V1出力は、以下の波形のように異常です。
現在直面している問題をどうすれば徹底的に解決できるでしょうか?
さらに詳しい情報が必要な場合は、お知らせください。
この図は、上記で説明したソフトスタート条件を示しています。すべての条件が満たされると、V1は電源投入を開始し、150～500µsかかるM5タイミングシーケンスに入ります。この時間内に起動に失敗した場合、FS状態に入り、100ms後に再起動します。これが大まかなプロセスです。
ソフトスタートのプロセスについて説明していただけますか？
このセクション「 19.4.6 V1UVLP モニタリングの章」には、「LPON からのウェイクアップ後、および TSOFT_START_V1 後のコールドスタート中に、デバイスの電源投入時にも V1 は V1UVLP について監視されます。ソフトスタートの終了時に V1 がまだ V1UVLP しきい値を下回っている場合、デバイスはフェイルセーフ状態になります。」と記載されています。V1の起動波形には具体的に何が必要ですか？
ありがとう
この問題は、OCのソフトブートプロセス中にV1が起動に失敗し、その後復旧したことが原因である可能性が最も高い。
解決策としては、V1ポートに外部チューブを追加し、FS23 OTP使用時にこの機能を有効にするか、弊社のHVBUCKバージョンを選択することです。
あるいは、出力コンデンサをいくつか取り外すことで、ソフトスタートをよりスムーズにすることもできます。安定性を高めるためには、これら2つの方法のいずれかを選択することをお勧めします。
1: 回路図のPIN37が使用されていない場合は、接地してください。
2：V1の負荷電流は大きくなく、最大でも100mAです。設置場所の負荷をご確認ください。
3：V1_INのデカップリングコンデンサは1μFです。
4：上記の場合、最初の起動が失敗し、2回目の起動が行われた場合、レジスタM_GEN_FLAGを読み取って何が起こったかを確認できますか？
まずはこれらの点を変えてみて、結果を見てみましょう。
新しい波形を測定したところ、入力電圧が12Vの場合、V1が初回起動時に失敗することがあることがわかりました。
これは最初の起動失敗時の波形です。 
これは、2回目の起動が成功した際の波形です。 
これはソフトブート後のV1における低電圧検出と関係があるのでしょうか？ 通常のソフトブート時間は300µs、最大は500µsです。500µsを超えると起動しないように見えるのに、500µs未満だと正常に動作するように見えるのはなぜでしょうか？
ソフトブートの手順について説明していただけますか？マニュアルにはあまり詳しい説明がありません。
入力電圧が8Vの場合、上記の丸で囲んだ波形の時間軸を短くできますか？V1がどれくらいの時間動作しているかを確認したいのです。
12Vの入力電圧で同じ波形をテストすることもできますか？
ここに高温・低温試験室がないので、あまり多くの試験はできません。あなたの結果を頼りにするしかありません。
下記に丸で囲まれた部分が見えます。
現在のテスト結果では、VBOS>3.06Vとなっています。TO V1 UPing は 13.2ms 使用しました。ご確認ください。
テスト結果が混乱します。Vbat< Vsup_uvが0のままでいるべきなのに、なぜV1は0から続くのでしょうか?テストの波形の黄色はVBAT、緑はV1、合っていますか?
これはテストです。
ちなみに、マニュアルを確認したところ、19.4.6 V1UVLP モニタリングの章に「LPON からのウェイクアップ後にデバイスの電源がオンになったとき、および TSOFT_START_V1 後のコールドスタート中に、V1 も V1UVLP 用に監視されます」と記載されていました。ソフトスタートの終了時にV1がV1UVLPしきい値を下回っている場合、デバイスはフェイルセーフ状態に移行します。
これは、TSOFT_START_V1(type,300us)の後、V1がV1UVLPのしきい値を超える必要があるという意味ですか？
さらに、このV1異常は低温（-30℃）および低Vsup電源（8V）の条件下で発生しました。この状況下でVsupを12Vに上げたところ、V1出力は正常になりました。
例えば、V1のMCUを切断して再度テストしてみてください。例えば、50mAの負荷を追加してみてはどうでしょうか。