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Layered Intelligence for Machine Monitoring

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Layered Intelligence for Machine Monitoring

Layered Intelligence for Machine Monitoring

The attached is a copy of a presentation given 24 June 2014 at the Sensors Expo Conference in Rosemont IL.

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Sensors Expo Presentation 20140620.pptx
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評価なし
バージョン履歴
最終更新日:
‎06-24-2014 06:54 PM
更新者:
NXP Employee