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[S32K566 SAF] BISTテスト後、MCUがリセット状態のままになる

こんにちは、チームの皆様。

お客様がSAFを使用している際に、BIST後にMCUが常にリセット状態のままになるという問題が発生しました。電源を切る以外にMCUを起動する方法はありません。そのため、お客様は回避策と根本原因を知りたいと考えています。しかし、これに関する説明は一切ありません。

よろしくお願いいたします。

ジュンジエ

SAFETY_SW

Re: [S32K566 SAF] MCU will be stucked in reset after bist test

こんにちは、 @MariusC さん。

ご対応ありがとうございます。

BSSM契約：なし
お客様 NXPについて*: PATAC
プロジェクト名*: ゾーンコントローラ
お客様お問い合わせ担当者*（氏名とメールアドレス）：Liek Li（[email protected]）
ソフトウェアおよびハードウェア情報：顧客はS32k566 A0サンプルに基づいてセーフティ機能を開発しています。
SWパッケージ情報*: SW32K5_RTD_R23-11_0.8.0 + SW32K5_SAF_0.8.0_HF01_D2602
HW*（ボード/チップセット/プラットフォーム）：S32K566 CVB
ソフトウェアバージョン*: 0.8.0

よろしくお願いいたします。

ジュンジエ

Re: [S32K566 SAF] MCU will be stucked in reset after bist test

こんにちは@Junjie 、

お客様へのより良いサポートのために、以下の情報をご提供ください。

直接のお客様をサポートしている場合は、以下の情報を提供してください。

BSSM契約：あり／なし
お客様 NXPについて*:
プロジェクト名*:
お客様お問い合わせ担当者*（氏名とメールアドレス）：
ソフトウェアおよびハードウェア情報：
ソフトウェアパッケージ情報*:
ハードウェア*（ボード/チップセット/プラットフォーム）：
ソフトウェアバージョン*:

*必須

Re: [S32K566 SAF] MCU will be stucked in reset after bist test

こんにちは@Junjie

この問題には、起動初期段階で複数の原因が考えられます（例：BISTの終了/復元が完了しない）。

考えられる原因としては、破壊的リセットイベントがラッチされたままになり、繰り返しリセットを行うと破壊的リセットエスカレーションしきい値（DRET）に達し、電源投入リセットが行われるまでデバイスがリセット状態のままになることが挙げられます。

根本原因を特定するには、リセットサイクル直後に取得した以下のレジスタダンプ/ログ（16進数値/スクリーンショット）が役立ちます。

MC_RGM_DES（破壊イベント情報ステータス）
MC_RGM_FES（機能/外部イベント情報ステータス）
MC_RGM_DRET、MC_RGM_FRET（増加閾値）

Re: [S32K566 SAF] MCU will be stucked in reset after bist test

こんにちは、 @DenisSas

MCUが繰り返しリセットされ、電源を切る以外にデバッガーがMCUに接続できませんでした。しかし、電源投入後、 MC_RGMに信号がありません。SAFドライバのSAFサンプルを実行した場合にも、この問題が発生する可能性があります。

よろしくお願いいたします。

ジュンジエ

Re: [S32K566 SAF] MCU will be stucked in reset after bist test

こんにちは@Junjieさん

ご説明いただきありがとうございます。

私はこの行動について引き続き調査しています。現時点では、SAFのサンプルシナリオを再現するためのS32K5ボードにすぐにアクセスすることはできませんが、デバッガが接続される前にMCUがリセットループに入る理由を理解するために、SAFの初期化フローと初期リセットシーケンスをレビューしています。

Re: [S32K566 SAF] MCU will be stucked in reset after bist test

こんにちは、 @DenisSas

最新情報を教えていただけますか？お客様から、起動時間の評価とアプリの起動プロセスの最適化を行っているため、このチケットをクローズするようにとの要望がありました。ありがとう！

よろしくお願いいたします。

ジュンジエ

Re: [S32K566 SAF] MCU will be stucked in reset after bist test

こんにちは@Junjieさん

s32k566については、弊社側でも同様の問題が発生しているため、検証チームと連絡を取っています。月曜日に彼らとの会合が予定されているので、その後情報をお伝えします。

よろしくお願いします、
デニス

Re: [S32K566 SAF] MCU will be stucked in reset after bist test

こんにちは、 @DenisSas

最新情報をお知らせいただきありがとうございます。もう少し詳しい内容を教えていただけますでしょうか？ハードウェアの問題でしょうか、それともソフトウェア構成の問題でしょうか、それともSBAFの問題でしょうか？ハードウェアの問題やSBAFの問題ではない場合、顧客はBISTレジスタに直接書き込むことでBISTを構成し、BISTを動作させたいと考えています。もう一つ質問なのですが、アップデートのロードマップを入手できますか？

よろしくお願いいたします。

ジュンジエ

Re: [S32K566 SAF] MCU will be stucked in reset after bist test

こんにちは@Junjieさん

BIST実行時間 8.3ms
これは暫定的なBIST執行計画であることをご了承ください。カットA0にはCPEに対してLBISTを実行できないというエラーがあるため、カットB0で修正されます。

SAF側では、LBIST5とLBIST11（CPEとHSE）を使用せずに実行されるSAFデモ例において、BISTの実行がまもなく完了します。

BootROMの実行時間（HSEの有無による違い）については、設計担当者からの回答を待っています。

敬具、
ラドスラフ

Re: [S32K566 SAF] MCU will be stucked in reset after bist test

こんにちは@Junjieさん

問題はハードウェア（A0のエラー、LBIST CPEが動作しない）とソフトウェアの両方にあります。BISTを動作させるためにBISTレジスタを直接書き込むことはお勧めしません。
ロードマップは、2026年5月29日にリリースされるSAF ZE 0.8.1の最新版まで保留される予定です。機能デモは本日より来週、別途公開されます。この修正策は、CPEなしで動作するようにすることです。

よろしくお願いします、
デニス

Re: [S32K566 SAF] MCU will be stucked in reset after bist test

こんにちは、 @RadoslavB

アップデートありがとうございます。お客様が起動時間を評価できるのは本当に大変役立ちます。

よろしくお願いいたします。

ジュンジエ

Re: [S32K566 SAF] MCU will be stucked in reset after bist test

こんにちは@Junjieさん

この問題は会議で発見され、現在BISTの所有者がSAFデモ例と連携させるために必要な更新作業を行っています。

ご辛抱いただきありがとうございます。

よろしくお願いいたします。
デニス

Re: [S32K566 SAF] MCU will be stucked in reset after bist test

こんにちは@Junjieさん

念のためお知らせしておきますが、この問題はまだ解決しておらず、現在SBAFチームによる調査中です。

よろしくお願いいたします、デニス