpose HSE Demo Examples? Also, you mentioned that you tried using the IVT Tool from S32 Config Tools. However, this tool does not support S32K3 devices. For S32K3, the IVT can be modified directly in the S32DS project under Project_Settings → Startup_Code → startup_cm7.s BR, VaneB

K82が境界スキャンで誤ったIDを返しました 私は2つのMK82FN256VDC15プロセッサを搭載したボードを持っており、バウンダリースキャンを使ってテストする予定です。 全て正常に動作しています。相互接続テストやその他の各種テストも全て良好です。しかし、初期のインフラストラクチャテストでは間違ったIDが返され、失敗しました。 K82用のBSDLは存在しないようですが、K80のBSDLファイルには内部構造がK80と同一であると記載されており、K80 BSDLも使用可能です。 私はK80-121BGA.BSDLというファイルを使用しています。内部のIDコードは次のとおりです。 00001000001111011001000000011101 しかし、私の場合は少し異なる結果が出ています…。 000 1 10 11 001111011001000000011101 バージョン欄に1つ、部品番号欄に2つ、合計3つのボーナス「1」があるようです。 BSDLを編集して失敗を隠すことで解決することもできますが、なぜ予想と異なる値が表示されるのか理解する必要があります。部品が本物であることを知ることは重要なので、なぜBSDLに修正が必要だったのか、非常に明確な説明が必要です。偽造部品の問題を隠しているだけかもしれません。 当社の部品はCEMを通じて購入されており、CEMは承認されたチャネルを通じて購入する必要があります。 どんなご意見でも歓迎いたします。

RW610: VIT v4.11.0 returns INVALID_DEVICE despite successful model initialization — hardware ID 0x00 Hello Team, I am integrating Voice Intelligent Technology (VIT) into a custom board using an RW610 MCU. The model loads and all initialization APIs succeed, but VIT_Process() returns VIT_INVALID_DEVICE (11) Could you confirm whether the VIT library below supports my RW610 silicon, or whether a different library release is required? Item Configuration MCU NXP RW610 on a custom board Audio codec MAX98089 IDE MCUXpresso IDE - 24.12.0 RTOS FreeRTOS Debug output Semihosted printf VIT package release/24.12.00/CortexM33-RW61X Library libVIT_CM33_RW61X_v04_11_00.a Library version reported at runtime 0x00040b00 — v4.11.0 VIT API version 0x00030400 Model version reported at runtime 0x00040b00 — v4.11.0 Configured device VIT_RW610, numeric value 9 Operating mode VIT_WAKEWORD_ENABLE Library source: https://github.com/nxp-mcuxpresso/VIT/tree/release/24.12.00/CortexM33-RW61X  Model generation: I generated a replacement English model using NXP’s online model-generation tool with these settings: Device selected in the portal: RW612  Portal version: 24.12.00 I selected RW612 because I did not see an RW610 option in the portal. The generated VIT_Model_en.h declares v4.11.0. Only wake-word recognition is currently enabled in the application. The VIT initialization sequence is: 1. VIT_GetLibInfo() 2. VIT_SetModel() 3. VIT_GetModelInfo() 4. VIT_GetMemoryTable() 5. Assign aligned, statically allocated memory regions. 