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はい

LPDDR4 ストレステストは 3 つの周波数ポイントで失敗しますが、1 つの最高周波数ポイントで合格します

みなさん

私は現在、RAM-Stresstest用のSOC、RAM、およびソフトウェアの次の組み合わせを使用したボードの立ち上げに取り組んでいます。

- i.MX 8M Plus (1600MHz) + Micron LPDDR4 4GB (MT53D1024M32D4DS)

- DDR Stresstest "mscale_ddr_tool_v3.21"

私はNXP RPA Excelシートを使用して、対応する「.ds」ファイルを生成しましたStresstestプログラム用。

問題は次のとおりです。

テストの単一周波数として2000 MHzを選択すると、温度変動下でもストレステストがスムーズかつエラーなく実行されるのはなぜですか。ただし、同じパラメータセットを選択したときに失敗し、3つの周波数ポイントが有効になっているのはなぜですか。その場合、デフォルトの 200 MHz と 50 MHz もテストされます。

これは特に奇妙なことで、テスト対象の最初の周波数ポイントは2000MHzであり、2000MHZの周波数ポイントが使用される「memcpy SSN armv8_x32テスト」の最初の反復でテストはすぐに失敗する(?!?!)。

まとめ:

1)RPAシートの 同じパラメータセット が、最も高く、最もレイアウト/時間的に重要な周波数のみをテストするときには完璧に機能し、追加のはるかに低い周波数のテストポイントのみを有効にすると失敗するのはなぜですか?

どんな助けでも大歓迎です

ご挨拶

Niko

i.MX 8ファミリ | i.MX 8QuadMax (8QM) | 8QuadPlus

i.MX 8M | i.MX 8M Mini | i.MX 8M Nano

Re:LPDDR4ストレステストは3つの周波数ポイントで失敗しますが、1つの周波数で合格しますが、最も頻度が高い

Hello @Manuel_Salas ,

今は動いています!エルゴ私はうまくやっています、そしてあなたもそうすることを願っています:)

解決策は確かにテストツールの変更でした。

ありがとうございました！

Niko

Re:LPDDR4ストレステストは3つの周波数ポイントで失敗しますが、1つの周波数で合格しますが、最も頻度が高い

こんにちは@NikJur

お元気でいらっしゃることを願っています。

もう一度やり直してもらえますか、代わりに Configツールまたはmscaleツールを使用してくださいか?

Config Tools V15は私にとってうまく機能します。また、セクション4のコンフィグツールのユーザーガイドでは、DDRツールの使用方法について説明しています。

よろしくお願いいたします。

Salas.