项目概述
我正在研究一种通过 emiOS → BCTU → ADC 链触发信号 ADC 采样的设计。BCTU 从 配置在 OPWMT 模式下 的 emiOS PWM 通道 接收触发信号， 以便在触发事件之间创建精确的时间偏移。
当前设置
- ADC0 处理两组信号：
- 由 em ios_0_ch@@ 1 触发的第 1 组 （两个 ADC 通道）
- 由 em ios_0_ch@@ 2 触发的第 2 组 （两个 ADC 通道）
- 每个信号采样大约需要 1.3 µs，因此每组信号大约需要 2.6 µs。
- 第二组（由 CH2 触发信号）偏移 3.6 µs（+1 µs 边距），以避免与第一组重叠。
时间顺序：
Time (µs): 0 1.3 2.6 3.6 4.9 6.2 7.2
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eMIOS_0_CH1 ---> adc_ch1 (start at 0 µs)
---> adc_ch2 (after 1.3 µs)
eMIOS_0_CH2 (offset by 3.6 µs)
---> adc_ch1 (start at 3.6 µs)
---> adc_ch2 (after 1.3 µs → ~4.9 µs)
eMIOS_0_CH4 (offset by 7.2 µs)
---> software trigger for ADC0 self-test- 两个组都完成后，我添加了 emios_0_ch4 作为 软件触发器 （通过回调）在 ADC0 上启动 ADC 自检。使用 adc_sar_IP_SelfTest API
- CH4 偏移 7.2 µs ，以确保在自检开始前完成所有采样。
观察
当我在 CH4 回调中切换 GPIO 时，它如期触发。不过，为单个 ADC 实例运行 ADC 自检 需要约 13 µs （通过软件测量）。
问题
- S32K3xx ADC（算法 S + C）的自检持续时间（约 13 µs）是预期的吗？
- 我的计算结果
- 采样相位时间 (ST) = 23
- 每个比特的评估时间 = 4
- 数据处理时间 (DP) = 2
- 在不影响 25 µs 采集周期的情况下安排自检的最佳方法是什么？考虑到每个实例可能包含多个ADC通道组，是否有其他或更有效的方法可以触发信号ADC的自检？我目前使用的是 RTD 中的 Adc_Sar_Ip_SelfTest API，我想知道在初始化时执行自检更合适，还是在运行时执行自检更合适，还是两者都执行自检更合适。在时间、可靠性和整体系统性能方面，处理 ADC 自测试的最佳做法是什么？
- 在自测期间仅屏蔽 ADC0 触发信号（而不是冻结所有 BCTU 触发信号）是否是保持 ADC1 和 ADC2 运行的正确方法？
目标： 确保对 ADC0 进行定期自检，同时不干扰其他 ADC 的实时采样。
我附上了我的项目，你可以看一看。
s32k344
RTD_6.0.0
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根据60.3.17.2 自检部分：在 80 MHz ADC 时钟频率下，单个步骤耗时可达 1 µs。
请参见所附示例。实际上，我无法让每个实例的运行时间少于 14us。
对于功能安全应用，必须定期验证操作是否正确。但也要考虑到，ADC 自检函数应在驱动程序初始化后的任何时间调用，并且没有正在进行的转换。
当您暂停调试会话时，在 “表达式” 税务摊销收益中可以观察结果：g_FIFO1Resul t，它对应于 BCTU 列表测量值，同时 g _FIFO1Volts 对应的是以伏特为单位的转换。
希望这能解决您的问题。
如有更多问题，请帮助我创建一个新职位。