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是

RT1176 - 通过 JTAG 编程 BT_FUSE_SEL 后出现 SPI 或非 Flash 读取问题

你好，

我们正在 RT1176 CPU 上测试签名和加密过程。

我们的基本系统配置为：UART/JTAG <-> RT1176 <-> SPI Nor Flash

我们用于测试的软件是：

- RT1176 测试固件（一个简单的固件，启动后会激活一个 LED）

- NXP MCUXpresso 安全配置/blhost（用于通过UART进行签名和加密）

- Segger JFlash（用于通过 JTAG 访问闪存）

到目前为止，我们进行了以下测试：
1）当 CPU 解锁且签名关闭时，固件（未签名/未加密）按预期启动，我们可以通过 JTAG 毫无问题地访问闪存。
2) 当 CPU 解锁且签名处于活动状态时，固件（已签名/未加密）按预期启动，我们可以通过 JTAG 毫无问题地访问闪存。
3) 当 CPU 被锁定且签名开启时，固件（已签名/加密）将无法启动，并且通过 JTAG 对闪存的访问变得不稳定。

所以，我们遇到了某种加密问题。但在深入探讨加密问题之前，我们想了解步骤 3 中不稳定的闪存行为。

在几次测试中，很明显，一旦 BT_FUSE_SEL 熔断，闪存问题总是会发生（BT_FUSE_SEL 完好：通过 JTAG 完全访问闪存，BT_FUSE_SEL 熔断：通过 JTAG 不稳定访问闪存）。由于我们仍在测试阶段，因此尚未通过熔丝位设置禁用 JTAG。

所以问题是：
为什么 BT_FUSE_SEL 会导致我们失去对闪存的访问权限？（CPU锁定时是否有读取保护机制？）Segger JFlash 工具在 CPU 锁定的情况下是否存在问题？……）

另请参阅：
https://community.nxp.com/t5/i-MX-RT-Crossover-MCUs/mxrt1176-quot-half-quot-bricked-after-programmin...
->同样的问题：BT_FUSE_SEL > 无闪存访问

提前致谢。

此致，
弗洛里安

Re: RT1176 - SPI NOR-Flash readout issue via JTAG after programming BT_FUSE_SEL

嗨@florian_arndt ，

感谢您对 NXP MIMXRT 系列产品的关注！

BT_FUSE_SEL 不会直接启用 SPI 或非读取保护或禁用 JTAG。它的功能是强制 Boot ROM 使用存储在 eFuse 中的启动配置，而不是使用 BOOT_CFG 引脚。

如果 OTFAD/加密 XIP 配置也已编程到 eFuse 中，则烧录 BT_FUSE_SEL 可使该配置在每次启动时生效，并消除通过 BOOT_CFG 引脚绕过它的可能性。因此，错误的 OTFAD 上下文、密钥、地址范围或加密映像可能会导致 Boot ROM 在应用程序启动之前失败。

因此，我认为目前最可能的原因是与启动相关的 GPIO 已被旁路，但相应的 eFuse 没有正确配置。BT_FUSE_SEL 本身不会影响 JTAG 连接。我建议您进行A/B测试，以便快速找出问题所在。

此致，
加文

Re: RT1176 - SPI NOR-Flash readout issue via JTAG after programming BT_FUSE_SEL

你好@Gavin_Jia ，

谢谢你的回答！
今天我们修复了加密过程（固件中的一个漏洞）。我们的固件现在已启动，CPU 中已激活签名/加密功能。
所以大问题解决了。

剩下的问题是设置 BT_FUSE_SEL 后通过 JTAG 读取 spi-flash 的问题。
附件是我们的保险丝图。

你觉得有什么因素可能导致我们遇到的问题吗？

提前致谢。
弗洛里安