6. VIT_GetInstanceHandle() 7. VIT_ResetInstance() 8. VIT_SetControlParameters() 9. VIT_GetStatusParameters() 10. Start microphone capture and call VIT_Process(). All listed initialization calls succeed. Processing then returns error 11. Runtime Log: [VIT INFO] button request: ENTER EXCLUSIVE VIT / START [VIT INFO] exclusive mode: application tasks paused, speaker stopped; initializing VIT [VIT INFO] init: English model, wake-word-only; heap=37904 [VIT INFO] GetLibInfo OK [VIT INFO] library release=0x00040b00 API=0x00030400 features=0xe channels=1 requestedDevice=9 [VIT INFO] SetModel OK [VIT INFO] GetModelInfo OK [VIT INFO] VIT: available wake word: HEY NURSE [VIT INFO] GetMemoryTable OK [VIT INFO] memory region 0 needs=135934 reserved=144460 bytes [VIT INFO] memory region 1 needs=135894 reserved=157324 bytes [VIT INFO] memory region 2 needs=8854 reserved=17644 bytes [VIT INFO] memory region 3 needs=47079 reserved=49934 bytes [VIT INFO] GetInstanceHandle OK [VIT INFO] ResetInstance OK [VIT INFO] SetControlParameters OK [VIT INFO] GetStatusParameters OK [VIT INFO] instance: library=0x00040b00 model=0x00040b00 selectedDevice=9 features=0x4 [VIT INFO] ResetInstance OK [VIT INFO] VIT: listening, PCM48k stereo channel 0 -> PCM16k mono [VIT ERROR] Process failed: code=11 (INVALID_DEVICE); RED LED = VIT fault [VIT ERROR] RW61x identity: addr=0x45001114 raw=0x00007102 masked=0x00007100 libraryExpected=0x00007000 [VIT INFO] VIT: stopped Device-check observation Inspection of the linked library’s device-validation code indicates that, for device ID 9, it reads address 0x45001114, clears the lowest eight bits, and compares the result with 0x00007000. Does libVIT_CM33_RW61X_v04_11_00.a support RW610 devices that return 0x00007102 at address 0x45001114? Is the comparison against 0x00007000 a known compatibility limitation or issue in this release? Which VIT library release and matching API headers should I use for this RW610? Is a model generated with the portal’s RW612 selection supported on RW610, or is a separate RW610 model-generation option required? Please advise on the supported library/model combination and any further diagnostics needed. Thank you.

