PN7642のデータシートを確認したところ、このチップにはAPIを介してデジタルおよびアナログのデバッグ信号を観測するための設定機能があることが分かりました。そこで、評価ボードを使って設定を試みたところ、SDK（PN76_Testbus.h）に該当するAPIが見つかりました。しかし、その.hファイルの説明だけでは、これらのAPIの使い方が分かりません。例えば、観測したい信号を確認するには、どのようなパラメータを渡せば良いのでしょうか？このシナリオに関する関連資料はありますか？
こんにちは。ご指摘いただいたファイルの中に画像（CTS_TESTBUS_Signals.png）を見つけましたが、この画像のデジタル信号がPN7642のデータシートのデジタル信号と完全に一致していないことに気づきました。完全な対応表を入手するにはどうすればよいでしょうか？
こんにちは。このドキュメントは以前にも読んだことがありますが、明確な説明がありません。例えば、ドキュメントを読み返しても、ADC IQ信号やその他のデジタル/アナログ信号を出力するために、これらのAPIにどのようなパラメータを渡せばよいのかがまだよく分かりません。
SDKの「doc」フォルダの下に「PN76-FW-apiguide」があります。
残念ながら、これについて詳しく説明した公開ドキュメントは存在しません。
NXPはUM11566で追加情報を提供しており、これにはTestBusの選択レジスタと値レジスタに関するレジスタ情報が含まれています。この文書はNDAの下で行われているため、アクセスは制限されています。
この情報が必要な場合は、NXPとの間でNDA（秘密保持契約）の手続きを完了してください。NDA承認後、文書はNXPウェブサイトの PN7642製品ページの 「ドキュメント」セクションの「Secure」セクションからダウンロードできます。