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MPC5777C DCF_UTEST_REE_TMPSNS 設定後の PMC_SELF_TEST 失敗に関する問い合わせ

私は MPC5777C チップを使用しており、UTEST の PMC 温度センサ リセット イベント情報 イネーブル コントロール DCF を構成しています。LDPLS ビットを 1 に設定して、PMC_REE_TD レジスタに DCF クライアント データをロードし、TEMPSNS0 と TEMPSNS2 の両方を 0 に設定して、温度センサによって発生するリセット イベント情報 を無効にします。
-> DCF構成は次のとおりです: DCF_UTEST_REE_TMPSNS: LDPLS(1), TMPSNS2(0), TMPSNS0(0)

この状態で MPC5777C に電源が投入されると、PMC_SELF_TEST_UM_VD_REG の ST_RESULT には SCM SELF TEST が失敗したことが示されます。DCF 設定前は結果は常に PASS でしたが、設定後は Failed が記録されます。この動作は、製造するボードによって異なります。
たとえば、搭載 1 では DCF を構成した後に常に失敗しますが、搭載 2 では DCF 構成後に常に成功します (両方の搭載とも DCF 構成前は常に成功します)。

私の質問は次のとおりです:

1.設定した DCF 内の LDPLS、TEMPSNS0、および TEMPSNS2 設定が PMC SELF TEST の操作と結果にどのように影響するかを理解したいと思います。具体的には、温度センサのリセット イベント情報が無効になっている場合、セルフ テストが失敗したり合格したりするのは正常ですか?

2. DCF を設定した場合、ブート シーケンス後にアプリケーション領域で PMC 設定を再構成し、再度セルフ テストを実行するのは正しいですか?

あなたの親切で役立つ回答にいつも感謝しています。