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是

UTEST（DCF）からHSEライフサイクル情報を取得する方法

現在は EOL 段階にあり、S/W 以外でメモリを読み取る方法はありません。
現在、S32K3 シリーズ MCU に取り組んでおり、HSE ライフサイクル (LC) 情報がどのように保存されるかを理解するために UTEST メモリ領域を調査しています。

以下の文書を確認しました。
RM758223-HSE-B ファームウェアリファレンスマニュアル v2.3
S32K312_HSE_サービス_API_リファレンス_マニュアル.pdf
AN13388_S32K3 メモリーズガイド
S32K3xx_DCF_クライアント.xlsx

ただし、公開ドキュメントには次の内容が記載されていません。
1. UTEST のどの DCF フィールドが HSE ライフサイクル (LC) の状態を表しますか。
2. 生の UTEST 値 (例: 0x1b0000040) が標準の HSE ライフサイクルコード (例: 0x04 CUST_DEL、0x08 OEM_PROD、0x10 IN_FIELD) にどのようにマッピングされるか。
3. HSE Get Attribute サービスを使用せずに UTEST から LC を直接読み取る公式の方法があるかどうか。

UTEST/DCF に保存されている LC 情報を正式に解釈する方法を明確にしていただけますか?

再開まで今しばらくお待ちください。

Re: How to obtain HSE Lifecycle information from UTEST (DCF)

ここに注意してください:

https://community.nxp.com/t5/S32K/S32K312-read-lifecycle-from-UTEST/mp/1982203

また、あなたの質問に対して私は次のことを付け加えたいと思います。

1、2) 明らかに公開文書化されていないようですが、DCM レジスタを確認すると、DCMLCC で現在の LC をチェックでき、DCMLCS はセクション 37.2.6 LC で説明されている LC スロットからの値を反映します。

レジスタ: 37.3.3LCおよびLC制御（DCMLCC）、37.3.4LCスキャンステータス（DCMLCS）

3) 上記のThreadで回答しました。