NXPの技術者さん、こんにちは。
S32M276 ICのVDD_HV_AピンにおけるLVR（低電圧リセット）機能について、ハードウェアテストを実施したいと考えています。S32M276はSoC ICで、すべての電力は内部で発生しています。では、この機能をPCBAレベルでどうやって検証すればよいのでしょうか?何かご提案がありましたら、お気軽にお尋ねください。
こんにちは、 @Ted_Qiao さん。
LVRはデフォルトで有効になっており、PORを生成します。チップPORイベントの後、Low Voltageの PORF と LVRx フラグを読み取ることで、どの電力領域が原因かを特定できます
ステータス&コントロール(LVSC)レジスタ。
ICの電圧供給を外部から制限してLVDイベント(LVR POR)を発生させ、LVRAFフラグを確認することができます。
よろしくお願いします、
ジュリアン