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カスタム RT1170 B で XIP ブート モードを FLEXSPI1 から FLEXSPI2 に変更した後のデバッグ モードの問題

NXPサポートチームの皆さん、こんにちは。

RT1170をベースにしたカスタムボードを使用しており、XIPブートモードをFLEXSPI1からFLEXSPI2に切り替えました。この変更を行った後、次のような必要なすべての変更が適用されたことを確認しました。

  • ピン配置の調整: FLEXSPI2に関連するすべてのピン構成を更新しました。
  • 周波数設定: XIP の適切なクロック周波数で FLEXSPI2 を設定します。
  • 追加の周辺機器構成:リファレンスマニュアルに記載されているすべての周辺機器とメモリの構成を確認。

問題点:

  • リリース・モードではシステムは正常に動作しますが、 デバッグ・モードを使用できません。FLEXSPI2 からブートすると、デバッグが期待どおりに初期化されません。
  • FLEXSPI2 に切り替えた後にこのモードに影響を与える可能性のある、デバッグに固有の追加の構成または設定はありますか?

この変更の影響を受ける可能性のあるメモリ マップ、クロック セットアップ、またはデバッグ インターフェイスの追加の設定、構成、または特定の領域についてアドバイスをいただけますか。デバッグ機能を適応させるために何が必要かについてのガイダンスをいただければ幸いです。

ご支援いただきありがとうございます


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‎11-21-2025 03:33 PM
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