こんにちは、
現在、NewSpace LEO アプリケーション向けに PF8100/PF8200 PMIC を評価しており、放射線分析と信頼性評価のための製造プロセスの詳細をより深く理解したいと考えています。
NXP の担当者から以下の情報をご提供いただけますか。
* プロセス ノード (例: 180nm、130nm、その他)?
* 使用されているプロセス テクノロジー (例: BCD、FDSOI、バルク CMOS)?
PF8200 は ISO 26262 ASIL-B(D) 準拠のオートモーティブ アプリケーション向けに設計されており、堅牢なプロセス制御が可能で、LEO での短期ミッションに適しています。
この情報が NDA の対象である場合は、公式チャネルを通じて喜んで話し合います。
こんにちは、
このコミュニティ チャネルでは詳細な情報を共有できないことをご了承ください。
要求した情報は次のとおりです: CMOS の場合は 130 nm。
さらに詳しい情報が必要な場合は、サポート チケットを開いて、さらにサポートを受けてください。
https://www.nxp.com/support/support:SUPPORTHOME
ご理解のほどよろしくお願いいたします。