こんにちは、
S32M276をベースにしたカスタムボードと、RTD 6.0.0を使用しているNXP公式開発ボードの両方で、リセットループが継続的に発生する問題が発生しています。
観察された行動：
JTAGデバッガを接続すると、アプリケーションは予期しないリセットなしに正常に動作します。デバッガを再接続し、MCU/RGMステータスレジスタを介してリセット理由を調べると、リセット原因はMCU_HSE_SWT_RST_RESETであることが特定されます。
HSEウォッチドッグ（HSE_WDT）に関連付けられたリセットカウンタは、サイクルごとに増加します。
デバッガーを取り外して電源を入れ直すと、デバイスは約1秒ごとにリセットループに入ります。
現在の構成:
MCU: S32M276
RTDバージョン：6.0.0
MCU_HSE_SWT_RST_RESETの具体的なトリガーについてご説明いただけますでしょうか？
- RTD 6.0.0 において、この HSE 管理リセットを無効にするか、WDT を適切に保守するための推奨手順は何ですか？
よろしくお願いします。
- ミゲル・マルケス
フォーラムでさらに調査した結果、以下の情報が問題のデバッグに役立つ可能性があると考えました。（これはコネクテッドでの情報です。）
UT0レジスタ値
DCMUTS値
UTESTメモリ開始:
こんにちは、@Miguel_Marquez_Schaeffler さん。
詳細な説明と追加のデバッグ情報をありがとうございました。
あなたの説明からすると、これは時計の設定の問題のようですね。通常、この動作はクロック比率が守られていない場合に発生します。 [s32k312]RTD 機能によるリセット理由の読み取り、HSE_SWT_RST は機能リセット後に発生します。 - NXP コミュニティ。
S32M27XRMの第21.7.2章に記載されているクロックモードに従っていることを確認してもらえますか？具体的には、HSE_CLK 構成を確認してください:解決済み: S32K312 flexcan サンプルが電源リセット時に実行されない - NXP コミュニティ。
よろしくお願いします、
ジュリアン
解決策は、HSEクロックを120MHzから60MHzに事前にスケーリングすることだった。