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用示波器验证ADC转换率<meta http-equiv="Content-Type" content="text/html; charset=utf-8" />

本提示将演示如何在测试阶段验证 ADC 转换率(使用示波器)。


参考AN4373的“图1.采样过程中ADC输入端的电压下降”中描述的现象。

Voltage drops at ADC input during sampling process.png

如果选择的外部 RC 元件值太大,则会在 ADC 输入端观察到严重的电压扰动(电压下降/峰值)(见图 1)。在这种情况下,ADC 输入端的干扰源于 SAR ADC 固有的采样保持 (S/H) 电路的基本运行原理。虽然我们应该避免这种情况的发生,但是在测试阶段可以用示波器测量ADC转换率。


根据‘表 30。K64P144M120SF5的16位ADC工作条件,可知其最大ADC转换率为818.330 ksps。

16-bit ADC operating conditions.png

这里我使用 KDS3.2 和 Processor Expert 创建了一个示例(参见附件)。根据该表选择相同的配置后,我得到了几乎相同的 ADC 转换率。

ADC conversion rate 12bit 18mHz FRDM-K64F 818kHz.png

转换时间也满足参考手册中给出的公式。

Conversion time equation 12bit.png

现在让我们用示波器测量FRDM-K64F板上的ADC转换率。外接1.5KΩ电阻后,外部RC元件的值已经足够大,可以进行观察。

external RC components FRDM-K64F.png

FRDM-K64F connection.jpg

下图是用示波器观察到的波形,采样期间ADC输入端电压下降之间的频率约为818ksps。该试验结果与理论计算值一致。

ADC conversion rate 12bit 18MHz FRDM-K64F 818kHz oscilloscope.bmp

Freedom开发平台Kinetis K系列MCU
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最終更新日:
‎11-20-2025 05:14 AM
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