こんにちはチーム
アプリケーションで SAF と SPD が使用されていない場合、これらの種類の障害に対する反応をテストするために FCCU に障害を注入することは可能ですか?
リファレンス マニュアルで、Non-critical Fault Fake (NCFF) レジスタを見つけました。このレジスタに値を書き込むと障害が注入されますか?
ありがとう。＆よろしく。
西アンチ
こんにちは@linxianti さん
CMU は FCCU にコネクテッドされておらず、いくつかの VLD ソースのみがリンクされています。
参考までに、RTD MCAL MCU ドライバを使用する簡単な CMU の例を次に示します。
LVD 機能をテストするには、電源電圧を操作CAN。
ちなみに、SPD/SAF も NCFF インジェクションを使用します。
よろしくお願いいたします。
ダニエル
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こんにちは、ダニエル
ご返信ありがとうございます。
EIM に関しては、EIM はメモリに関連する障害を注入するためにのみ使用されますか。リファレンスマニュアルにこの説明を見つけたからです。これは他のフォールトインジェクションには適用されません。例えばクロック障害か電圧障害ですよね？
もしそうなら、NCFF を書く以外にどのようにしてこの種の障害を注入 CAN ますか。NCFF を記述すると、障害の処理を検証することしかCANず、障害の検出はカバーされないためです。
ありがとう。& よろしく。
西アンチ
こんにちは@linxianti さん
SAF と SPD は、EIM (エラー インジェクション モジュール) を介してペリフェラル ハードウェアに障害を注入します。
対照的に、NCFF レジスタはペリフェラルに影響を与えずに、FCCU に直接障害を注入します。
FCCU 障害処理をペリフェラル障害源から独立してテストすることが目的の場合は、NCFF の使用が適切です。
よろしくお願いいたします。
ダニエル