RW610：VIT v4.11.0 尽管模型初始化成功，但返回 INVALID_DEVICE 错误 — 硬件 ID 0x00 各位同事好， 我正在使用 RW610 MCU 将语音智能技术 (VIT) 内置到定制板中。模型加载成功，所有初始化 API 也都成功，但 VIT_Process() 返回 VIT_INVALID_DEVICE (11) 错误。 请确认以下 VIT 库是否支持我的 RW610 芯片，或者是否需要其他版本的库？ 项目配置 MCU NXP RW610 芯片安装在定制板上 音频编解码器 MAX98089 IDE MCUXpresso IDE - 24.12.0 实时操作系统 FreeRTOS 调试输出 半托管printf VIT 代码包，软件包 版本/24.12.00/CortexM33-RW61X 库 libVIT_CM33_RW61X_v04_11_00.a 运行时报告的库版本 0x00040b00 — v4.11.0 VIT API 版本 0x00030400 运行时报告的模型版本 0x00040b00 — v4.11.0 已配置设备 VIT_RW610 ，数值为 9 工作模式 VIT_WAKEWORD_ENABLE 库来源： https://github.com/nxp-mcuxpresso/VIT/tree/release/24.12.00/CortexM33-RW61X 模型生成： 我使用 NXP 的在线模型生成工具，并按照以下设置生成了一个替换的英文模型： 门户中选择的设备：RW612 门户网站版本：24.12.00 我选择 RW612 是因为我在门户网站上没有看到 RW610 选项。 生成的 VIT_Model_en.h 文件声明版本为 v4.11.0。目前应用程序中仅启用了唤醒词识别功能。 VIT初始化顺序如下： 1. VIT_GetLibInfo() 2. VIT_SetModel() 3. VIT_GetModelInfo() 4. VIT_GetMemoryTable() 5. 分配对齐的、静态分配的内存区域。 6. VIT_GetInstanceHandle() 7. VIT_ResetInstance() 8. VIT_SetControlParameters() 9. VIT_GetStatusParameters() 10. 开始麦克风捕获并调用 VIT_Process()。 所有列出的初始化调用均成功。处理过程随后返回错误 11。 运行时日志： 【维生素信息】按钮请求：输入专属维生素/开始 [VIT 信息] 独占模式：应用程序任务已暂停，扬声器已停止；正在初始化 VIT [VIT 信息] 初始化：英文模型，仅唤醒词；堆内存=37904 [VIT 信息] 获取库信息成功 [VIT 信息] 库版本=0x00040b00 API=0x00030400 功能=0xe 通道=1 请求设备=9 [VIT 信息] 设置模型成功 [VIT 信息] 获取模型信息成功 [VIT 信息] VIT：可用唤醒词：嘿，护士 [VIT 信息] 获取内存表成功 [VIT 信息] 内存区域 0 需要 135934 字节，已保留 144460 字节 [VIT 信息] 内存区域 1 需要 135894 字节，已保留 157324 字节 [VIT 信息] 内存区域 2 需要 8854 字节，已保留 17644 字节 [VIT 信息] 内存区域 3 需要 47079 字节，已保留 49934 字节 [VIT 信息] 获取实例句柄成功 [VIT 信息] 重置实例成功 [VIT 信息] 设置控制参数成功 [VIT 信息] 获取状态参数成功 [VIT 信息] 实例：库=0x00040b00 模型=0x00040b00 选定设备=9 功能=0x4 [VIT 信息] 重置实例成功 [VIT 信息] VIT：正在监听，PCM48kHz 立体声通道 0 -> PCM16kHz 单声道 [VIT 错误] 进程失败：代码=11（无效设备）；红色 LED 指示灯 = VIT 故障 [VIT 错误] RW61x 标识：地址=0x45001114 原始地址=0x00007102 掩码地址=0x00007100 库预期地址=0x00007000 [VIT 信息] VIT：已停止 设备检查观察 检查链接库的设备验证代码表明，对于设备 ID 9，它读取地址 0x45001114，清除最低八位，并将结果与 0x00007000 进行比较。 libVIT_CM33_RW61X_v04_11_00.a 是否支持在地址 0x45001114 返回 0x00007102 的 RW610 设备？ 与 0x00007000 进行比较是否是此版本中已知的兼容性限制或问题？ 我应该为这台 RW610 使用哪个 VIT 库版本和匹配的 API 头文件？ 使用门户网站的 RW612 选择生成的模型是否支持 RW610，还是需要单独的 RW610 模型生成选项？ 请告知支持的库/模型组合以及是否需要进一步诊断。 谢谢。

RW610:VIT v4.11.0がモデル初期化に成功したにもかかわらずINVALID_DEVICE戻る — ハードウェアID 0x00 こんにちは、チームのみなさん。 私はRW610 MCUを使ってカスタムボードに音声Intelligent Technology(VIT)を統合しています。モデルはロードされ、すべての初期化APIは成功しますが、VIT_Process()はVIT_INVALID_DEVICE(11)を返します。 下記のVITライブラリが私のRW610シリコンをサポートしているか、それとも別のライブラリリリースが必要なのか確認してもらえますか? アイテム構成 MCU カスタム基板上のNXP RW610 オーディオ・コーデック MAX98089 IDE MCUXpresso IDE - 24.12.0 RTOS FreeRTOS デバッグ出力 セミホスト型printf VITパッケージ リリース/24.12.00/CortexM33-RW61X 図書館 libVIT_CM33_RW61X_v04_11_00.a 実行時に報告されたライブラリバージョン 0x00040b00 — v4.11.0 VIT APIバージョン 0x00030400 実行時に報告されるモデルバージョン 0x00040b00 — v4.11.0 設定済みデバイス VIT_RW610 、数値9 動作モード VIT_WAKEWORD_ENABLE 図書館の情報源: https://github.com/nxp-mcuxpresso/VIT/tree/release/24.12.00/CortexM33-RW61X モデル生成: NXPのオンラインモデル生成ツールを使って、以下の設定で代替英語モデルを生成しました。 