MMA51xx および MMA52xx 加速度センサはシングル イベント アップセットの影響を受けやすいですか?もしそうなら、搭載のエラー検出機能やエラー訂正機能はありますか?
こんにちは、デイブ。
遅れて申し訳ありません。
残念ながら、MMA5xxx は 250nm プロセスを使用して設計されており、SEU ははるかに小さいジオメトリ (< ~ 180 nm) のプロセスにのみ適用されるため、SEU は適用されません。
さらに、MMA5xxx には、ヒューズ ミラー レジスタで継続的に実行される 3 ビット CRC があります。CRC はすべての単一ビット エラーを検出することが保証されています。CRC のハミング距離は 3 なので、最大 3 ビットのバースト (連続) エラーも検出します。
この情報が皆様のお役に立てれば幸いです。
ご質問を誤解していた場合は、遠慮なくお知らせください。喜んでお手伝いさせていただきます。
素晴らしい一日をお過ごしください。
デビッド・ディアス。
注: この投稿で質問が解決した場合は、「正解」ボタンをクリックしてください。ありがとう!
シングル イベント アップセット (SEU) は、電離粒子によって引き起こされるマイクロ電子デバイスの放射線誘発エラーであり、一般的にビット フリップとも呼ばれます。MMA 加速度センサの場合、単一の「ビットフリップ」がセンサの動作に大きな影響を与える可能性があるかどうかが懸念されます。たとえば、センサー内部のビット反転により、+/- 480 g デバイスが +/- 120 g デバイスであると認識し、120 g の加速度がフルスケールとして報告され、+/- 480 g デバイスであると認識しているデバイスからデータを受信しているプロセッサによって、誤って 480 g の加速度として解釈される可能性があります。一部のデバイスタイプはSEUの影響を受けにくい(例:アンチヒューズ FPGA。MMA51/52 デバイスの SEU に対する耐性を説明する情報が見つかりません。
よろしくお願いいたします。
Dave
こんにちは、デイブ。
単一イベントの混乱とは、具体的に何を意味しますか?
これについてもう少し詳しく説明していただけますか?衝撃を受けた後にセンサに何が起こるかのようなものでしょうか?
素晴らしい一日をお過ごしください。
デビッド