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E-Flash 写入期间 LIN 通信故障

在向内部 EEPROM 写入 100 字节数据时检测到 LIN 通信故障。请提出一种合适的LIN通信恢复方法。

Re: LIN communication failure during E-Flash write

请问您使用的是哪一款S32K设备？

一种可能的解释是，模拟 EEPROM 操作需要相对较长的时间，由此产生的延迟可能会阻止软件在所需的时序约束内处理 LIN 中断。另一种可能是读写冲突。在闪存擦除/编程操作期间，位于当前正在编程或擦除的闪存块中的代码或数据无法被获取/读取。如果应用程序需要此类代码或数据，则可能导致应用程序崩溃，进而导致观察到的 LIN 通信故障。

您能否也详细说明一下，当问题发生时具体会是什么样子？应用程序是完全崩溃，还是继续运行但 LIN 通信停止工作？

此致，

Lukas

Re: LIN communication failure during E-Flash write

S32K144：应用程序运行正常。但是，LIN 通信失败，并且故障发生后，LIN 通信无法恢复。

EEPROM 编程/存储时间约为 175 毫秒。