NXP社区的各位好,
我正在做一个 S32K388 项目,并配置 FXOSC(快速晶振(晶体振荡器))。我在参考手册中看到 GM_SEL 用于选择 FXOSC 放大器的跨导,但我找不到将晶体频率与 GM_SEL 值对应起来的清晰推荐表。
当前配置:
晶体:16 MHz 无源晶体
GM_SEL = 12 (0xC,~0.7016x)
EOCV = 157
OSC_BYP = 0(晶体模式)
COMP_EN = 1
对于 16 MHz 的频率,这种方法效果很好。
我的问题:我希望支持多种晶体选项:8 MHz、16 MHz、20 MHz 和 40 MHz。
请问谁能分享一下各个频率的推荐GM_SEL值?或者能否提供一份 NXP 应用笔记或表格,其中提供了这方面的指导?
具体来说:
对于每个标准 FXOSC 频率(8/16/20/40 MHz),是否有推荐的 GM_SEL 值?
对于 20 MHz 晶体,为了获得可靠的振荡,GM_SEL 是否应该从 12 增加到 15(最大值)?
GM_SEL 的选择主要取决于晶体频率、ESR、负载电容,还是所有这些因素?
任何指导或参考资料都将不胜感激。
顺祝商祺!
在《S32K3 MCU 通用硬件设计包》中包含的《S32K3xx 微控制器硬件设计指南》修订版 E2 的 3.2 节中提到,“当 GM > 5 × gmcrit 时,晶振(晶体振荡器)电路可提供非常安全稳定的振荡”,并且还定义了 gmcrit 的计算方法。
此外,在 S32K3xx 数据手册第 14 版的 11.4 节中,针对 ALC 禁用模式,提供了 GM = 4'b0010 的通用推荐设置。
最后,例如,如果根据晶体规格,需要跨导 G = 12 mA/V 来确定 CTRL[GM_SEL] 值:
12 mA = 18.5 mA × N
N = 12 mA / 18.5 mA = 0.6486
寄存器设置支持的最近值对应于 CTRL[GM_SEL] = 1010b → 0.6681×
BR,VaneB