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S32K3 的 CAN 采样点测试值太小的问题

你好,恩智浦

在使用 S32K311 进行开发时,选择了 16 MHz 的外部晶振。配置 CANFD 时,CAN 时钟源使用 60 MHz 的 AIPS_PLAT_CLK。为数据字段配置了 80% 的采样点,并启用 TDC。但是,在CANOE中实际测得的采样点只能达到72%

在其他型号(如 S32K312 和 S32K342)的测试中也出现了这个问题。

以下是我们设置采样点和测试数据的配置之一。我们将采样点配置为 76% ,但实际测试结果为 67% 。

wuxianlong_0-1764121103863.pngwuxianlong_1-1764121141564.png

谨致问候,
xianlong



Re: Problem of the CAN sampling point test value being too small for S32K3

你好@武仙龙

请与我分享您的项目,我会花时间进行测试。

Re: Problem of the CAN sampling point test value being too small for S32K3

你好,@Senlent

我们修改了多种配置。在 S32K3 配置为 80% 的条件下,CANoe 测试的最佳结果是 72%

,谢谢
xianlong

Re: Problem of the CAN sampling point test value being too small for S32K3

你好@武仙龙

对于 CAN FD 数据阶段 最新必须在 CANoe 中设置可能的最新采样点。然后,VH6501 发送帧并 延长然后 VH6501 发送帧,并在每个间隔后将各个比特位延长一个刻度。

这似乎是 VH6501 的配置问题。您可以尝试将此处的参数修改为 70%, 76.667%, 和 80% ,然后再次测试。

Senlent_0-1764124913617.png


Re: Problem of the CAN sampling point test value being too small for S32K3

你好,@Senlent

我们咨询了几位经验丰富的工程师。他们介绍说,S32K1 和 K3 的小采样点测试也存在问题,这个问题可能与 MCU 关系不大。使用 CANoe 进行测试时,测试结果都偏低。他们建议,在 80% 的实际测试要求下,可以适当增加为 S32K3 配置的采样点。您可以使用任何恩智浦演示程序进行测试,这种现象应该是可以重现的。

敬上,
xianlong

Re: Problem of the CAN sampling point test value being too small for S32K3

你好@武仙龙

客户的测试可能存在缺陷,请相信自己的测试。

我将花一些时间进行一些测试,但这不是我的优先事项,可能需要几个月的时间。

天内给您答复。

Re: Problem of the CAN sampling point test value being too small for S32K3

你好@武仙龙

这仍然应该是测试问题,而不是 MCU 引起的。

不过,我会花一些时间做一些简单的测试。我可能会使用示波器直接进行测试,这应该是最精确的测量方法。

Re: Problem of the CAN sampling point test value being too small for S32K3

您好,@Senlent

如果您有更有说服力的结果,也请与我们分享。
我们使用了其他一些仪器进行测试,得到的采样点与我们在设置中预期的比较接近。不过,对于客户来说,CANoe 的行业认可度非常高。

敬上,
xianlong

Re: Problem of the CAN sampling point test value being too small for S32K3好的
Re: Problem of the CAN sampling point test value being too small for S32K3

你好@武仙龙

很抱歉,我不能进行这项测试。

我没有合适的干扰设备来进行测试,而 FLEXCAN 报告中的测试结果已经证明测试通过。

我可以私下把相关证明发给你。

Re: Problem of the CAN sampling point test value being too small for S32K3非常感谢。
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最后更新:
‎12-03-2025 03:30 AM
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