ポータルで選択されたデバイス：RW612 ポータルバージョン：24.12.00 ポータルにRW610のオプションが見当たらなかったので、RW612を選択しました。 生成されたVIT_Model_en.hはv4.11.0を宣言しています。現在、アプリケーションではウェイクワード認識のみが有効になっています。 VITの初期化シーケンスは次のとおりです。 1. VIT_GetLibInfo() 2. VIT_SetModel() 3. VIT_GetModelInfo() 4. VIT_GetMemoryTable() 5. 整列された静的に割り当てられたメモリ領域を割り当てる。 6. VIT_GetInstanceHandle() 7. VIT_ResetInstance() 8. VIT_SetControlParameters() 9. VIT_GetStatusParameters() 10. マイクのキャプチャを開始し、VIT_Process() を呼び出します。 リストに記載されたすべての初期化呼び出しは成功します。プロセッシングはエラー11を返します。 ランタイムログ: [VIT INFO] ボタンリクエスト: ENTER EXCLUSIVE VIT / START [VIT INFO] 排他モード:アプリケーションタスクの一時停止、スピーカー停止;VITの初期化 [VIT INFO] init: 英語モデル、ウェイクワードのみ;heap=37904 [VIT INFO] GetLibInfo OK [VIT INFO] ライブラリリリース=0x00040b00 API=0x00030400 features=0xe channels=1 requestedDevice=9 [VIT INFO] SetModel OK [VIT INFO] GetModelInfo OK [VIT INFO] VIT: 利用可能なウェイクワード: HEY NURSE [VIT INFO] GetMemoryTable OK [VIT INFO] メモリ領域 0 needs=135934 reserved=144460 bytes [VIT INFO] メモリ領域 1 needs=135894 reserved=157324 bytes [VIT INFO] メモリ領域 2 needs=8854 reserved=17644 bytes [VIT INFO] メモリ領域 3 needs=47079 reserved=49934 bytes [VIT INFO] GetInstanceHandle OK [VIT INFO] ResetInstance OK [VIT INFO] SetControlParameters OK [VIT INFO] GetStatusParameters OK [VIT INFO] インスタンス: library=0x00040b00 model=0x00040b00 selectedDevice=9 features=0x4 [VIT INFO] ResetInstance OK [VIT INFO] VIT: リスニング、PCM48kステレオチャネル 0 -> PCM16kモノラル [VIT ERROR] プロセス失敗: code=11 (INVALID_DEVICE); RED LED = VIT fault [VIT ERROR] RW61x 識別子: addr=0x45001114 raw=0x00007102 masked=0x00007100 libraryExpected=0x00007000 [VIT INFO] VIT: 停止 機器点検の観察 リンクされたライブラリのデバイス検証コードを調べたところ、デバイスID 9の場合、アドレス0x45001114を読み取り、下位8ビットをクリアし、その結果を0x00007000と比較していることがわかりました。 libVIT_CM33_RW61X_v04_11_00.aはアドレス0x45001114で0x00007102を返すRW610デバイスをサポートしていますか? 0x00007000との比較は、このリリースにおける既知の互換性の制限または問題ですか？ このRW610には、どのVITライブラリのリリースとそれに対応するAPIヘッダーを使用すればよいですか？ ポータルのRW612選択で生成されたモデルはRW610でサポートされていますか?それとも別のRW610モデル生成オプションが必要ですか? サポートされているライブラリ/モデルの組み合わせや、さらに必要な診断についてご助言ください。 ありがとう。

