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はい

[S32K566 SAF] bist 测试后，MCU 将进入 RESET

嗨，团队

客户使用 SAF 后发现的 MCU 在 bist 之后将始终处于 RESET 状态。除了关闭电源外，没有办法启动 MCU。因此，客户希望了解变通方法和路径原因。但对此没有任何说明。

顺祝商祺！

俊杰

SAFETY_SW

Re: [S32K566 SAF] MCU will be stucked in reset after bist test

你好@MariusC

感谢你的支持

BSSM 合同：否
客户公司*：PATAC
项目名称*：分区控制器
客户联络点*（姓名& 电子邮件）：Liek Li ([email protected])
软件 & 硬件信息：客户正在基于 s32k566 A0 样本开发功能安全功能
软件包信息*：SW32K5_RTD_R23-11_0.8.0 + SW32K5_SAF_0.8.0_HF01_D2602
硬件*（板/芯片组/平台）：S32K566 CVB
SW 版本*：0.8.0

顺祝商祺！

俊杰

Re: [S32K566 SAF] MCU will be stucked in reset after bist test

您好@Junjie,

请提供以下信息，以便我们更好地帮助您的客户：

如果您支持的是直接客户，请提供：

BSSM 合同：是/否
客户公司*：
项目名称*：
客户联络点*（姓名& 电子邮件）：
软件& 硬件信息：
软件包信息*：
硬件*（板/芯片组/平台）：
SW 版本*：

*必须

Re: [S32K566 SAF] MCU will be stucked in reset after bist test

你好@俊杰

在这个早期的启动阶段，问题可能有多种原因（例如，BIST 退出/恢复未完成）。

可能的原因是破坏性重置事件保持锁定状态，因此重复重置会达到破坏性复位升级阈值 (DRET)，使设备处于重置状态，直到开机复位。

为了查明根本原因，以下寄存器转储/日志会很有帮助，这些记录会在 RESET 周期后立即捕获（十六进制值/屏幕截图）。

MC_RGM_DES（破坏性事件状态）
MC_RGM_FES（功能/外部事件状态）
MC_RGM_DRET、MC_RGM_FRET（升级阈值）

Re: [S32K566 SAF] MCU will be stucked in reset after bist test

你好@DenisSas

MCU 重复重置，调试器无法连接 MCU，除非关机。如果在 SAF 驱动程序中运行 SAF 示例，也会出现这个问题。

顺祝商祺！

俊杰

Re: [S32K566 SAF] MCU will be stucked in reset after bist test

嗨，@俊杰、

谢谢你的澄清。

我正在继续调查这种行为。目前我无法立即访问 S32K5 板来重现 SAF 示例场景，但我正在查看 SAF 初始化流程和早期的 RESET 顺序，以了解为什么 MCU 在调试器连接之前进入 RESET 循环。

Re: [S32K566 SAF] MCU will be stucked in reset after bist test

你好@DenisSas

能给我一些最新消息吗？客户要求我们关闭这张票，因为客户正在评估启动时间并优化应用程序启动流程。谢谢！

顺祝商祺！

俊杰

Re: [S32K566 SAF] MCU will be stucked in reset after bist test

嗨，@俊杰、

关于 s32k566，我们正在与验证团队联系，因为我们这边也存在这个问题。计划周一与他们会面，之后我会再提供信息。

致以最诚挚的问候，
Denis

Re: [S32K566 SAF] MCU will be stucked in reset after bist test

你好@DenisSas

感谢您提供最新信息，能否请您分享更多相关细节？是硬件问题还是软件配置问题或 sbaf 问题？如果不是硬件问题和 sbaf 问题，客户希望通过直接写入 bist 寄存器来配置 bist，使其正常工作。还有一个问题，我们能得到更新路线图吗？

顺祝商祺！

俊杰

Re: [S32K566 SAF] MCU will be stucked in reset after bist test

你好@Junjie,

BIST 执行时间 8.3ms
请注意这是初步的 BIST 执行。由于切口 A0 存在无法为 CPE 运行 LBIST 的勘误，因此切口 B0 将修正这一问题。

在 SAF 方面，我们即将完成在不使用 LBIST5 和 LBIST11（CPE 和 HSE）的情况下运行的 SAF 演示示例中的 BIST 执行。

关于有无 HSE 的 BootRom 执行时间，我正在等待架构师的回复。

亲切的问候，
Radoslav

Re: [S32K566 SAF] MCU will be stucked in reset after bist test

嗨，@俊杰、

问题在于硬件（A0 的勘误、LBIST CPE 不工作）和软件。我不建议直接写入 BIST 寄存器来使 BIST 工作。
路线图将等到2026年5月29日SAF ZE 0.8.1的新版本发布。从今天起的下周，功能演示将单独推出。解决方法就是在没有 CPE 的情况下也能运行。

致以最诚挚的问候，
Denis

Re: [S32K566 SAF] MCU will be stucked in reset after bist test

你好@RadoslavB

感谢您的更新，这对客户评估启动时间非常有帮助。

顺祝商祺！

俊杰

Re: [S32K566 SAF] MCU will be stucked in reset after bist test

嗨，@俊杰、

会议上发现了这个问题，现在 BIST 的所有者正在进行必要的更新，以使其与 SAF 演示示例配合使用。

感谢您的耐心等待。

致敬，
Denis

Re: [S32K566 SAF] MCU will be stucked in reset after bist test

嗨，@俊杰、

需要提醒的是，该问题仍然存在，目前 SBAF 团队正在对此进行调查。

此致敬礼，丹尼斯