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FRDM-i.MX95 上的外部 JTAG 调试器连接未输出预期的 JTAG 信号

你好，

我正在尝试将外部 JTAG 调试器连接到 FRDM-i.MX95 板。

根据板原理图，JTAG/DAP 信号似乎被连接到 PCB 上的测试点，一些相关元器件被标记为 DNP。
基于此，我对电路板进行了如下修改：

连接测试点的 JTAG 信号
安装与 JTAG/DAP 信号路径相关的 DNP 电阻器
添加了外部调试器的连接器
将 VTref、GND、TCK、TMS、TDI、TDO 和 RESET 连接到外部调试器

但是，我无法从调试器/电路板端观察到预期的 JTAG 信号输出。
例如，在调试器连接序列期间，TCK/TMS/TDI 没有按预期出现。

请您确认以下几点？

上述修改方法是否适用于将外部 JTAG 调试器连接到 FRDM-i.MX95 板？
要启用外部 JTAG/DAP 接口，是否需要额外的电阻器、跳线、焊桥或板修改？
外部调试器开始驱动 JTAG 信号之前，VTref 电压等级或电源时序是否有任何要求？
FRDM-i.MX95 上的 i.MX95 在 JTAG/DAP 接口可访问之前是否需要任何启动模式、熔丝设置、网络安全设置或软件初始化？
外部 JTAG 调试器能否直接访问该板上的 Cortex-A55、Cortex-M33 和 Cortex-M7 内核，还是需要引导加载程序/固件进行额外的初始化？
在使用 FRDM-i.MX95 时，是否有推荐的连接器引脚分配或参考修改指南，以便将外部调试器与 FRDM-i.MX95 配合使用？

如果您能提供在 FRDM-i.MX95 板上启用外部 JTAG 调试的任何指导、原理图参考或所需修改细节，我将不胜感激。

顺祝商祺！

Re: External JTAG debugger connection on FRDM-i.MX95 does not output expected JTAG signals

1. 你的修改方法是否正确？

原则上，是的。

如果 FRDM 原理图显示：

• TCK
• TMS
• TDI
• TDO
• nTRST 或 RESET
• VTREF
• GND

通过测试点和 DNP 填充选项，然后将这些信号路由到连接器通常是正确的方法。

但是，由于搜索结果中没有返回原理图，因此我无法确认所有必需的 DNP 电阻器是否都已安装到位。用户手册中不包含 JTAG 电路图。

2. 为什么检测不到 TCK/TMS/TDI 活性？

通常情况下，当连接 JTAG 探针时：

• TCK/TMS/TDI 由调试器驱动。
• 目标板不会生成它们。

如果您在 TCK/TMS 上完全看不到任何切换：

最常见原因 1：未检测到 VTref

许多探针（Lauterbach、J-Link、PE Micro、ULINK 等）只有在 VTref 存在且在有效范围内时才会驱动 JTAG 引脚。

检查：

• 连接器处的 VTref 电压。
• 共用接地连接。
• 探针软件会报告目标电压。

对于 FRDM-i.MX95，DAP I/O 电源似乎与 3.3 V 功能域 (NVCC_CCM_DAP) 有关。板文档显示该功能域由VDD_3V3供电。

最常见原因二：电路板未通电

大多数调试器仅使用 VTref 进行检测。

它们不会为目标提供动力。

核实：

• 电路板由 J25 供电。
• PMIC启动。
• VDD_3V3 存在。
• 电路板上的LED指示灯亮起。

该板需要外部PD电源。

最常见原因#3：缺少信号路由重构

如果 JTAG 路径包含：

• 0Ω DNP电阻器
• 隔离电阻器
• 其他馅料选择

即使缺少一个电阻，也可能导致 TCK/TMS 断开连接。

由于搜索结果中没有原理图，我无法核实电阻器的确切配置。

最常见原因#4：引脚映射错误

用欧姆表验证：

探针引脚 → 连接器引脚 → 电阻器 → 测试点 → i.MX95 球。

不要假设测试点标签与标准的 ARM 20 引脚顺序一致。

3. 是否需要特殊的启动模式？

对于不安全的设备：

观察 JTAG 时钟活动不应该需要启动模式。

一旦调试器检测到 VTref 并开始扫描序列，TCK/TMS 就应该切换。

启动开关会影响：

• eMMC启动
• SD启动
• 序列号下载器

这与调试器是否生成 TCK 无关。

4. 是否涉及安全设置/熔丝？

有可能。

i.MX95 实现了认证调试和调试访问控制。[i.MX95RM_Rev4 | PDF] 、 [i.MX95RM_Rev2 | PDF] 、 [i.MX95 Sec...2026-final | PowerPoint]

然而：

• 网络安全设置通常会阻止成功的调试访问。
• 它们通常不会阻止调试器生成 TCK/TMS 本身。

由于您报告完全没有 TCK 活性，我首先会调查以下问题：

1. VTREF
2. 探针配置
3. 电缆引脚排列
4. 缺失的人口选项

在怀疑网络安全之前。

5. A55、M33 和 M7 可以调试吗？

i.MX95调试架构支持：

• Cortex-A55
• Cortex-M33
• Cortex-M7

通过 CoreSight/DAP 基础设施。[i.MX95RM_Rev2 | PDF] ， [i.MX95RM_Rev5 | PDF]

所以从硅芯片的性能角度来看，是的。

所有功能域是否立即可见取决于：

• 系统状态，
• 网络安全配置，
• 支持调试器。

但调试器通常不需要额外的引导加载程序初始化即可检测到 DAP 本身。

推荐测量方法

在进一步修改电路板之前，我会检查以下几点：

电源

• VTref = ?V
• VDD_3V3 存在
• 板正常启动

连续性

• TCK 连接器 ↔ SoC 路径
• TMS连接器↔SoC路径
• TDI 连接器 ↔ SoC 路径
• TDO 连接器 ↔ SoC 路径
• RESET 连接器 ↔ SoC 路径

探针侧

• 调试软件是否报告目标电压？
• 它是否显示“检测到目标”？
• 它是否报告尝试进行 JTAG 链扫描？

示波器

直接探测：

• 调试器连接器引脚
• SoC侧测试点

连接尝试期间。

如果调试器连接器处存在 TCK，但 SoC 测试点处不存在 TCK，则问题几乎肯定出在电路板返工上。

Re: External JTAG debugger connection on FRDM-i.MX95 does not output expected JTAG signals

感谢您的支持。

我们检查了外部 JTAG 调试器连接，发现
问题是由FRDM-i.MX95板和电路板之间的线路长度引起的。
外部 JTAG 调试器。

缩短并重新排列 JTAG 信号线后，调试器……
能够正确检测到目标，并观察到了JTAG信号。
预期的。

因此，通过改进JTAG接线方式，这个问题已经得到解决。
长度和连接质量。

再次感谢您的帮助。