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S32M276XX LVR(低电压复位)功能测试

您好,NXP技术员,


我想对 S32M276 IC 的 VDD_HV_A 引脚上的 LVR(低电压复位)功能进行硬件测试。S32M276 是一款 SoC IC,所有电源均由其内部产生,那么我如何在 PCBA 层面验证此功能呢?请您提出任何建议。

Ted_Qiao_0-1787054923749.pngTed_Qiao_0-1787054923749.pngTed_Qiao_0-1787054923749.png


Re: S32M276XX LVR(low voltage reset) function test

@Ted_Qiao

LVR 默认启用,并生成 POR。芯片上电复位事件发生后,您可以通过读取低电压模式下的PORFLVRx标志来确定是哪个电源域导致了该事件。
状态和控制(LVSC)寄存器。

你可以从外部限制 IC 的供电电压,尝试产生 低压检测 事件或 LVR POR,并检查 LVRAF 标志。

此致,
朱利安

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