LS1046A Linux 6.6.52 NVMeプローブの失敗で無効な管理者CQEが発生します こんにちは、NXPチームの皆様、 弊社では、LS1046Aベースのボードにおいて、NVMeプローブの断続的な障害が発生していることを確認しております。 SoC: LS1046A Kernel: Linux 6.6.52 U-Boot: 2022.04 NVMe: ATP I-Temp. NVMe M.2 2242 SSD NVMe FW: W1207A1 Connection: LS1046A PCIe3, pcie@3600000 Link: PCIe Gen3 x2 Linux BDF: 0002:01:00.0 U-BootはNVMeを一貫して検出し、そのファイルシステムを一覧表示し、カーネル、initramfs、FDTを読み込みます。LinuxはNVMeプローブ中に時折失敗します: [ 5.419777] could not locate request for tag 0x0 [ 5.424399] nvme nvme0: invalid id 0 completed on queue 0 [ 66.527417] nvme nvme0: I/O 17 QID 0 timeout, disable controller [ 66.529448] nvme nvme0: Device not ready; aborting shutdown, CSTS=0x1 [ 66.542612] nvme: probe of 0002:01:00.0 failed with error -4 タイムアウトしたリクエストのタグは一定ではありません。I/O 17 QID 0 と I/O 21 QID 0 の両方を確認しましたが、無効な完了は常に管理キュー 0 の CID/タグ 0 を報告します。 ASPMとAPSTは無効になっています。 nvme_core.default_ps_max_latency_us=0 nvme_core.apst=0 pcie_aspm=off 何かアドバイスをいただければ幸いです。

SPC563M64 JATG 通过 USB Multilink 进行无码传输 <meta http-equiv="Content-Type" content="text/html; charset=utf-8" /> 大家好。我在通过 USB Multilink 连接 SPC563M64 时遇到了一些问题。我的设备处于审查模式，配置为 0xAAAA_AAAA，序列号密码为 0x1122334455667788。我尝试用这个密码解锁设备，但无法连接。   在正常启动模式下，我可以通过 CAN（通过我的软件）读取完整的 Shadow 块的内容，所以我确定串口密码和配置字是正确的。但我无法解除设备的审查。   在串行启动模式下 {[1],[0]}，我可以使用密码 0xFEEDFACECAFEBEEF 进入 CAN 启动模式，并且我可以通过禁用闪存访问（正如应该的那样）来访问 JTAG/NEXUS 而无需审查。电源、JTAG连接等都已正确连接。   电源稳定，RESET 电路通过 4K7 电阻上拉。我尝试使用相同的传感器配置连接 MPC5674，并且 JTAG 取消传感器通过，没有任何问题。   猜猜看？ 概述 Re: SPC563M64 JATG uncensoring through USB Multilink 嗨@lukaszadrapa ， 你知道那种感觉吗？当你遇到一个难题时，却发现有人在 10 年前也遇到过完全相同的问题！ 🙂 我目前正在研究博世 MSE6.0 ECU 中的 SPC563M64，以及 C90LC Shadow Flash 和 JTAG/Nexus 审查。 你最终把所有问题都解决了吗？我特别想了解你们是如何管理审查配置的，以及你们是否还有任何代码示例、文档或工具可以分享。 我还在考虑使用 TNM5000 进行 CFLASH 和 CSHADOW 访问。 即使过了这么多年，任何建议我都会非常感激！ 谢谢！ Re: SPC563M64 JATG uncensoring through USB Multilink <meta http-equiv="Content-Type" content="text/html; charset=utf-8" /> 您好， 我猜你用的是 CodeWarrior 2.10，对吧？我刚刚发现，CW2.10 中包含的 ICDPPCNEXUS 调试器无法解除设备的审查，因为驱动程序中存在一个错误。 作为替代方案，您需要使用 CodeWarrior 10.6，或者您可以从www.pemicro.com下载 PKGPPCNEXUS。 给您带来不便，敬请谅解。 此致， Lukas Re: SPC563M64 JATG uncensoring through USB Multilink <meta http-equiv="Content-Type" content="text/html; charset=utf-8" /> 是的，我知道C90CL设备上的这个功能，我尝试使用密码0x5566778811223344，但没有成功。 更多信息：我可以通过MCU内部软件重写阴影区域，当我设置配置0x55AA_55AA时，一切正常——在无审查模式下可以完全访问Nexus。 我记得，在旧的 55XX 设备上进行 JTAG 取消审查是不可能的，但这个芯片有迪士尼禁止机制和 JTAG 审查 CTRL 寄存器。 Re: SPC563M64 JATG uncensoring through USB Multilink <meta http-equiv="Content-Type" content="text/html; charset=utf-8" /> 您好， 你试过更换密码吗？在 C90LC 闪存上，需要将密码交换为 0xCAFEBEEFFEEDFACE（而不是 0xFEEDFACECAFEBEEF）。您能试试吗？请告知结果。 此致， Lukas