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LX2160A 電源インテグリティ (PI) 解析

専門家の皆様へ

現在、LX2160Aを使用したPCB設計を進めており、電源インテグリティ(PI)解析を実施する予定です。

適切な分析条件を設定するために、以下の項目についてご指導いただけますでしょうか?

1. 各電源レールにおける推奨目標インピーダンス
2. 解析における想定最大過渡電流(di/dt)条件

また、推奨されるPI分析ツールや手法があれば、ぜひご教示いただければ幸いです。

サポートありがとうございます。ご返信をお待ちしております。

よろしくお願いいたします。

Re: LX2160A Power Integrity (PI) analysis

1. 電源レール概要(LX2160A)

LX2160Aは、コアロジック、SRAM/PLL、SerDes、DDR、およびI/O用に複数の独立した電源レールを使用します。正確なレールリストと公称電圧は、 LX2160Aのデータシートおよびリファレンスデザインに定義されており、それらが正式な情報として扱われるべきです。

典型的なキーレール(名称は回路図によって異なります):

レール機能 標準定格電圧 備考
コア(VDD) 約0.75~0.85V di/dtが最も高く、PIにとって最も重要
プラットフォーム/キャッシュ(VDD_PLAT) 約0.9V 大容量オンダイSRAM、垂下現象に敏感
SerDesアナログ 約1.0V ノイズに敏感で、di/dtが低い
SerDes Digital 約0.9V 適度な切り替え活動
DDR VDD 1.2 V JEDEC主導の外部メモリが主流
DDR VPP 2.5V 低電流
入出力(VDD_IO) 1.8V / 3.3V PIの臨界値が最も低い

2. 推奨ターゲットインピーダンス(Z_TARGET)

LX2160Aは明示的なZターゲット値を公表していないため、標準的な電圧リップルに基づく方法を使用する。

Ztarget=ΔVallowableΔImaxZ_{target} = \frac{\Delta V_{allowable}}{\Delta I_{max}}

NXPは一般的に、Layerscapeデバイスのコア型電源レールにおけるリップル率を3~5%以下にすることを推奨しています(設計チェックリストおよびリファレンスボードに基づく)。[static.chipdip.ru][community.nxp.com]

実用的な目標インピーダンス値

レール 許容リップル 推定ΔI 推奨Z_TARGET
コア(VDD) ±3%(約25mV) 8~12歳 2~3 mΩ
プラットフォーム/SRAM ±3%(約30mV) 4~6 A 5~8 mΩ
SerDes Digital ±5% 1~2 A 25~40 mΩ
SerDesアナログ ±5% <1 A >50 mΩ
DDR VDD JEDEC 3~5 A 20~30 mΩ
入出力レール ±5~10% <2 A >50 mΩ

重要なポイント:
コアレールとSRAMレールのみが、低ミリオーム範囲まで非常に積極的なPDN設計を必要とする。


3. 過渡電流/di/dtに関する仮定

コアレール(重要)

PIシミュレーションにおける最悪ケースの過渡現象に関する仮定は、一般的に以下のとおりです。

  • ΔIステップ:5~8A
  • エッジレート:1~5ナノ秒
  • di/dt : 1~5 A/ns

これらは以下を表しています。

  • 複数のCortex-A72コアの同時切り替え
  • キャッシュ+データパスアクセラレータの動作(DPAA2、DCE、SEC)

これは、NXPのリファレンスボード設計チェックリストにおけるバルク+高周波デカップリングのサイズ決定方法と一致しています。[static.chipdip.ru][community.nxp.com]


その他のレール

レール ΔIの仮定 di/dt
プラットフォーム/SRAM 2~4 A 0.5~1 A/ns
SerDes Digital 0.5~1 A 0.1~0.3回答
DDR VDD JEDECによって管理されるバースト より遅い、レギュレーター主導
I/O <0.5 A 非常に低い

4. 分析対象周波数範囲

LX2160Aの場合、PI解析では以下の項目を対象とする必要があります。

  • DC → 100 MHz (最小)
  • オンダイL/C効果のため、コアレールには最大300~500MHzが推奨されます。

約1MHz以下:
VRMとバルクコンデンサが大部分を占める

1~100MHz:
ボードレベルのMLCCとプレーン

100 MHz:
オンパッケージ+オンダイ静電容量(利用可能な場合はパッケージSパラメータを使用してモデル化)


5. デカップリング戦略(参照ベース)

NXPのリファレンスデザインは、3層構造のアプローチを示しています。

  1. バルク
    • コアレールあたり47~330μFのポリマーまたはタンタル
  2. 中周波MLCC
    • 1~10 µF、X7R、パッケージ外周全体に分布
  3. 高周波MLCC
    • BGA直下に0.01~0.1μF

この方法は、LayerscapeのRDBレイアウトと整合性があります。[static.chipdip.ru]


6. 推奨PIツール

LX2160AクラスのSoCでうまく機能する、広く使われているツール:

シミュレーション

  • ケイデンス シグリティ パワーSI
  • Ansys SIwave
  • Keysight PIPro
  • Altium PDNアナライザー(初期段階のチェック)

測定(ポストシリコン)

  • VNAを用いたPDNインピーダンス測定(2ポートシャントスルー方式)
  • BGAブレークアウトテストポイントにおける高帯域幅プロービング

7.方法論の概要(ベストプラクティス)

  1. Z_TARGETベースのPDN設計から始めましょう
  2. スイープインピーダンスプロット(対数-対数)を作成する
  3. Z_TARGET以下の反共鳴ピークを除去する
  4. 検証方法:
    • 最悪の場合の現在のステップ
    • 負荷過渡シミュレーション
  5. 可能であればRDBの挙動と相関関係を分析する

8. NXP固有の推奨事項

NXPは、社内でPDNサイジングに使用される電力使用事例やレール電流に関するガイダンスを含むAN5407 – LX2160A/LX2162A設計チェックリストを確認することを強く推奨します。[community.nxp.com]

NXPプレミアムサポートをご利用の場合は、以下のリクエストも可能です。

  • 鉄道ごとの最悪シナリオの電流表
  • パッケージPDNモデル(利用可能な場合)
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版本历史
最后更新:
‎04-28-2026 05:55 AM
更新人: