S32K344 ADC

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WeiCh
Contributor III

S32K344芯片,时钟配置是《 Table 151. Option A - High Performance mode (CORE_CLK @ 160 MHz)》,ADC的参考电压是5V,配置如下:

WeiCh_0-1749090717085.pngWeiCh_1-1749090732205.png

当采样点在4V以上时,误差有40mV;

当采样点在1V时,误差有10mV;

有什么方法能增加采样时间或者提高精度吗?

 

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Senlent
NXP TechSupport
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Hi@WeiCh

软件上能改的就这么多,采样时间,自检都做了,如果误差还是大,可以考虑下硬件方面,ADC参考电压是否有波动,采样电路的设计等。还有你如何测量误差的,你怎么得出40mv的误差的,这个误差是否有可能是测量引起的呢。

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Senlent
NXP TechSupport
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Hi@WeiCh

关于采样时间,ADC模块时钟分频还可以设置,其它的和采样时间相关的参数我看你已经设置到最大了,没有其它可设置的地方了。

2025-06-05_16-28-58.png

 
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WeiCh
Contributor III

上面的配置是我按照手册配置的,DIV都改成4的结果和前者差别很小,结果平均有1%的误差,是不是和采样时间配置关系不大?使能和不使能High Speed的差别也很小。

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Senlent
NXP TechSupport
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Hi@WeiCh

软件上能改的就这么多,采样时间,自检都做了,如果误差还是大,可以考虑下硬件方面,ADC参考电压是否有波动,采样电路的设计等。还有你如何测量误差的,你怎么得出40mv的误差的,这个误差是否有可能是测量引起的呢。

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